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公开(公告)号:CN210862560U
公开(公告)日:2020-06-26
申请号:CN201921931037.0
申请日:2019-11-11
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01B11/24 , G01B11/255
Abstract: 本专利公开了一种改进型奥夫纳尔检验超大口径凹非球面镜的光学系统。由检测设备发出光线经第一补偿透镜和第二补偿透镜透射,至待检凹非球面镜自准后返回。光学系统选用大入射光线孔径角,第一补偿透镜承担较大的非球面法线像差,大大提高了补偿能力,在小口径比条件下实现了非球面球差的平衡;补偿器口径与被检非球面口径比非常小,仅为0.025;采用两片式补偿器结构,补偿透镜数量少、全球面设计,打破了为了检验大口径非球面将补偿系统非球面镜化的设计局限,方案简单,加工周期更短;检验光路像质优良,波像差达到PV值优于0.1λ,适合高精度的非球面面形加工。改进型奥夫纳尔检验可以实现14m超大口径、1:1.43超大相对孔径的非球面镜检验。
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公开(公告)号:CN208902974U
公开(公告)日:2019-05-24
申请号:CN201821638592.X
申请日:2018-10-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本专利公开了一种基于施密特望远镜和奥夫纳分光的高光谱成像仪光学系统。其特征在于:地面目标的一个条带经过改进型施密特望远镜汇聚成像在焦面位置狭缝上,再经自由曲面OFFNER光谱仪色散后分波长成像在面阵探测器上,随着平台运行推扫获得图谱合一的图像。本专利解决了现有大视场快焦比高光谱成像仪光路复杂、非球面众多、制造和装调困难的问题。采用改进型施密特式望远镜,仅含有一个非球面,结构简单、加工难度低,具有像质优良、畸变小、中心遮拦比小特点;采用自由曲面凹面镜光谱仪形式,避免使用大口径透镜,实现了大视场像差校正。因此本专利适合大口径宽视场快焦比小畸变高分辨率的高光谱成像领域,极大程度降低仪器的研制难度。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN208902950U
公开(公告)日:2019-05-24
申请号:CN201821335575.9
申请日:2018-08-20
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本专利涉及一种镜头对焦及光圈调节成像装置,包括光学镜头、调节件、对焦套筒、固定板、金属盒、驱动电路板、成像探测器;所述调节件设有凸台结构,用于与光学镜头的凹槽结构旋转扣合连接;所述的对焦套筒内螺纹与光圈调节件的外螺纹配合,用于调节对焦;所述的固定板与金属盒通过四个螺钉连接,用于固定对焦套筒;所述的驱动电路板,用于驱动成像探测器。与现有技术相比,本专利既可以调节光学镜头光圈大小,又可以实现镜头对焦;结构简单,拆卸方便,制作成本低,稳定可靠。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN205378049U
公开(公告)日:2016-07-06
申请号:CN201620030246.8
申请日:2016-01-13
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: H04N5/374 , H04N5/3745 , H04N5/378
Abstract: 本专利公开了一种CMOS图像传感器像元合并读出电路结构。该结构包括列总线,列放大器,列读出复位开关、列选通开关,列合并电容,列合并控制开关,列合并总线,列合并输出开关,行合并电容,合并复位开关,行合并控制开关,行合并总线及输出放大器。系统工作时,由列总线依次选取待合并像元所在行,通过列合并控制开关和行合并控制开关完成行列像元合并操作,最终经输出放大器输出像元合并后的信号。本专利的优点在于实现了CMOS图像传感器任意规模的像元合并功能,同时提升了信噪比和帧频。
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公开(公告)号:CN218976565U
公开(公告)日:2023-05-05
申请号:CN202223065081.2
申请日:2022-11-18
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: H02M3/07
Abstract: 本专利属于集成电路技术领域,具体涉及一种高能效的电荷泵电路。其中,高能效的电荷泵电路,包括:第一晶体管,栅极连接第二控制信号,源极连接电源电位;第二晶体管,栅极连接第一控制信号;第一电容,上极板连接第一晶体管的漏极、第二晶体管的源极,下极板连接地电位;第三晶体管,栅极连接第二控制信号;第二电容,上极板连接第二晶体管的漏极、第三晶体管的漏极并作为输出端,下极板连接地电位;第四晶体管,栅极连接第一控制信号,源极连接地电位;第三电容,上极板连接第三晶体管的源极、第四晶体管的漏极,下极板连接地电位。本专利的第二晶体管和第三晶体管的过驱动电压均减小,大大提高了电荷泵电路的能效。
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公开(公告)号:CN218976564U
公开(公告)日:2023-05-05
申请号:CN202223064704.4
申请日:2022-11-18
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本专利属于集成电路技术领域,具体涉及一种升压电路及其控制方法。其中,升压电路,包括一时钟信号和一正反馈结构;升压电路还包括:一第一反相器,输入端连接时钟信号;一第二反相器,输入端连接第一反相器的输出端;一第三晶体管,栅极连接第一反相器的输出端,源极经正反馈结构连接第二反相器的输出端,漏极作为升压电路的输出端;一第五晶体管,栅极连接第一反相器的输出端,源极连接地电位;一第六晶体管,栅极连接电源电位,源极连接第五晶体管的漏极,漏极连接第三晶体管的漏极并作为升压电路的输出端。本专利通过简单的结构,使得升压电路实现保持和采样两个工作状态,在低压高速采样和需要升压的电路设计中拥有较为广阔的应用前景。
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公开(公告)号:CN211669359U
公开(公告)日:2020-10-13
申请号:CN201921983830.5
申请日:2019-11-18
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01S7/497
Abstract: 本专利公开了一种基于测角法的长焦距激光三维成像仪畸变测试装置。照明平行光管焦面星点,经平行光管准直,光线入射到激光三维成像仪光学系统后,聚焦到成像探测器上,形成星点影像,转动测高仪支撑转台,获取一系列星点坐标与转台角度的对应关系。测试装置采用高精度的光电自准直仪监视转台转动角度,大大提高了测角精度;建立畸变数学模型,编制专用软件处理质心位置和数据处理,排除转台抖动、气流等环境因素引入误差。本专利解决了传统畸变测试装置在长焦距激光三维成像仪畸变测试中数据不稳定,从而影响畸变测试精度的问题。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN205719985U
公开(公告)日:2016-11-23
申请号:CN201620319450.1
申请日:2016-04-15
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01N21/71
Abstract: 本专利涉及一种LIBS光谱探测及显微成像的多功能系统,其主要特征在于:将一片施密特校正板插入主镜与被测物体的光路中,施密特校正板的一面设计成高次非球面,施密特校正板最主要的作用是校正主次镜产生的球差,其不仅使得激光聚焦光斑直径变得更小,还可以使得该LIBS系统具有光谱探测和显微成像的双重功能。
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公开(公告)号:CN214337890U
公开(公告)日:2021-10-01
申请号:CN202120210134.1
申请日:2021-01-26
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: H03M1/34
Abstract: 本专利涉及一种工作模式可编程的全动态比较器,全动态比较器Comparator分别设有时钟信号接口CLK和CLKB、输入端电压接口VIP和VIN、工作模式控制信号VN和VNB、输出信号接口OUTP和OUTN,Comparator由预放大器Pre_AmpSA和动态锁存器SA‑Latch组成,Pre_AmpSA一端分别连接VIP、VIN、VN、VNB、CLK,另一端通过信号接口op和on分别连接SA‑Latch,SA‑Latch分别连接CLKB、OUTP、OUTN。本专利工作模式可编程、灵活选择其工作在低噪声模式或者低功耗模式、低功耗、低噪声。
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公开(公告)号:CN211696888U
公开(公告)日:2020-10-16
申请号:CN201921931150.9
申请日:2019-11-11
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本专利公开了一种反射长焦望远镜装调中测量焦距的刀口装置。在大口径望远镜装调过程中,采用一个带有可读数的高精度五维调整架的刀口装置,附带装调过程中的用到的激光干涉仪和光电自准直仪,实现了在大口径反射式长焦望远镜装调过程中高精度测试望远镜系统的焦距,解决了传统大口径反射式长焦望远镜装调过程中无法精确控制主次镜焦距问题,大大提高了装调精度与光校效率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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