-
公开(公告)号：CN119534354A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202510089895.9
申请日：2025-01-21
Applicant: 季华实验室
IPC: G01N21/25 , G01N21/63 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本申请公开了一种材料掺杂检测方法、装置、电子设备及存储介质，涉及材料掺杂技术领域，包括：获取待检样品的掺杂体系信息，掺杂体系信息包括：主体材料信息、掺杂材料信息和掺杂标准信息，主体材料信息为主体材料与掺杂相关的信息，掺杂材料信息为掺杂进主体材料中的材料的信息，掺杂标准信息指掺杂成功后形成的掺杂体系的信息；获取待检样品在光致发光后的高光谱数据；基于高光谱数据和掺杂体系信息，得到待检样品的材料掺杂检测结果。本申请技术方案旨在解决如何在不损伤样品的前提下高效地检测出材料掺杂的结果的技术问题。
-
公开(公告)号：CN118408932B
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202410870052.8
申请日：2024-07-01
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种Micro‑LED检测设备及检测方法，属于Micro‑LED检测技术领域，该设备包括运动台、激光器、物镜、反射镜、采集器、半透半反镜、第一灰度相机、第二灰度相机。本申请提供的上述方案，在反射镜处于第一位置时，物镜成像后发出的光经过半透半反镜后，会分别进入到第一灰度相机和第二灰度相机中，后经过图像采集卡发送给计算机；在反射镜处于第二位置时，物镜成像后发出的光会经过反射镜后进入到采集器中，采集器通过标准光谱或色度对光图像进行标定，标定后的光图像经过图像采集卡发送给计算机，计算机再分析、计算标定后的光图像和经过灰度相机处理的光图像，从而实现Micro‑LED快速、高精度检测。
-
公开(公告)号：CN118640956B
公开(公告)日：2024-11-19
申请号：CN202411105170.6
申请日：2024-08-13
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种星上定标板及其制备方法、星上定标器件，属于航天遥感技术领域，星上定标板包括：基板，以及依次位于基板的入光侧的生长衬底、衰减层和保护层；衰减层包括层叠设置的掺杂层和隔断层，掺杂层和生长衬底接触；掺杂层中包括第一材料和第二材料，第一材料和第二材料之间的透过率至少相差10%。本申请解决了多孔板作为星上定标板微孔容易受到堵塞，导致保存困难的技术问题，且保护层能够抵抗星上定标工作环境下宇宙粒子和紫外辐照的侵蚀。
-
公开(公告)号：CN118584817B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202411052324.X
申请日：2024-08-02
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及MicroLED巨量转移技术领域，公开了一种巨量转移时二维驻波的控制方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：通过搭建偏振光源、偏振相机及相关光路对氛围介质中MicroLED载物面板的二维驻波进行检测；通过在MicroLED载物面板引入多位点的振动输入源及基于神经网络模型的智能优化算法，对氛围介质中的MicroLED载物面板振动过程产生的二维驻波进行精确控制，通过设计进化算法对振动数据进行优化并使用神经网络模型学习调优策略，完成对载物面板二维驻波进行优化，最终实现精确稳定的巨量转移振动控制。本发明有效解决了现有技术中仅通过单一振动频率输入或者固定的振动频率组合进行输入不能适应MicroLED目标背板尺寸结构变化，不能针对载物面板出现的驻波进行调整的问题。
-
公开(公告)号：CN117939308A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410298423.X
申请日：2024-03-15
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种偏振成像方法、装置、电子设备及存储介质，属于光学成像技术领域，该方法包括：获取偏振图像采集设备生成的原始偏振图像；根据所述偏振图像采集设备中的预设偏振方向，将所述原始偏振图像分解为多张遮挡图像，其中，各所述遮挡图像之间的偏振方向不同，各所述遮挡图像中的偏振方向相同；对各所述遮挡图像进行图像还原处理，得到目标偏振图像。本发明通过图像遮挡和图像还原处理，实现了提升偏振成像的图像质量的技术效果。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119534354B
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202510089895.9
申请日：2025-01-21
Applicant: 季华实验室
IPC: G01N21/25 , G01N21/63 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本申请公开了一种材料掺杂检测方法、装置、电子设备及存储介质，涉及材料掺杂技术领域，包括：获取待检样品的掺杂体系信息，掺杂体系信息包括：主体材料信息、掺杂材料信息和掺杂标准信息，主体材料信息为主体材料与掺杂相关的信息，掺杂材料信息为掺杂进主体材料中的材料的信息，掺杂标准信息指掺杂成功后形成的掺杂体系的信息；获取待检样品在光致发光后的高光谱数据；基于高光谱数据和掺杂体系信息，得到待检样品的材料掺杂检测结果。本申请技术方案旨在解决如何在不损伤样品的前提下高效地检测出材料掺杂的结果的技术问题。
-
公开(公告)号：CN118640956A
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202411105170.6
申请日：2024-08-13
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种星上定标板及其制备方法、星上定标器件，属于航天遥感技术领域，星上定标板包括：基板，以及依次位于基板的入光侧的生长衬底、衰减层和保护层；衰减层包括层叠设置的掺杂层和隔断层，掺杂层和生长衬底接触；掺杂层中包括第一材料和第二材料，第一材料和第二材料之间的透过率至少相差10%。本申请解决了多孔板作为星上定标板微孔容易受到堵塞，导致保存困难的技术问题，且保护层能够抵抗星上定标工作环境下宇宙粒子和紫外辐照的侵蚀。
-
公开(公告)号：CN117934454B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202410304466.4
申请日：2024-03-18
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种发光单元检测方法、装置、电子设备及存储介质，属于发光元件检测技术领域，该方法包括：获取成像系统中点光源的光强分布信息；根据所述光强分布信息，确定发光单元的光强响应信息；根据所述光强响应信息构建校正函数；基于所述校正函数对所述成像系统生成的检测图像进行校正处理，得到校正图像。本发明通过考虑毗邻效应在发光单元批量检测中的影响，实现了提升发光单元批量检测准确度的技术效果。
-
-
公开(公告)号：CN117934454A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410304466.4
申请日：2024-03-18
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种发光单元检测方法、装置、电子设备及存储介质，属于发光元件检测技术领域，该方法包括：获取成像系统中点光源的光强分布信息；根据所述光强分布信息，确定发光单元的光强响应信息；根据所述光强响应信息构建校正函数；基于所述校正函数对所述成像系统生成的检测图像进行校正处理，得到校正图像。本发明通过考虑毗邻效应在发光单元批量检测中的影响，实现了提升发光单元批量检测准确度的技术效果。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
23
records
(took 0.029 seconds)
