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公开(公告)号：CN108007574A
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201711145297.0
申请日：2017-11-17
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01J4/00 , G01J2004/001
Abstract: 本发明公开了一种分辨率可调型快照式图像光谱线偏振探测装置，主要解决现有技术受时间分辨率和探测方位角限制及光通量低的问题。其包括前置物镜组、微透镜阵列、准直镜组、偏振模块、色散模块、成像镜组和CCD探测器，这些部件沿主光轴方向依次摆放。入射光经前置物镜组成像于微透镜阵列处，图像采样后通过准直镜组变为平行光，通过偏振模块进行偏振光谱调制，出射光经过色散模块及成像镜组后，CCD探测器快照一帧获得目标偏振光谱调制图像，利用傅里叶变换及频域滤波方式，实现目标图像、光谱和线偏振信息的实时一体化获取。本发明能实现目标光谱及空间分辨率探测的多档调节，利于达到最佳探测状态且能量利用率高，可用于对目标的实时监测。
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公开(公告)号：CN107014493A
公开(公告)日：2017-08-04
申请号：CN201710258109.9
申请日：2017-04-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01J4/00 , G01J11/00 , G01J2004/001
Abstract: 一种光子偏振态密度矩阵的直接测量装置及方法，涉及一种光子偏振态密度矩阵的直接测量技术，为了解决量子层析术无法提供直接获取量子物理中相干性方法的问题。待测信号入射至第一状态转换器，经由第一状态转换器转换后的待测信号入射至对角偏振相关位移晶体，经过对角偏振相关位移晶体转换后的待测信号入射至第二状态转换器，经过第二状态转换器转换后的待测信号入射至成像系统，成像系统输出的待测信号入射至第三状态转换器，经过第三状态转换器转换后的待测信号被CCD相机接收。有益效果为该测量方法仅需要两个基底的三次测量，以确定任意选择的密度矩阵元而不考虑系统维数d，是替代层析术而局域化探测潜在混合态的极具吸引力的有效方法。
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公开(公告)号：CN106949971A
公开(公告)日：2017-07-14
申请号：CN201710187581.8
申请日：2017-03-27
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01J4/00 , G01J2004/001
Abstract: 本发明公开了一种基于介质超表面的紧凑偏振态测量仪，包括介质超表面和探测器阵列，探测器阵列位于介质超表面的焦距处；介质超表面包括多个基本模块，相邻的基本模块相互接触；每个基本模块独立工作以获取入射到该基本模块表面的待测光的偏振态；每个基本模块包括第一平面聚焦镜、第二平面聚焦镜、第三平面聚焦镜和第四平面聚焦镜，四块平面聚焦镜按照从左至右、从上自下的顺序构成“田”字形平面结构；这四个平面聚焦镜的焦距一致；本发明提供的紧凑偏振态测量仪在可见光波段损耗较小，在近红外到红外波段几乎没有损耗，极大降低了光损耗，提高了探测的灵敏度。
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公开(公告)号：CN103364348A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201310099961.8
申请日：2013-03-26
Applicant: 安东帕有限公司
CPC classification number: G01N21/21 , G01J4/04 , G01J2004/001 , G01N21/211 , G01N21/29 , G01N21/59 , G01N21/8803 , G01N21/8806 , G01N21/90 , G01N21/9027 , G01N21/94 , G01N2021/8848
Abstract: 本发明涉及一种用于分析液体样本（115、315）的光学设备（100、300），特别是偏振计，该光学设备包括：发光系统（101、301、355），该发光系统产生用于平面照射样本（115、315）的光（110、310）；检测系统（135、335），该检测系统设置为位置分辨地检测由于为平面照射所提供的光通过样本透射所导致的光；远心光学器件（129、329），该光学器件包括在样本（115、315）和检测系统（135、335）之间的透镜（131、331），和在透镜（131、331）和检测系统（135、335）之间的透镜（131、331）的焦平面（134、334）内的孔径光阑（133、333）。
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公开(公告)号：CN108981919A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810586135.9
申请日：2018-06-08
Applicant: 北京航空航天大学
CPC classification number: G01J4/00 , G01J2004/001 , G05D1/0816
Abstract: 本发明公开一种天空偏振光垂直分布探测装置及方法，包括球伞分离展开部件、姿态稳定装置、偏振探测器、主控系统、通信设备、供电设备、温控设备、支撑结构。其中，球伞分离展开部件和偏振探测器安装在支撑结构顶部的支撑面上，姿态稳定装置安装在支撑结构三个相互垂直的支撑面，主控系统、通信设备、供电设备和温控设备安装在支撑结构内部；探空气球携带探测装置升空，升空过程中由偏振探测器和主控系统实时探测并记录探测数据，姿态稳定装置保持探测装置姿态稳定、偏振探测器朝向稳定，从而获得可供分析的垂直方向天空偏振光信息。本发明用来探测从地面至30km高空的天空偏振光垂直分布情况，具有探测范围大、自主姿态稳定、探测设备可回收等优点，可作为科研实验中一种天空偏振光试验技术平台。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107328477A
公开(公告)日：2017-11-07
申请号：CN201710325624.4
申请日：2017-05-10
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01J4/00 , G01J2004/001
Abstract: 本发明属于精密测试计量技术领域，具体涉及一种扩束线偏振光光轴一致性、稳定性检测系统及方法。该检测系统包括检测装置、经纬仪和基准平面镜；经纬仪用于准直检测装置和基准平面镜；检测装置包括固定机构、旋转机构、检测机构和调平机构；检测机构通过旋转机构安装于固定机构上，固定机构通过调平机构安装于一个分度台上；检测机构包括检测直角棱镜和光电接收组件；检测直角棱镜用于引出被检测偏振光光轴方位，光电接收组件用于检测偏振光方位并将光信号转换为电信号。采用本发明提供的扩束线偏振光光轴一致性、稳定性检测系统及方法可以对经过扩束后线偏振光光轴的一致性和稳定性进行准确量度，提高了线偏振光技术的测量精度。
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公开(公告)号：CN107290059A
公开(公告)日：2017-10-24
申请号：CN201710572343.9
申请日：2015-09-25
Applicant: 苏州大学
CPC classification number: G01J4/00 , G01J2004/001 , G03F7/16 , G03F7/42 , G03F7/70383
Abstract: 本发明提供了一种含阿基米德螺旋线的亚波长圆偏振光检偏器的制备方法，能够实现对左右旋圆偏振光的区分，该结构包括无机基片、设于无机基片上的二维阿基米德螺旋线和覆盖于二氧化硅基片和二维阿基米德螺旋线表面的金属膜层；本发明的检偏器在3.75um-6.0um波段圆二色性平均在0.1以上，在3.85um处圆二色性最高可达到0.16，并具波段较宽，结构简单，易于制作的特点，在以后的光学传感系统、先进的纳米光子器件以及集成光学系统中，具有很大的应用价值。
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公开(公告)号：CN106225928A
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201610536624.4
申请日：2016-07-08
Applicant: 南京航空航天大学
IPC: G01J4/04
CPC classification number: G01J4/04 , G01J2004/001
Abstract: 本发明公开了一种矢量光束偏振分布检测装置，包括四分之一波片、线偏振光检偏器、旋转模块、图像采集模块和计算机。还公开了矢量光束偏振分布检测方法，入射平行光束经四分之一波片和线偏振光检偏器，后被图像采集模块探测；通过旋转模块改变四分之一波片快轴方向，图像采集模块曝光记录受四分之一波片快轴方向调制的一系列光束图像；计算机把图像细分成微区域，针对每个微区域可认为其偏振分布均匀，分析其受四分之一波片快轴方向调制的强度曲线，可以获取该微区域的偏振态，对所有微区域做相同的处理，最终获取整个光束的偏振态分布。本发明的装置和方法，结构简单、适用性好、稳定可靠，能够实现任意矢量光束偏振分布快速、自动、准确的检测。
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公开(公告)号：CN105492889A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201480047682.X
申请日：2014-05-13
Applicant: 韩国标准科学研究院
IPC: G01N21/17
CPC classification number: G01N21/211 , G01J4/00 , G01J4/04 , G01J2004/001 , G01N2021/213 , G01N2201/0683 , G01N2201/11
Abstract: 提供一种光学元件旋转类型的穆勒矩阵椭圆偏振仪，其用于解决由于在根据现有技术的能够测量任何样品的穆勒矩阵的一些或所有元素的双光学元件旋转类型的穆勒矩阵椭圆偏振仪中光源的剩余偏振、光检测器的偏振依赖性、高次项的傅立叶系数的测量值而引起的测量准确性和测量精度的问题。
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