任意切割式高压LED器件的制作方法

    公开(公告)号:CN103236474A

    公开(公告)日:2013-08-07

    申请号:CN201310121433.8

    申请日:2013-04-09

    Abstract: 一种任意切割高压LED器件的制作方法,包括以下步骤:步骤1:在衬底上形成半导体外延结构,该半导体外延结构包括衬底、N型化合物半导体层、有源层和P型化合物半导体层;步骤2:对所述半导体外延结构表面图形化形成多个重复的发光芯片单元,蚀刻所述半导体外延结构至衬底表面形成隔离槽,所述隔离槽将所述每个发光芯片子单元隔离;步骤3:在每个发光芯片子单元的侧壁形成绝缘介质层;步骤4:蒸镀金属,并图形化形成p和n电极以及互连线,互连线将发光芯片子单元电互连;步骤5:在发光芯片子单元之间形成划片沟槽;沿着划片沟槽将衬底和半导体外延结构分割成多个芯片单元,每个芯片单元包含不同数量的发光芯片子单元,所述芯片单元内的发光芯片子单元之间通过互连线串联。

    提高亮度的GaN基LED芯片的制作方法

    公开(公告)号:CN103165780A

    公开(公告)日:2013-06-19

    申请号:CN201310067946.5

    申请日:2013-03-04

    Abstract: 一种提高亮度的GaN基LED芯片的制作方法,包括如下步骤:步骤1:取一半导体衬底;步骤2:采用金属有机化学气相沉积的方法,在半导体衬底上依次生长低温GaN缓冲层、不掺杂GaN层、N-GaN层、多量子阱发光层和P-GaN层,形成GaN外延片;步骤3:在GaN外延片表面的一侧向下刻蚀,刻蚀深度到达N-GaN层,在N-GaN层的一侧形成台面;步骤4:在GaN外延片的上表面蒸镀ITO薄膜;步骤5:在P-GaN层上的ITO薄膜上光刻腐蚀出一凹槽;腐蚀掉多量子阱发光层和P-GaN层侧壁上的ITO薄膜,保留台面上的ITO薄膜;步骤6:在ITO薄膜上的凹槽内制作P电极,在台面上的ITO薄膜上制作N电极,完成制备。

    氮化镓基3D垂直结构发光二极管的制作方法

    公开(公告)号:CN102969411A

    公开(公告)日:2013-03-13

    申请号:CN201210505932.2

    申请日:2012-11-30

    Abstract: 一种氮化镓基3D垂直结构发光二极管的制作方法,包括:在衬底上依次生长N型掺杂层、多量子阱发光层、P型掺杂层和ITO层;减薄衬底;步骤3:在ITO层上面蒸度氧化硅保护膜;在衬底背面蒸度二氧化硅膜,并做出图形,腐蚀掉二氧化硅膜,形成外延片;刻蚀掉衬底上一侧的N型掺杂层、多量子阱发光层、P型掺杂层和ITO层,形成台面;将刻蚀后的外延片衬底放入浓硫酸和浓磷酸混合液中腐蚀,在衬底的背面腐蚀出沟槽;用激光器在台面上打通孔;在衬底上的N型掺杂层、多量子阱发光层、P型掺杂层和ITO层的侧壁及通孔的侧壁制作绝缘层;在绝缘层上制作导电层,该导电层便覆盖部分ITO层;在ITO层的中心处制作P型电极,该P型电极与导电层连接;在衬底背面蒸度N电极,完成制备。

    应用于LED器件分离的多焦点飞秒激光划片方法

    公开(公告)号:CN102886609A

    公开(公告)日:2013-01-23

    申请号:CN201210309067.4

    申请日:2012-08-27

    Abstract: 一种应用于LED器件分离的多焦点飞秒激光划片方法,包括:步骤1:将制备好的LED器件固定在水平移动平台上,并位于CCD成像设备的成像中心;步骤2:在飞秒激光器的激光光路上放置多个透镜,将激光分成多个焦点;步骤3:将多个焦点聚焦在LED器件衬底内部不同深度的部位;步骤4:横向和纵向移动水平移动平台,完成飞秒激光划片;步骤5:对LED器件进行裂片,得到单个LED器件。本发明可以达到不同光束同时切割蓝宝石衬底,实现一次切割、多处划痕的效果,从而实现对较厚蓝宝石衬底的低损伤切割,以达到发光二极管的器件分离。

    MicroLED发光阵列结构
    66.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114551698A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202210183724.9

    申请日:2022-02-25

    Abstract: 本公开提供了一种MicroLED发光阵列结构,该结构包括:多个MicroLED像素单元,成行线和列线互联的阵列结构排列;所述MicroLED像素单元包括:衬底;MicroLED像素单元基片,形成于所述衬底上;以及吸收层,形成于所述衬底上,位于所述MicroLED像素单元基片两侧,并高于所述MicroLED像素单元基片的表面。

    倒装LED红光器件结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN111048496B

    公开(公告)日:2021-08-31

    申请号:CN201811194251.2

    申请日:2018-10-12

    Abstract: 本发明公开了一种倒装LED红光器件结构及其制备方法,结构包括:倒装蓝光LED芯片和位于所述倒装蓝光LED芯片上的红光OLED结构。其中,倒装蓝光LED芯片结构包括:蓝宝石衬底上依次生长缓冲层、N‑GaN层、多量子阱发光层、P‑GaN层;红光OLED结构包括:在倒装蓝光LED芯片背面依次生长空穴传输层、掺杂红光掺杂剂的电子传输层、不掺杂掺杂剂的电子传输层和外层保护层。制备方法包括:制备倒装蓝光LED芯片;制备红光OLED结构;倒装LED红光器件倒装焊到电路板上。本发明采用倒装蓝光LED光致红光OLED发光的方法实现器件制备,该器件制备工艺简单,可以有效解决倒装红光LED器件制备工艺复杂、成品率低、成本高等问题。

    倒装OLED器件及其制备方法
    68.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109216588A

    公开(公告)日:2019-01-15

    申请号:CN201810999692.3

    申请日:2018-08-29

    Abstract: 一种倒装OLED器件及其制备方法,该倒装OLED器件包括蓝宝石衬底;隔离开的氧化铟锡电极层,沉积于衬底上;有机功能层,生长于正氧化铟锡电极层上;金属电极层,位于有机功能层上,一侧与负氧化铟锡电极层相连;保护层,位于OLED的功能层和金属电极层外侧;以及加厚电极,位于隔离开的氧化铟锡电极层的两端。本发明的倒装OLED器件制备工艺简单,解决了传统TFT驱动OLED显示屏的尺寸限制,可制备出大尺寸OLED显示屏;可通过倒装焊方式直接焊接到电路基板上,在大尺寸显示领域有明显的优势;倒装结构OLED芯片可与mini LED显示兼容。

    芯片尺寸级晶圆发光二极管的制作方法

    公开(公告)号:CN103579423B

    公开(公告)日:2016-03-09

    申请号:CN201310585931.8

    申请日:2013-11-19

    Abstract: 一种芯片尺寸级晶圆发光二极管的制作方法,包括:在衬底的表面打两个通孔;在衬底的正反两面蒸镀二氧化硅膜保护膜;将衬底放入浓硫酸和浓磷酸混合液中腐蚀,清洗;去掉衬底表面的二氧化硅膜保护膜;在衬底的一面依次生长N型掺杂层、多量子阱发光层、P型掺杂层和ITO层;在ITO层上一侧向下刻蚀,形成台面,该台面的中心处有一通孔;在台面的通孔的上面制作N型电极;在台面另一侧的ITO层上的通孔上制作P型电极;在台面另一侧的ITO层上的通孔的内壁制作绝缘层;在衬底背面及两个通孔内蒸镀铬金引导层;在衬底背面旋转涂覆光刻胶并做出图形,腐蚀铬金引导层。本发明可以降低了发光二极管的封装成本,特别适合大尺寸功率型发光二极管的封装应用。

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