五轴/六轴激光测量系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1205077A

    公开(公告)日:1999-01-13

    申请号:CN97191384.6

    申请日:1997-08-15

    Inventor: K·C·刘 Y·Q·廖

    CPC classification number: G01B11/26 G01D5/344 G01J4/00

    Abstract: 一个六轴激光测量系统(300),包括一个新颖的5-D测量装置和精密的激光流动探测器系统(100),5-D系统具有一个激光头(102)和探测器座(302)对纵倾,横摆、x、y、z位移进行测量,激光滚动探测器(100)利用偏振棱镜(104),例如Glan-Thompson棱镜,以及至少二个光探测器(D1,D2,D3,D4),一束线性偏振激光束进入棱镜(104),光束被分成二束偏振分量,其强度随着探测器(104)相对偏振光束的滚动取向而改变,将二个探测器(D1,D2)的输出分别连接至提供滚动输出的高增益差分放大器(108)的正和负输入端。

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