发光单元检测方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117934454B

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202410304466.4

    申请日:2024-03-18

    Abstract: 本发明公开了一种发光单元检测方法、装置、电子设备及存储介质,属于发光元件检测技术领域,该方法包括:获取成像系统中点光源的光强分布信息;根据所述光强分布信息,确定发光单元的光强响应信息;根据所述光强响应信息构建校正函数;基于所述校正函数对所述成像系统生成的检测图像进行校正处理,得到校正图像。本发明通过考虑毗邻效应在发光单元批量检测中的影响,实现了提升发光单元批量检测准确度的技术效果。

    多模态晶圆检测系统及方法

    公开(公告)号:CN117894706B

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN202410298422.5

    申请日:2024-03-15

    Abstract: 本发明公开了一种多模态晶圆检测系统及方法,属于晶圆检测技术领域。本发明多模态晶圆检测系统包括:检测模块、机械模块以及控制模块;所述机械模块,用于放置待检测晶圆样品;所述检测模块,用于对待检测晶圆样品进行外观检测、颜色检测以及电致发光检测的多模态检测;所述控制模块,用于在对待检测晶圆样品进行不同模态检测时,控制所述机械模块进行移动,以完成待检测晶圆样品的多模态检测,将晶圆级外观检测、光致发光检测和电致发光检测自由切换检测手段,并且能实现外观和颜色同时检测,降低整体设备的过检率与漏检率,提升下游制造良品率。

    光致发光检测系统及方法
    64.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117969465A

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202410362119.7

    申请日:2024-03-28

    Abstract: 本发明属于晶圆检测技术领域,公开了一种光致发光检测系统及方法。该方法包括:在获取到光致发光检测请求时,根据光致发光检测请求确定检测区域;根据检测区域和目标场强进行迭代计算,确定空间光调制器的调制相位;根据调制相位对所述检测区域进行光致发光检测。通过上述方式,能够生成任意目标形状的光致激发光进行照明,并调节照明区域内不同待检测芯片点所受照明亮度,并能实现对照明面的光强以及大小的快速切换,满足不同光致激发检测需求,同时对于大面积均匀场照面,在保持高能量利用率的前提下做到高均度照明,保证了在进行光致发光检测时的灵活性和高效性。

    发光单元检测方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117934454A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202410304466.4

    申请日:2024-03-18

    Abstract: 本发明公开了一种发光单元检测方法、装置、电子设备及存储介质,属于发光元件检测技术领域,该方法包括:获取成像系统中点光源的光强分布信息;根据所述光强分布信息,确定发光单元的光强响应信息;根据所述光强响应信息构建校正函数;基于所述校正函数对所述成像系统生成的检测图像进行校正处理,得到校正图像。本发明通过考虑毗邻效应在发光单元批量检测中的影响,实现了提升发光单元批量检测准确度的技术效果。

    多模态晶圆检测系统及方法

    公开(公告)号:CN117894706A

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202410298422.5

    申请日:2024-03-15

    Abstract: 本发明公开了一种多模态晶圆检测系统及方法,属于晶圆检测技术领域。本发明多模态晶圆检测系统包括:检测模块、机械模块以及控制模块;所述机械模块,用于放置待检测晶圆样品;所述检测模块,用于对待检测晶圆样品进行外观检测、颜色检测以及电致发光检测的多模态检测;所述控制模块,用于在对待检测晶圆样品进行不同模态检测时,控制所述机械模块进行移动,以完成待检测晶圆样品的多模态检测,将晶圆级外观检测、光致发光检测和电致发光检测自由切换检测手段,并且能实现外观和颜色同时检测,降低整体设备的过检率与漏检率,提升下游制造良品率。

    表格数据问答方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117390169B

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202311691157.9

    申请日:2023-12-11

    Abstract: 本发明涉及数据对话问答技术领域,尤其涉及表格数据问答方法、装置、设备及存储介质,所述方法包括:获取历史表格数据并提取其中的历史名称信息,以微调预构建的大语言模型;获取待处理表格数据并提取其中的待处理名称信息,将待处理名称信息输入至微调后的大语言模型中,得到三元关系预测结果;基于三元关系预测结果构建无向图,以获取元概念;基于待处理表格数据、三元关系预测结果和元概念构建知识图谱;获取实时反馈的问题并进行预处理,得到预处理信息,基于预处理信息匹配搜索所构建的知识图谱,根据匹配结果获取预设的问答大语言模型反馈的、问题的回答;本发明公开的方法,可提升大语言模型对表格数据的提取能力,减少大语言模型的幻觉。

    单分子器件探针进针装置、电学检测装置及电学检测装置的导通控制方法

    公开(公告)号:CN117825767A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202410252945.6

    申请日:2024-03-06

    Abstract: 本发明涉及电学检测技术领域,特别公开一种单分子器件探针进针装置、电学检测装置及电学检测装置的导通控制方法,其中,所述单分子器件探针进针装置包括基座、宏动机构及微动机构;所述宏动机构设于所述基座,所述微动机构设于所述宏动机构;所述微动机构安装有探针和单分子器件中二者之一,所述宏动机构安装有所述探针和所述单分子器件中二者之另一;所述宏动机构和所述微动机构运动,并带动所述探针和所述单分子器件相互靠近,以使所述探针与所述单分子器件接触导通。本发明技术方案无需设置高精度仪器和极端实验环境也能实现单分子器件探针进针的动作,进而降低单分子器件的电学检测难度。

    一种基于多模态光谱的食品产地溯源方法及其相关设备

    公开(公告)号:CN117745302A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311761667.9

    申请日:2023-12-20

    Abstract: 本申请属于食品检测技术领域,公开了一种基于多模态光谱的食品产地溯源方法及其相关设备,所述方法包括:获取食品样品的多种模态的单模态光谱数据;对各单模态光谱数据进行归一化处理;根据归一化处理后的各单模态光谱数据的各个维度的解释率,对归一化处理后的各单模态光谱数据进行降维处理,得到对应的降维光谱数据对归一化处理后的各单模态光谱数据计算各个维度的解释率,筛选具有高解释率的维度,进行降维处理,得到对应的降维光谱数据;把所有降维光谱数据进行拼接融合,得到融合光谱数据;把融合光谱数据输入预先训练好的识别模型,得到识别模型输出的产地识别结果;从而能够提高溯源结果的准确性和可靠性。

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