公开(公告)号：CN108288622A

公开(公告)日：2018-07-17

申请号：CN201810023867.7

申请日：2018-01-10

Applicant: 意法半导体(R&D)有限公司

Inventor： J·M·雷诺 ,  L·斯塔克 ,  F·卡克林

IPC: H01L27/142

CPC classification number: G01J1/4204 ,  G01J1/44 ,  G01J1/46 ,  G01J2001/446 ,  H01L31/02021 ,  H01L31/042 ,  H02J1/06

Abstract: 本发明涉及一种零功率传感器。集成电路包括衬底以及在衬底上实现的至少一个光伏电池。至少一个光伏电池被配置为生成电源电压。电路在衬底上实现。电路由电源电压供电。至少一个光伏电池可以包括多个串联连接的光伏电池。

公开(公告)号：CN108254070A

公开(公告)日：2018-07-06

申请号：CN201711125727.2

申请日：2017-11-15

Applicant: 环球通信半导体有限责任公司

Inventor： 王志鸿 ,  P·劳 ,  D·库马尔

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/44 ,  H04B10/25

CPC classification number: G01J1/0414 ,  G01J1/0209 ,  G01J1/0214 ,  G01J1/0242 ,  G01J1/0448 ,  G01J1/4257 ,  G02B6/4286 ,  H01S5/0683 ,  G01J1/42 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/4247 ,  G01J2001/446 ,  H04B10/25

Abstract: 本申请涉及边缘耦合的半导体光电探测器。公开了一种用于监测来自激光二极管的功率的器件。该器件包括具有顶表面和与顶表面垂直的第一面的基板，其中，光通过第一面进入基板。该器件还包括第二面，沿与第一面非正交的光轴通过第一面进入基板的光入射到第二面上。该器件还包括制造在基板的顶表面上的光电二极管，光电二极管用于测量沿与第一面非正交的光轴进入基板的第一面的光的强度。沿与第一面非正交的光轴通过第一面进入基板的光被第二面朝光电二极管的光活性区域反射。

公开(公告)号：CN108088560A

公开(公告)日：2018-05-29

申请号：CN201711133632.5

申请日：2017-11-15

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 徐润宰 ,  金成浩 ,  金俊奭 ,  柳贤锡

IPC: G01J1/44

CPC classification number: H04N5/361 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/446 ,  H01L27/14605 ,  H01L27/14609 ,  H01L27/14643 ,  H04N5/35518 ,  H04N5/374 ,  G01J2001/444

Abstract: 一种基于事件的传感器包括：伪像素，产生暗电流；电流镜，使用暗电流产生镜像电流；以及感测像素，基于入射光的强度产生感测电流，并且基于通过从感测电流中减去镜像电流而获得的光电流，输出指示是否感测到入射光的变化的激活信号。

公开(公告)号：CN106104232B

公开(公告)日：2018-03-20

申请号：CN201580012258.6

申请日：2015-02-24

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 清水隆行 ,  井上高广 ,  佐藤秀树

IPC: G01J1/42 ,  H01L31/10

CPC classification number: G01J1/0407 ,  G01J1/4204 ,  G01J1/4228 ,  G01J1/429 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/446 ,  H01L27/14621 ,  H01L27/14623 ,  H01L27/14625 ,  H01L27/14647 ,  H01L31/02162 ,  H01L31/1013

Abstract: 本发明以低成本提供能够检测出规定的波长区域的光的强度的受光器。该受光器具备：具有彼此相同的光谱灵敏度特性的第一受光元件(PD1)和第二受光元件(PD2)；和UV截止滤光片(11)，透过UV截止滤光片(11)的光入射至第一受光元件(PD1)，具备计算第一受光元件(PD1)的光电流与第二受光元件(PD2)的光电流的差值的减法器。

公开(公告)号：CN107328473A

公开(公告)日：2017-11-07

申请号：CN201710528323.1

申请日：2017-07-01

Applicant: 北京石油化工学院

Inventor： 梅志强 ,  黄民双

IPC: G01J1/44 ,  G01K11/32

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J2001/446 ,  G01K11/32 ,  G01K2011/322

Abstract: 本发明公开了一种光电探测装置，所述装置包括光电转换电路、滤波电路、放大电路、电压转换电路和电源电路，所述光电转换电路包括一个反向电压的高速光电二极管和一个电流-电压转换运算放大器；滤波电路包括二阶低通滤波放大器；放大电路包括一个超高速运算放大器；电压转换电路包括一个低噪声超高速运算放大器；经所述放大电路处理后的电压信号经过所述电压转换电路后转换为高速数据采集卡能输入的电压范围内；电源电路包括一个ISA接口和两个稳压芯片MC7805HE和MC7905，通过该电路对其他电路进行供电。该装置具有宽带、高速和低噪声的特点，能显著提高分布式光纤温度传感器的空间分辨率和温度分辨率。

公开(公告)号：CN104054326B

公开(公告)日：2017-10-13

申请号：CN201280067398.X

申请日：2012-03-29

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 古宫哲夫

IPC: H04N5/369 ,  H01L31/10 ,  H04N5/32

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J1/4228 ,  G01J2001/4413 ,  G01J2001/446 ,  G01T1/20 ,  G01T1/208 ,  G01T1/248 ,  H01L27/1446 ,  H01L31/02019

Abstract: 根据本发明的构成，其目的在于提供一种检测精度及时间解析度得以提高的半导体光电倍增元件，其包括连接于二极管D的AD转换电路11。某二极管D检测到光子时所产生的电流一部分会流入至经由电阻而与二极管D并联连接的相邻二极管D中。此时的电流被充电至相邻的二极管D的寄生电容中且被释放。然所释放的电流会被AD转换电路11阻挡而不流向输出端子侧，亦无法使AD转换电路11导通断开。因此，根据本发明的构成，可不受到从寄生电容释放的电流的影响来对光进行检测。因此，根据本发明，可提供具有高检测精度及良好的时间解析度的半导体光电倍增元件。

公开(公告)号：CN107005664A

公开(公告)日：2017-08-01

申请号：CN201580063631.0

申请日：2015-07-08

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 广濑龙太 ,  柄泽朋宏 ,  富永秀树

IPC: H04N5/369 ,  G01J1/42 ,  G01J1/46 ,  H04N5/357 ,  H04N5/374

CPC classification number: G01J1/46 ,  G01J3/2803 ,  G01J2001/446 ,  H04N5/3575 ,  H04N5/3741 ,  H04N5/37457 ,  H04N5/378

Abstract: 本发明提供一种光检测器(10)，其特征在于，包括：光电转换元件(101)，其在构成1像素的像素区域(11)内配置有多个；所述多个检测电路(14)，它们对应于所述多个光电转换元件(101)中的各方而各设置有1个，且分别具有电容器(102)；以及信号处理部(19)，其将来自所述多个检测电路(14)的输出信号相加。

公开(公告)号：CN106941340A

公开(公告)日：2017-07-11

申请号：CN201710226498.7

申请日：2017-04-09

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 陈洪芳 ,  孙衍强 ,  石照耀 ,  宋辉旭 ,  王亚韦

IPC: H03F1/26 ,  H03F7/00 ,  H03H1/02 ,  H03H5/12 ,  G01J1/46

CPC classification number: H03F1/26 ,  G01J1/44 ,  G01J1/46 ,  G01J2001/446 ,  H03F7/00 ,  H03H1/02 ,  H03H5/12

Abstract: 本发明公开了一种提高光电信号信噪比的采集及处理电路，该电路包括信号采集电路、信号处理电路、电源电路。外部光信号由光电二极管D1接收转化为微弱的电流信号，经光电转换电路11将电流信号转化为电压信号，并由电压放大电路12对电压信号进行放大，完成信号的采集过程，得到电压信号signal1。电压信号signal1经低通滤波电路21滤除信号的高频谐波，再通过电压放大及电平调节电路22、电压比较电路23，实现电压信号的放大和直流电平的调整，将正弦信号转化为方波信号squarewave输出。该信号采集及处理电路能够实现对光信号的采集并进行光电转换及信号处理，具有结构原理简单、调节灵活、可靠性高的特点。

公开(公告)号：CN106525233A

公开(公告)日：2017-03-22

申请号：CN201610864889.7

申请日：2016-09-29

Applicant: 天津大学

Inventor： 赵毅强 ,  辛睿山 ,  赵公元 ,  叶茂 ,  李跃辉

IPC: G01J1/46

CPC classification number: G01J1/46 ,  G01J2001/444 ,  G01J2001/446

Abstract: 本发明涉及集成电路光敏检测领域，本发明旨在通过不感光暗元与感光亮元分别进行相同时间的检测，再将两者积分电压做差，从而消除感光二极管暗电流对检测结果的影响，提高检测精度。本发明采用的技术方案是，消除暗电流影响的光敏检测电路，由不感光暗元、感光亮元、电压跟随器、减法器四部分构成；电压跟随器用于采样不感光暗元与感光亮元的输出积分电压，并将采样电压输出至减法器；减法器用于将暗元积分电压与亮元积分电压做差，得到与暗电流无关的光敏检测输出电压。本发明主要应用于集成电路光敏检测场合。

公开(公告)号：CN103797330B

公开(公告)日：2016-11-02

申请号：CN201280039879.X

申请日：2012-08-14

Applicant: 莱卡地球系统公开股份有限公司

Inventor： C·L·E·迪穆兰

IPC: G01C15/00 ,  G01J1/46

CPC classification number: G01C15/002 ,  G01C15/006 ,  G01J1/42 ,  G01J1/4257 ,  G01J1/44 ,  G01J1/46 ,  G01J2001/446

Abstract: 提供了一种电子光检测电路，该电子光检测电路用于在背光条件下检测光敏部件上的强度调制的光信号。所述电路包括：所述光敏部件，具体地，作为光位置检测器，用于检测所述光信号光斑在检测窗内的击中位置；放大器，该放大器具有连接至所述光敏部件的输出端的高输入电阻；以及背光抑制电路。所述背光抑制电路与所述放大器并联地连接至所述光敏部件的输出端，并且包括电子有源谐振器结构。所述有源谐振器结构按向所述光敏部件的输出端提供负载阻抗的以下方式来进行设计：针对低频提供低负载阻抗，以抑制所述光敏部件的自然背光饱和与人工背光饱和，而在所述强度调制的光信号的频率下提供高负载阻抗。