亮度校正方法及光学检测系统

    公开(公告)号:CN106289521A

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201510390024.7

    申请日:2015-07-06

    Inventor: 刘昌明

    Abstract: 一种亮度校正方法及光学检测系统。亮度校正方法应用于光学检测系统中。光学检测系统包含单光源照射器以及探针卡。单光源照射器用以朝向探针卡照射。探针卡具有多个检测位置。亮度校正方法包含:以感测芯片透过多个扩散片其中之一依序在检测位置量测亮度;以感测芯片在检测位置其中之一依序量测扩散片的透明度;以及筛选透明度中较大者所对应的扩散片并分别设置于亮度中较小者所对应的检测位置上方,并筛选透明度中较小者所对应的扩散片并分别设置于亮度中较大者所对应的检测位置上方。借此,根据本发明的亮度校正方法所制造的光学检测系统将可有效地降低光源均匀度、扩散片偏差度与不同检测位置所造成的检测偏差。

    一种新型架构的光强度检测系统

    公开(公告)号:CN106197659A

    公开(公告)日:2016-12-07

    申请号:CN201610531383.4

    申请日:2016-07-07

    Applicant: 孙祝兵

    Inventor: 孙祝兵

    CPC classification number: G01J1/42 G01J2001/4247 G01J2001/4252

    Abstract: 一种新型架构的光强度检测系统,包括主机模块、光强采集模块、从机核心控制器和显示模块;系统主机应用C#编程语言实现程序对程控电源、PLC、光强板的控制和数据接收、处理,并进行光强标定和二次校准,实现数据在极坐标、直角坐标和数据列表中显示;本发明系统采用主从式光强度检测系统测试结果精确,可广泛应用于光源与照明的检测领域。

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