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公开(公告)号：CN102156199A
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN201110035213.4
申请日：2011-02-09
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: G01P13/00
Abstract: 本发明公开了能够使用可以用于代替加速度传感器、角速度传感器的廉价的检测器的运动状态检测方法和运动状态检测装置。该运动状态检测方法使用检测导通状态和非导通状态中的任一状态的检测器，其包括：第一处理，测量第一次数或第二次数中的任一个，该第一次数是每个单位时间内从所述导通状态向所述非导通状态变化的次数，该第二次数是每个所述单位时间内从所述非导通状态向所述导通状态变化的次数；及第二处理，将所述第一次数和所述第二次数中的任一个作为变更判断值，并根据所述变更判断值进行所述单位时间的长度的改变，根据每个所述单位时间内的所述导通状态的时间比例或者每个所述单位时间内的所述非导通状态的时间比例来检测运动状态。
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公开(公告)号：CN103226094A
公开(公告)日：2013-07-31
申请号：CN201310018020.7
申请日：2013-01-17
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G01N21/21
CPC classification number: G01B11/26 , G01J4/00 , G01N21/21 , G01N33/025 , G01N33/143
Abstract: 光学测定装置和光学测定方法。在第1光学测定装置（1A）中，从光源（10）射出的光在偏振光部（20）中被设为线偏振光，并入射到被检体（A）。透过被检体（A）的透射光被正交分离部（30）正交分离，被正交分离部（30）正交分离的光被两个受光部（40（40A、40B））接收。然后，通过控制部（100）判定透射光的光量，使用由透射光量判定部判定的光量对受光部（40）接收的受光电平之差进行归一化，然后，通过旋光角计算部（150）计算旋光角。
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公开(公告)号：CN102914368A
公开(公告)日：2013-02-06
申请号：CN201210272524.7
申请日：2012-08-01
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01J4/04 , G01N21/19 , G01N21/21 , G01N2201/068
Abstract: 偏振状态测定装置以及偏振状态测定方法，光学装置（3）具有对透过光进行检测并射出的检光部（314），该透过光是从光源（300）射出并由第2偏振部（308）进行转换后的线偏振光透过被检体（S）后的光。并且光学装置（3）具有；对来自检光部（314）的出射光进行垂直分离的垂直分离部（316）、和接收由垂直分离部（316）进行垂直分离后的光的受光部（320）。运算装置将旋转控制信号输出到旋转装置（330），以使旋转面与透过光的光路垂直的方式对检光部（314）进行旋转控制。运算装置使用在检光部（314）的旋转中由受光部（320）接收被垂直分离部（316）垂直分离后的光而得到的强度，来测定透过被检体（S）的透过光的偏振状态。
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公开(公告)号：CN102193003A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201110038654.X
申请日：2011-02-15
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G01P15/135
Abstract: 本发明提供了一种加速度计算方法和加速度计算装置，其提供了代替加速度传感器和角速度传感器的功耗更小的传感器。本发明通过加速度计算方法来计算加速度，该方法采用包括第一电极、与所述第一电极相对设置的第二电极、以及设置在由所述第一电极和所述第二电极组成的一对电极之间用于使所述一对电极处于导通状态或非导通状态的任一状态的导电体的传感器部，该方法包括：计算表示单位时间内的所述导通状态的指标值的第一处理；以及根据规定时间内的所述指标值的平方和计算加速度的第二处理。
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公开(公告)号：CN102162817A
公开(公告)日：2011-08-24
申请号：CN201110038002.6
申请日：2011-02-14
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G01P15/135
CPC classification number: G01P15/135 , G01P13/00
Abstract: 本发明提供一种运动状态检测方法以及运动状态检测装置，用于替代现有的加速度传感器和角速度传感器。其使用具有相对配置、且相互位置关系固定的一对电极以及存在于上述一对电极之间、使上述一对电极处于导通状态或者非导通状态之一的可动球状导电体的传感器，计算根据单位时间内的上述导通状态的时间所占的比例而确定的第一电平值与第二电平值，在根据第一电平值的平方和而算出的第一检测值小于等于第一规定值时，将第一检测值作为测量值，当第一检测值大于第一规定值时，将根据上述第二电平值的平方和而算出的第二检测值作为测量值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1244100C
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：CN01801854.8
申请日：2001-06-28
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G11B7/26 , G11B7/0045
CPC classification number: G11B7/261 , G11B7/00718 , G11B7/00745
Abstract: 这是一种可以高品质而且平衡良好地对沟槽、沟槽记录道上的前置坑群、脊背记录道上的前置坑群进行激光加工的光盘原盘的加工方法。把光偏向器装载到加工前置坑群的激光光学系统的光路上，而且对之进行调整，使得前置坑群加工用激光光束落射到沟槽记录道与脊背记录道的大体上中央。然后，用光偏向器，对于该激光光束施行偏向量同一且方向相反的偏向以加工两个前置坑群。借助于激光功率的独立控制，对因偏向方向的不同引起的衍射效率之差进行修正。
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公开(公告)号：CN1383552A
公开(公告)日：2002-12-04
申请号：CN01801854.8
申请日：2001-06-28
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G11B7/26 , G11B7/0045 , G03F7/20
CPC classification number: G11B7/261 , G11B7/00718 , G11B7/00745
Abstract: 这是一种可以高品质而且平衡良好地对沟槽、沟槽记录道上的前置坑群、脊背记录道上的前置坑群进行激光加工的光盘原盘的加工方法。把光偏向器装载到加工前置坑群的激光光学系统的光路上,而且对之进行调整,使得前置坑群加工用激光光束落射到沟槽记录道与脊背记录道的大体上中央。然后,用光偏向器,对于该激光光束施行偏向量同一且方向相反的偏向以加工两个前置坑群。借助于激光功率的独立控制,对因偏向方向的不同引起的衍射效率之差进行修正。
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公开(公告)号：CN1211334A
公开(公告)日：1999-03-17
申请号：CN97192320.5
申请日：1996-12-16
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 山田英明
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/26 , G11B7/261 , G11B20/10194
Abstract: 本发明的记录装置的坑增益选择电路把相应于坑长的振幅量变换为增益数据,通过时序调整电路35输出到坑记录信号生成电路39。生成电路39选择与坑信号长相应的增益数据,变换成模拟信号。沟修正值选择电路41按照坑长数据变换为沟修正值、通过时序调整电路45输出到沟修正信号生成电路47。生成电路47求出沟信号修正量,变换为模拟信号,输出到减法器51。减法器51从模拟信号减去上述模拟信号。相当于由坑记录用束的旁瓣在沟记录用束重叠的功率的功率只在刻坑时抵消。这样,即使进行物理上的高密度化也能够提供能在再生时获得坑和沟合适信号的光盘产品化的记录装置。
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公开(公告)号：CN102288939A
公开(公告)日：2011-12-21
申请号：CN201110124756.3
申请日：2011-05-13
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 山田英明
IPC: G01S5/04
CPC classification number: H04B7/086 , H04B17/309
Abstract: 一种电波到达角度检测装置及电波到达角度检测方法，该电波到达角度检测装置具备：第一接收天线；第二接收天线，分离小于信号波的波长的距离C；振荡器，输出与信号波相同频率的振荡波；第一乘法器，通过将第一信号波W1和振荡波相乘而输出第一混合波；第一滤波器，提取第一混合波所含的第一直流成分；第二乘法器，通过将第二信号波W2和振荡波相乘而输出第二混合波；第二滤波器，提取第二混合波所含的第二直流成分；以及到达角度计算部，根据第一直流成分和第二直流成分计算第一信号波W1与第二信号波W2之间的相位差Δλ，并根据相位差Δλ和距离C计算信号波的到达角度θ。
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公开(公告)号：CN1247623A
公开(公告)日：2000-03-15
申请号：CN98802575.2
申请日：1998-01-13
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 山田英明
CPC classification number: B23K26/04 , G11B7/0908 , G11B7/261
Abstract: 本发明的记录装置,进行如下的操作。即,将PD81在光学基座上定位于规定位置,停止记录母盘110的旋转,驱动聚焦用激光器73,并由光头滑动块控制电路101将光头77定位在最佳位置。然后,使母盘110转动,并起动聚焦伺服电路103,由聚焦微调电路99以与预测最佳聚焦位置数据对应的PD81的微小位移量使PD81在左右方向进行微小移动。由于记录母盘110的旋转引起的摆振和上述微小移动,从PD81的2个输出端子输出的电压信号的差将发生变化,所以,差动放大器103a将记录透镜7a沿上下方向移动几μm,直到将误差信号调整为0。将此时的数字显示器93的数值信息与上述聚焦位置数据进行比较,如两者一致,则将上述聚焦位置数据作为最佳聚焦位置数据并将其用于最佳聚焦位置的初始设定。当不一致时,则进行重写而将数值信息作为最佳聚焦位置数据。这样,通过将最佳聚焦位置数据数值化后使用,可以使与记录母盘的类型对应的最佳聚焦位置的初始设定作业容易进行。
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