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公开(公告)号:CN104054326A
公开(公告)日:2014-09-17
申请号:CN201280067398.X
申请日:2012-03-29
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor: 古宫哲夫
CPC classification number: G01J1/44 , G01J1/4228 , G01J2001/4413 , G01J2001/446 , G01T1/20 , G01T1/208 , G01T1/248 , H01L27/1446 , H01L31/02019
Abstract: 根据本发明的构成,其目的在于提供一种检测精度及时间解析度得以提高的半导体光电倍增元件,其包括连接于二极管D的AD转换电路11。某二极管D检测到光子时所产生的电流一部分会流入至经由电阻而与二极管D并联连接的相邻二极管D中。此时的电流被充电至相邻的二极管D的寄生电容中且被释放。然所释放的电流会被AD转换电路11阻挡而不流向输出端子侧,亦无法使AD转换电路11导通断开。因此,根据本发明的构成,可不受到从寄生电容释放的电流的影响来对光进行检测。因此,根据本发明,可提供具有高检测精度及良好的时间解析度的半导体光电倍增元件。
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公开(公告)号:CN101836131A
公开(公告)日:2010-09-15
申请号:CN200880112904.6
申请日:2008-09-29
Applicant: 株式会社岛津制作所 , 国立大学法人东京大学
CPC classification number: G01T1/1647
Abstract: 本发明提供一种放射线检测器。其中,由于本发明的放射线检测器(1)具备:用规定阈值Vth二值化从检测单元(7)输出的模拟电脉冲P后调制为数字电脉冲Pp的脉冲宽度调制电路(11);和叠加放射线入射的检测单元(7)的位置相关的入射位置脉冲Px、Py和由放射线检测出的数字电脉冲Pp后,输出入射位置脉冲列Pt的数字叠加器(13),故能够将以往在数字电脉冲Pp输出后所附加来的位置信息附加到数字电脉冲Pp中。因此,与在数字电脉冲Pp后附加位置信息并传输位置信息的现有技术相比,能够在短时间内检测入射到检测单元(7)的放射线的位置。
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公开(公告)号:CN110770604B
公开(公告)日:2023-10-24
申请号:CN201780092224.1
申请日:2017-07-03
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01T1/161
Abstract: 放射线检测装置(300)被用于核医学诊断装置,具备多个闪烁体(44)、半导体受光器件(SiPM)、位置检测电路(214)以及定时检测电路(216)。闪烁体将从被检体(15)照射的γ射线变换为荧光。半导体受光器件与多个闪烁体分别对应地设置,将由对应的闪烁体进行变换所得到的荧光变换为电信号。位置检测电路基于来自半导体受光器件的电信号来确定多个闪烁体中的γ射线的检测位置。定时检测电路与半导体受光器件的阳极连接,用于确定与检测γ射线的事件的发生时间对应的时间信息。
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公开(公告)号:CN102057569A
公开(公告)日:2011-05-11
申请号:CN200880129721.5
申请日:2008-06-09
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: H03G11/00
CPC classification number: H03G11/002 , H03G11/02
Abstract: 本发明提供一种通过一对晶体管的开关作用而从输入信号电压中仅使包含在上限信号电压和下限信号电压的范围内的信号电压成分通过的限幅电路。由此,由一对晶体管同时进行输入信号电压与阈值信号电压的比较和线路的开关,所以不会影响传播延迟速度,且不会产生线路切换时的开关噪声。此外,由于不使用二极管,所以能够生成高速的限幅电路。
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公开(公告)号:CN107710019A
公开(公告)日:2018-02-16
申请号:CN201680036561.4
申请日:2016-05-16
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor: 古宫哲夫
Abstract: 本发明的结构使用限幅电路(L)代替高通滤波器和低通滤波器来去除放大器输出的噪声成分。在从放大器(a)输出的放大信号为限幅电平以下的情况下,限幅电路(L)不使该放大信号通过。因而,从与荧光检测无关的放大器(a)输出的噪声成分被限幅电路(L)阻止而无法到达加法电路。另一方面,在从放大器(a)输出的放大信号大于限幅电平的情况下,限幅电路(L)使该放大信号通过,因此由放大器(a)输出的与荧光检测有关的信号被可靠地输入到荧光产生时刻计算部(11)。因而,根据本发明,能够提供一种能够更加准确地计算荧光产生时刻的放射线检测器。
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公开(公告)号:CN104054326B
公开(公告)日:2017-10-13
申请号:CN201280067398.X
申请日:2012-03-29
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor: 古宫哲夫
CPC classification number: G01J1/44 , G01J1/4228 , G01J2001/4413 , G01J2001/446 , G01T1/20 , G01T1/208 , G01T1/248 , H01L27/1446 , H01L31/02019
Abstract: 根据本发明的构成,其目的在于提供一种检测精度及时间解析度得以提高的半导体光电倍增元件,其包括连接于二极管D的AD转换电路11。某二极管D检测到光子时所产生的电流一部分会流入至经由电阻而与二极管D并联连接的相邻二极管D中。此时的电流被充电至相邻的二极管D的寄生电容中且被释放。然所释放的电流会被AD转换电路11阻挡而不流向输出端子侧,亦无法使AD转换电路11导通断开。因此,根据本发明的构成,可不受到从寄生电容释放的电流的影响来对光进行检测。因此,根据本发明,可提供具有高检测精度及良好的时间解析度的半导体光电倍增元件。
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公开(公告)号:CN103782196B
公开(公告)日:2016-12-28
申请号:CN201180073368.5
申请日:2011-09-22
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: G01T1/164 , A61B6/037 , G01T1/2006 , G01T1/2985
Abstract: 本发明的目的在于提供一种通过使检测器环的设计变更变得容易来抑制开发费用、廉价的放射线断层摄影装置。根据本发明的放射线断层摄影装置,具有从不同的放射线检测器接收检测数据的多个模块。而且,各个模块互相发送和接收检测数据,由此共享检测数据并对同时事件进行计数。即,当制造放射线断层摄影装置时,仅对各模块进行布线就能够实现同时计数单元。如果以这种方式构成,则不新开发进行同时计数的基板就能够制造放射线断层摄影装置,因此能够提供一种抑制了开发成本的廉价的放射线断层摄影装置。
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公开(公告)号:CN103782196A
公开(公告)日:2014-05-07
申请号:CN201180073368.5
申请日:2011-09-22
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: G01T1/164 , A61B6/037 , G01T1/2006 , G01T1/2985
Abstract: 本发明的目的在于提供一种通过使检测器环的设计变更变得容易来抑制开发费用、廉价的放射线断层摄影装置。根据本发明的放射线断层摄影装置,具有从不同的放射线检测器接收检测数据的多个模块。而且,各个模块互相发送和接收检测数据,由此共享检测数据并对同时事件进行计数。即,当制造放射线断层摄影装置时,仅对各模块进行布线就能够实现同时计数单元。如果以这种方式构成,则不新开发进行同时计数的基板就能够制造放射线断层摄影装置,因此能够提供一种抑制了开发成本的廉价的放射线断层摄影装置。
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