公开(公告)号：CN119886876A

公开(公告)日：2025-04-25

申请号：CN202411953187.7

申请日：2024-12-27

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 叶雪荣 ,  孙祺森 ,  李小宛孺 ,  冯超 ,  陈岑 ,  陈昊

IPC: G06Q10/0637 ,  G06Q10/20 ,  G06Q50/04 ,  G06F18/21

Abstract: 本发明公开了一种考虑性能退化预计误差的电子设备预防性维护策略开发方法，所述方法包括如下步骤：步骤S1、开展电子设备性能退化预计验证试验；步骤S2、确定性能退化预计误差区间；步骤S3、构建维护成本模型；步骤S4、计算不同预计误差下维护成本；步骤S5、确定最优维护策略。本发明能够得到适用于所有性能退化预计误差的有效维护策略并降低维护成本。在三相逆变器应用案例中，本发明方法确定的维护策略与不考虑性能退化预计误差的维护策略相比，在获得最低维护成本的同时避免了故障发生。

公开(公告)号：CN119846415A

公开(公告)日：2025-04-18

申请号：CN202411922366.4

申请日：2024-12-24

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 陈岑 ,  孔维轩 ,  王辰一 ,  王浩东 ,  寇雅婷 ,  张东 ,  翟国富

IPC: G01R31/26 ,  G01R1/36 ,  H02H3/20 ,  G06N3/0442

Abstract: 本发明公开了一种用于碳化硅MOSFET的自动化双脉冲测试及参数特征分析平台，包括硬件平台和软件平台，其中：硬件平台包括控制单元、自动化驱动单元、智能数据单元、隔离单元和元件测试单元；控制单元包括上位机控制模块、串口通信传输模块和以太网通信传输模块；自动化驱动单元包括MCU控制模块、ADC模块、采样模块、过压保护模块、GPIO模块和驱动模块；智能数据单元包括数据采集模块、数据处理模块和数据处理模块；隔离单元包括信号隔离模块和驱动隔离模块；软件平台包括MCU控制程序和上位机程序。本发明能够实现自动化双脉冲测试及参数特征深度分析，并可视化相应的分析结果，极大地提高了双脉冲测试效率和测试可靠性。

公开(公告)号：CN118091349B

公开(公告)日：2024-08-13

申请号：CN202311854187.7

申请日：2023-12-29

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 陈岑 ,  王浩东 ,  于德润 ,  张博亚 ,  李小宛孺 ,  王辰一 ,  张东 ,  王明阳 ,  翟国富

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/01 ,  G01R1/04 ,  G05D3/20

Abstract: 一种用于退化试验的功率半导体器件批量测试装置，涉及功率半导体器件测试技术领域。运动单元采用三轴运动模组并设置承载平台，控制单元包括PLC控制器以及交流伺服驱动器，测试单元包括分析仪及与其测试端连接并引向外部的测试探针，测试探针随三轴运动模组位移以改变位置，PLC控制程序控制三轴运动模组的动作，上位机程序连接分析仪实现功率半导体器件的性能参数测试，同时连接PLC控制程序发送控制指令，上位机程序中电压/电流扫描范围、测试步长和扫描范围偏差的计算具有自适应能力。能够完成批量功率半导体器件的参数测试工作，自动化程度高。

公开(公告)号：CN115203859B

公开(公告)日：2024-04-16

申请号：CN202210929175.5

申请日：2022-08-03

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 陈昊 ,  王梓丞 ,  陈岑 ,  叶雪荣 ,  翟国富 ,  康锐

IPC: G06F30/17 ,  G06F30/23 ,  G06N3/126 ,  G06F111/06 ,  G06F119/02 ,  G06F119/04 ,  G06F119/14

Abstract: 一种磁保持极化继电器全寿命周期稳健参数寻优方法，涉及一种继电器稳健参数寻优方法。分析非线性各向异性永磁体的实际工作点，计算得到磁偶极子的矢量化信息和永磁体局部磁滞回线模型；建立虚拟样机模型；以吸反力配合特征和分断动能为内核，分析性能特征和质量一致性的形成机制，建立多目标稳健参数设计模型；改进差分进化算法；对多目标稳健参数设计模型进行迭代寻优，生产批次虚拟样机模型进行验证。充分考虑非线性各向异性永磁体充退磁过程中的局部磁滞效应，通过建立综合考虑磁保持极化继电器全寿命周期的多目标稳健参数设计模型，并通过改进的多目标差分进化算法进行寻优，提升综合性能，改善质量一致性。

公开(公告)号：CN115130326B

公开(公告)日：2024-03-12

申请号：CN202210927848.3

申请日：2022-08-03

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 陈昊 ,  代文鑫 ,  陈岑 ,  叶雪荣 ,  翟国富 ,  康锐

IPC: G06F30/20

Abstract: 一种平衡力继电器不确定性最大界自动分配方法，涉及一种继电器不确定性最大界分配方法。确定平衡力继电器的关键底层退化零部件及材料；试验采集关键底层退化零部件和材料的退化信息，建立退化模型；建立数字样机模型，分析退化对继电器质量参数的影响，考虑出厂筛选建立考虑退化的全寿命周期质量损失函数模型；构建制造工序极限能力约束下不确定性最大界自动分配加速步长函数模型；分析继电器当前设计状态质量参数波动与设计目标之间的偏差，建立不确定性最大界分配目标函数，对目标函数进行寻优，确定最优解集；抽样验证是否符合要求。有助于保证不确定性最大界的分配精度与效率，实现平衡力继电器全寿命周期质量一致性波动的控制。

公开(公告)号：CN114792053A

公开(公告)日：2022-07-26

申请号：CN202210459927.6

申请日：2022-04-24

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 陈岑 ,  郑博恺 ,  张东 ,  杜俊亮 ,  叶雪荣 ,  翟国富

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/02

Abstract: 一种基于初值‑速率相关退化模型的可靠性评估方法，涉及一种可靠性评估方法。对电子元器件产品开展退化试验，采集退化数据；针对产品的特征参数建立考虑初值与退化速率相关性的退化模型；建立退化模型对应的对数似然函数，确定退化模型中的时间尺度函数形式，并利用极大似然方法估计退化模型中的待定参数；将待定参数估计值代入可靠度函数解析式，得到可靠度函数实现对产品的可靠性评估。将性能参数初值与退化速率的相关性引入电子元器件产品的可靠性评估当中，能够有效提高评估结果的准确度。

公开(公告)号：CN111626008B

公开(公告)日：2021-12-24

申请号：CN202010464342.4

申请日：2020-05-27

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 陈岑 ,  叶雪荣 ,  杨赟 ,  王浩南 ,  胡义凡 ,  翟国富

IPC: G06F30/33

Abstract: 本发明目的在于提供一种可用于电路系统的分层序贯测试性建模方法，属于电子产品测试性分析与设计领域。首先确定电路系统的故障集与可用物理测点集，并通过建立多信号流图模型确定其中故障信息传播路径；以故障信息传播路径为依据，构建故障至测点的最短路径矩阵；随后以信息熵为依据确立测点可用度排序；仿真获取各故障状态下测点电信号波形；以确定的优先级排序提取各测点的可用特征，并依次增补形成故障‑测试特征矩阵；对每次增补后的矩阵充足性进行验证，直至满足规定要求，给出所需的测试性模型。本发明解决了测试性建模中测点可用性评价和序贯增补建模终止时机的判定问题，为电路系统的测试性建模提供了有效手段。

公开(公告)号：CN113094923A

公开(公告)日：2021-07-09

申请号：CN202110438353.X

申请日：2021-04-22

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 叶雪荣 ,  胡义凡 ,  郑博恺 ,  陈岑 ,  冯睿 ,  刘思瑞 ,  张东 ,  翟国富

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/02 ,  G06F119/04

Abstract: 考虑多源不确定性的多参数相关退化产品可靠性评估方法，属于产品性能退化建模与可靠性评估技术领域。方法是：分析产品的任务剖面和失效机理，设计加速退化试验，并对产品的多元性能参数进行测量；针对单一性能参数的退化数据，建立同时考虑多源不确定性和退化过程非线性的边缘退化模型，并在给定失效阈值的情况下，推导失效概率密度函数和失效分布函数的近似解析形式；利用Copula函数建立各性能参数的联合失效分布函数；利用极大似然估计得到各边缘退化模型及Copula函数中的未知参数集合，实现产品可靠性评估。本发明解决了现有的多参数相关退化模型中尚未同时考虑多源不确定性和退化过程非线性的影响，进而导致可靠性评估结果缺乏合理性的问题。

公开(公告)号：CN111626622A

公开(公告)日：2020-09-04

申请号：CN202010471019.X

申请日：2020-05-28

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 陈岑 ,  叶雪荣 ,  王浩南 ,  杨赟 ,  李浩翔 ,  翟国富

IPC: G06Q10/06 ,  G06K9/62

Abstract: 本发明公开了一种考虑不确定性的电路系统测试性指标预计方法，所述方法首先根据电路系统的历史故障信息等确定其故障集、测试特征完备集以及不确定性因素种类；之后建立该电路系统的故障仿真模型，并通过蒙特卡洛方法模拟获得不确定性影响下测试特征的分布情况；基于获取的测试特征分布信息建立故障-测试特征相关性矩阵；基于该矩阵，构建可用于描述测试特征相关性的高斯Copula形式的3种测试性指标预计函数；在此基础上进一步考虑测试特征子集选择问题，构建可用于任意子集的测试性指标快速预计函数。本发明考虑了测试特征之间的相关性，可有效提高电路系统测试性指标预计精度。

公开(公告)号：CN108710745B

公开(公告)日：2019-05-24

申请号：CN201810470432.7

申请日：2018-05-16

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 叶雪荣 ,  林义刚 ,  陈岑 ,  付饶 ,  翟国富

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明公开了一种结合制造工艺数据的机电产品可靠性评估方法，所述方法首先根据机电产品的组成特点、制造工艺数据以及退化机理确定其输出特性退化模型的函数形式；之后以该机电产品的制造工艺数据为基础，通过有限元仿真及近似建模方法得到退化模型中随机影响系数的k个集合；同时，基于机电产品试验样本的退化数据，通过多次迭代的方式估计出退化模型中固定影响系数的值；随后，根据所得到的k组随机影响系数集合、固定影响系数估计值以及所述机电产品的退化失效阈值，得到该产品的k个退化失效伪寿命；最后，基于得到的退化失效伪寿命，计算并给出该机电产品在各时刻的可靠度。本发明为解决小子样条件下的批次产品可靠性评价问题提供了有效手段。