一种磁保持继电器的控制电路

    公开(公告)号:CN105336541A

    公开(公告)日:2016-02-17

    申请号:CN201510716662.3

    申请日:2015-10-28

    CPC classification number: H01H47/22

    Abstract: 一种磁保持继电器的控制电路,属于继电器领域。它解决了现有的向磁保持继电器线圈提供正反向直流脉冲电压来控制其通断的方式操作不便,无法快速切换磁保持继电器通断的问题。本发明所述的控制电路包括继电器、电源V、电容C和联动开关K,继电器包括四个常闭触点、两个常开触点和线圈A。电源V与联动开关K串联后与线圈A并联,电容C通过两个常闭触点与线圈A并联,待控制的磁保持继电器的线圈通过两个常开触点与线圈A并联,并通过另外两个常闭触点与电容C反向并联,通过控制联动开关K可以实现通断磁保持继电器,大大方便了磁保持继电器的使用。本发明应用在对磁保持继电器的通断控制中,特别适用于智能电能表负荷开关的驱动。

    基于蒙特卡洛模拟的接触器触头接触压力合格率预测方法

    公开(公告)号:CN103226642B

    公开(公告)日:2016-02-03

    申请号:CN201310177619.5

    申请日:2013-05-14

    Abstract: 基于蒙特卡洛模拟的接触器触头接触压力合格率预测方法,属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对接触压力参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对接触压力有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合;然后根据该N组参数组合获得N组接触压力特性参数;进而获得接触压力参数的分布特性;最后根据该分布特性和接触器的触头接触压力设计参数利用Simpson法则获得接触器接触压力合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器接触压力的合格率进行预测分析,进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。

    基于小生境排序粒子群算法的电磁机构动态特性优化方法

    公开(公告)号:CN105045984A

    公开(公告)日:2015-11-11

    申请号:CN201510391039.5

    申请日:2015-07-06

    Abstract: 基于小生境排序粒子群算法的电磁机构动态特性优化方法,属于电磁机构动态特性优化技术领域。本发明是为了解决目前用于求解电磁机构动态特性的优化算法只能进行单目标优化的问题。它首先确定动态特性优化参数和优化目标函数;再确定每个动态特性优化参数的上下限及与动态特性优化参数相关的附加约束指标;获得每个动态特性优化参数的初始化数据;计算获得相应的优化目标函数值;选取粒子参数的个体最优位置和整个种群的全局最优位置,获得优化目标函数的Pareto解集分布;对步骤五中获得的Pareto解集分布中的优化目标函数值进行衡量或侧重选择,选取对应的动态特性优化参数值。本发明用于电磁机构动态特性优化。

    一种继电器触簧装置
    44.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104241032A

    公开(公告)日:2014-12-24

    申请号:CN201410566864.X

    申请日:2014-10-22

    Abstract: 一种继电器触簧装置,它涉及一种触簧装置。本发明为了解决现有多转换触点组的电磁继电器动合动触点分断速度较慢、动合触点间隙较小,导致触点烧蚀严重,电磁继电器使用寿命短、可靠性差的问题。本发明包括多个转换触点组,所述多个转换触点组相对且交错固定安装在底板上的多个引出杆上,每个转换触点组的静合静簧片固定在位于底板上端的一个引出杆上,推动器安装在静合静簧片水平方向的一侧,动合静簧片的一端固定安装在一个引出杆上,动合静簧片的另一端位于静合静簧片竖直方向的一侧,动簧片的一端固定在位于远离动合静簧片水平方向一侧的一个引出杆上,动簧片的另一端悬置并位于静合静簧片和动合静簧片之间。本发明用于继电器中。

    直动式上置永磁T型衔铁结构

    公开(公告)号:CN103311051A

    公开(公告)日:2013-09-18

    申请号:CN201310263219.6

    申请日:2013-06-27

    Abstract: 本发明公开一种直动式上置永磁T型衔铁结构,包括外壳、上轭铁、永磁体、线圈骨架、线圈、下轭铁、衔铁、连杆以及弹簧,其中所述外壳、所述上轭铁、所述下轭铁和所述衔铁均为导磁材料。所述上轭铁为圆环形,设置所述外壳的上端开口处;所述永磁体与所述上轭铁的内圆周紧密连接;所述线圈骨架为圆环型,与所述外壳底面固定连接;所述线圈缠绕在所述线圈骨架上;所述下轭铁为圆环型,位于所述上轭铁以下、所述线圈骨架以上的位置处;所述衔铁包括固定连接的衔铁上底和衔铁柱体,用以在所述上轭铁和所述下轭铁之间垂直上下移动。本发明采用对称结构,安装简单,能够有效提高产品的装配效率,降低废品率。

    含永磁E型轭铁结构
    46.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103310944A

    公开(公告)日:2013-09-18

    申请号:CN201310194813.4

    申请日:2013-05-23

    Abstract: 本发明公开一种含永磁双E型轭铁结构,包括:外轭铁,为上端开口的空心圆柱体结构;永磁体,与所述外轭铁侧壁固定连接;内轭铁,位于所述外轭铁内部,与所述永磁体固定连接;所述内轭铁为空心的环形圆柱体结构,包括内轭铁上底、内轭铁中隔、内轭铁下底和内轭铁侧壁;衔铁,位于所述外轭铁内部,从所述内轭铁的内环处贯穿,包括衔铁上底、衔铁下底和衔铁侧壁;所述衔铁上底和衔铁下底的直径大于所述内轭铁的内环直径;所述衔铁上底位于所述内轭铁中隔与内轭铁上底之间,所述衔铁下底位于所述外轭铁下底与所述内轭铁下底之间;以及线圈骨架、线圈、连杆和弹簧,其中所述外轭铁、内轭铁和衔铁均为导磁材料。

    励磁系统霍尔传感器的电磁干扰源及其安装面的确定方法

    公开(公告)号:CN101815428B

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN201010145561.2

    申请日:2010-04-08

    Abstract: 本发明公开一种励磁系统霍尔传感器的电磁干扰源及其安装面的确定方法,包括以下步骤:在励磁系统正常工作即干扰源存在的情况下,连接霍尔传感器信号线,但不固定到安装位置上,将霍尔传感器以多种放置位置接近干扰母线排,分别在上述不同位置情况下进行试验测试,并记录霍尔传感器检测到的干扰电流数值;比较对应上述放置位置情况的干扰电流数值,找到最大的干扰电流数值,则在该最大的干扰电流数值所对应的放置位置下,靠近干扰母线排的一侧即为霍尔传感器受干扰敏感部位,该部位应该远离干扰源;调整线路,重新安装霍尔传感器至合理安装位置,使霍尔传感器受干扰敏感部位远离干扰源。该方法能够快速有效地查找干扰源,提高屏蔽设计效率。

    基于误差函数模型的寿命预测方法

    公开(公告)号:CN116502391A

    公开(公告)日:2023-07-28

    申请号:CN202211599308.3

    申请日:2022-12-12

    Abstract: 基于误差函数模型的寿命预测方法,涉及可靠性试验技术领域,本发明的目的是为了解决现有预测产品寿命的方式存在预测准确性差的问题。基于统计力学建立误差函数模型,获得产品的四个历史温度和四个历史温度对应的四个历史寿命,将每个历史温度和对应的历史寿命带入一个误差函数模型中,得到由带入后的4个误差函数模型组成的模型组,解析模型组,获得b四个参数值;将b四个参数值带入一个误差函数模型中,得到待输出的误差函数模型,向待输出的误差函数模型中输入产品的当前的温度,预测出当前温度下产品的寿命。它用于预测产品寿命。

    一种基于多维设计参数的继电器寿命预测方法

    公开(公告)号:CN110795863A

    公开(公告)日:2020-02-14

    申请号:CN201911102421.4

    申请日:2019-11-12

    Abstract: 本发明公开了一种基于多维设计参数的继电器寿命预测方法,所述方法首先分析继电器产品的工作原理,通过控制变量法获得不同设计参数条件下的继电器寿命实验数据;然后,分析确定影响继电器寿命的敏感设计参数;在进行寿命实验的过程中,采集继电器工作数据,确定表征继电器寿命的特征参数;建立回归设计矩阵,将继电器寿命特征参数作为观察向量,求取参数向量,获得特征参数关于设计参数的数学模型;将特征参数变化率作为观察向量,拟合求取特征参数变化率关于设计参数的数学模型;最后,结合上述两个模型获得寿命预测模型。本发明能够通过建模确定继电器寿命与其多维设计参数之间的关系,可以指导继电器设计以进一步提升继电器寿命。

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