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公开(公告)号：CN106017689A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610543229.9
申请日：2016-07-11
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01J4/00
Abstract: 本发明提出了一种基于声光调制的原子自旋进动差分偏振检测装置，该检测装置包括了检测激光器、起偏器、碱金属气室、半波片、声光调制器、光阑、偏振分光棱镜、两个光电探测器、锁相放大器和函数发生器。与现有技术相比，本发明通过在差分偏振检测的基础上对检测光信号施加声光调制，发挥了声光调制器体积小、温度效应和应力效应小等优势，具有较高的灵敏度和较好的稳定性，实现了在高噪声背景下检出、放大低频信号，有效地提高系统测量精度和抗干扰能力，可服务于未来超高灵敏原子自旋陀螺仪和原子自旋磁强计的小型化和集成化。
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公开(公告)号：CN105492889A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201480047682.X
申请日：2014-05-13
Applicant: 韩国标准科学研究院
IPC: G01N21/17
CPC classification number: G01N21/211 , G01J4/00 , G01J4/04 , G01J2004/001 , G01N2021/213 , G01N2201/0683 , G01N2201/11
Abstract: 提供一种光学元件旋转类型的穆勒矩阵椭圆偏振仪，其用于解决由于在根据现有技术的能够测量任何样品的穆勒矩阵的一些或所有元素的双光学元件旋转类型的穆勒矩阵椭圆偏振仪中光源的剩余偏振、光检测器的偏振依赖性、高次项的傅立叶系数的测量值而引起的测量准确性和测量精度的问题。
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公开(公告)号：CN103226094A
公开(公告)日：2013-07-31
申请号：CN201310018020.7
申请日：2013-01-17
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G01N21/21
CPC classification number: G01B11/26 , G01J4/00 , G01N21/21 , G01N33/025 , G01N33/143
Abstract: 光学测定装置和光学测定方法。在第1光学测定装置（1A）中，从光源（10）射出的光在偏振光部（20）中被设为线偏振光，并入射到被检体（A）。透过被检体（A）的透射光被正交分离部（30）正交分离，被正交分离部（30）正交分离的光被两个受光部（40（40A、40B））接收。然后，通过控制部（100）判定透射光的光量，使用由透射光量判定部判定的光量对受光部（40）接收的受光电平之差进行归一化，然后，通过旋光角计算部（150）计算旋光角。
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公开(公告)号：CN103175553A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201110192355.1
申请日：2011-06-30
CPC classification number: G01J4/00 , G01C19/72 , G01J4/04 , G02B6/2793
Abstract: 本发明提出以量测光纤或光纤组件等效光路，并加以补偿的方式，使得每个光纤或光纤组件的特性如自由空间(Free Space)一般，以提升光纤或光纤组件的复制性与稳定性。理论计算由缪勒-史托克矩阵(Muller-Stokes Matrix)偏光仪所得出的结果进行分析，再计算出光纤或光纤组件的等效琼斯矩阵与转成单位矩阵所需的补偿。光纤或光纤组件的补偿方式可加组件如可变延迟器(variable retarder)、半玻片(half-wave plate)等，或同等功能的极化控制器(polarization controller)。光纤或光纤组件的补偿亦可不加组件如扭转部份光纤制造等效的补偿效应；或其它方式使得补偿后的光纤或光纤组件等效光路为一单位矩阵(unit matrix)，如同自由空间一般。此项创新不仅大幅提升光纤及光纤组件的复制性，亦可大幅加快使用光纤与光纤组件的光纤传感器(如光纤陀螺仪等)的光路优化仿真演算速度。
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公开(公告)号：CN101008792A
公开(公告)日：2007-08-01
申请号：CN200710004730.9
申请日：2007-01-26
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 塩出吉宏
IPC: G03F7/20 , G01J4/00 , H01L21/027
CPC classification number: G03F7/706 , G01J4/00 , G01J2009/0261 , G03F7/70566
Abstract: 本发明涉及测量方法。一种用于将具有不同偏振方向的多个线性偏振光束照射到目标光学系统上并用于测量目标光学系统的包含双折射量R和快轴Φ的偏振特性的方法包括以下步骤：将具有偏振方向角θ的线性偏振光束照射到目标光学系统上，并获得已透过目标光学系统的光束的重心量P；以及根据P＝－R·cos(2θ－Φ)或P＝R·cos(2θ－Φ)获得双折射量R和快轴Φ。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1668911A
公开(公告)日：2005-09-14
申请号：CN03816922.3
申请日：2003-06-19
Applicant: 科学研究国家中心 , 皮埃尔与玛丽·居里大学
CPC classification number: G01N21/211 , G01J4/00
Abstract: 本发明涉及一种支座，用于采用波长为λ、角度为θ0的入射会聚非相干照明，在正交偏振片之间观测在折射率为n0的介质(3)中的置于所述支座邻近处的物体。所述支座包括复折射率为n2的基片(1)和复折射率为n1、厚度为e1的涂层(2)。根据本发明，涂层(2)的厚度值e1具有2％的不确定度，因此：本发明还涉及结合所述支座的观测装置。
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公开(公告)号：CN1265737A
公开(公告)日：2000-09-06
申请号：CN98807726.4
申请日：1998-08-06
Applicant: 罗伯特·博施有限公司
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01B11/065 , G01J4/00
Abstract: 本发明涉及一种用于测定一个基底上覆盖层厚度的椭圆计－测量装置。具有一个发出入射光(9)的光源(3),一个将偏振化的入射光(9)导至基底的照射点(P)处的发射镜组,以及一个接受镜组,后者将基底的照射点(P)处形成的反射光(10)导至一个光接受装置(5.7)、具有一个检偏振器(5.4),其中,入射光(9)与检偏振器(5.4)的偏振方向随时间相互相对改变,由此产生的强度变化被借助一个数据处理装置(7)用来确定覆盖层厚度。简便的操作和覆盖层厚度的准确测量,即使在难于接近并且曲率不同的被测物体上也能实现。这是由于设置了一个角度测量装置(5.7,7.1),通过它可获得反射光束(10)相对于基底上照射点(P)处切平面的角度(β),而覆盖层厚度能够借助于数据处理装置(7)根据测得的角度(β)来确定出。
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公开(公告)号：CN1205077A
公开(公告)日：1999-01-13
申请号：CN97191384.6
申请日：1997-08-15
Applicant: 自动精密公司
IPC: G01J4/00
Abstract: 一个六轴激光测量系统(300),包括一个新颖的5－D测量装置和精密的激光流动探测器系统(100),5－D系统具有一个激光头(102)和探测器座(302)对纵倾,横摆、x、y、z位移进行测量,激光滚动探测器(100)利用偏振棱镜(104),例如Glan-Thompson棱镜,以及至少二个光探测器(D1,D2,D3,D4),一束线性偏振激光束进入棱镜(104),光束被分成二束偏振分量,其强度随着探测器(104)相对偏振光束的滚动取向而改变,将二个探测器(D1,D2)的输出分别连接至提供滚动输出的高增益差分放大器(108)的正和负输入端。
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公开(公告)号：CN109632102A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201910141102.8
申请日：2019-02-26
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01J4/00
Abstract: 本发明涉及一种基于旋转偏振片的红外偏振成像测量装置，包括红外光学镜头、多方向起偏单元、红外焦平面探测器和控制单元，所述红外光学镜头对目标场景的偏振光进行调整获得探测光束；多方向起偏单元通过改变对探测光束的起偏方向，获得不同起偏方向偏振光束；红外焦平面探测器对不同起偏方向偏振光束成像，获得不同起偏方向偏振光束的红外强度图像并输出；所述控制单元用于控制多方向起偏单元顺序变换起偏方向，使红外焦平面探测器能够以预定帧速率获得对应于顺序变换起偏方向的不同起偏方向偏振光束的红外强度图像。本发明可用于运动或变化目标场景的测量。
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