III族氮化物单晶基板的制造方法
    43.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119301315A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202380044300.7

    申请日:2023-03-28

    Inventor: 久保田芳宏

    Abstract: 提供了一种III族氮化物单晶基板的制造方法,该方法可以缩短器件的制造时间,并且可以抑制器件制造期间的裂纹和特性劣化。该III族氮化物单晶基板的制造方法包括执行以下:准备包括氮化物陶瓷的支承基板的支承基板准备步骤;在支承基板的上表面上设置平坦化层的平坦化层形成步骤;在平坦化层的上表面设置晶种层的晶种层形成步骤;在晶种层的上表面上外延生长目标III族氮化物单晶来形成复合基板的外延成膜步骤;和除去平坦化层和晶种层中的至少一者从而将由III族氮化物单晶制成的III族氮化物单晶基板与复合基板的剩余部分分离的分离步骤。

    III族氮化物基板的制造方法和III族氮化物基板

    公开(公告)号:CN114901876A

    公开(公告)日:2022-08-12

    申请号:CN202080092360.2

    申请日:2020-12-03

    Abstract: 本发明的III族氮化物基板的制造方法包括以下工序:在基板的两面形成表面为III族元素面的III族氮化物膜,制作III族氮化物膜担载体;对III族氮化物膜担载体的III族氮化物膜进行离子注入,在III族氮化物膜上形成离子注入区;将已进行离子注入的III族氮化物膜与主要成分为III族氮化物的多晶基底基板贴合,将III族氮化物膜担载体接合于基底基板;使III族氮化物膜担载体从基底基板上分离,将离子注入区转印至基底基板,在基底基板上形成表面为N面的III族氮化物膜;以及利用THVPE法在基底基板的表面为N面的III族氮化物膜上形成III族氮化物膜,制作III族氮化物膜的厚膜。本发明的III族氮化物基板是利用本发明的III族氮化物基板的制造方法制造的。根据本发明,可提供:可制造大口径和高品质的III族氮化物基板的III族氮化物基板的制造方法;以及利用该制造方法制造的III族氮化物基板。

    具有高热导率的器件基板及其制造方法

    公开(公告)号:CN110892506A

    公开(公告)日:2020-03-17

    申请号:CN201880046539.7

    申请日:2018-07-10

    Abstract: 提供一种具有高热导率、高散热性并且在高频损耗小的器件基板,以及该器件基板的制造方法。本发明的器件基板1可以通过以下方法制造:使用临时贴合粘合剂31将SOI器件基板10的Si器件层侧临时贴合到支撑基板20,该SOI器件基板包括Si基础基板11、形成在Si基础基板上的具有高热导率且为电绝缘体的Box层12、和形成在Box层上的Si器件层13;去除临时贴合的SOI器件基板的Si基础基板11,直到露出Box层,从而获得减薄的器件晶片10a;使用耐热温度至少150℃的转移粘合剂32,通过施加热量和压力,将减薄的器件晶片的Box层侧与转移基板40彼此转移贴合,该转移基板具有高热导率并且是电绝缘体;以及分离支撑基板20。

    蓝宝石复合基材及其制造方法

    公开(公告)号:CN108367973A

    公开(公告)日:2018-08-03

    申请号:CN201680073809.4

    申请日:2016-12-16

    CPC classification number: B32B17/10 C03C17/34 C03C27/00 C30B29/20 C30B33/06

    Abstract: 本发明提供一种表面不易刮伤且破损时不易飞散的蓝宝石复合基材及其制造方法。具体来说,是一种包括无机玻璃基板、无机玻璃基板上的聚乙烯醇缩丁醛或二氧化硅的中间膜、以及中间膜上的单晶蓝宝石膜的蓝宝石复合基材。而且,是一种蓝宝石复合基材的制造方法,其至少包括:在单晶蓝宝石基板的内部形成离子注入层的工序;在选自由单晶蓝宝石基板的进行离子注入前的所述表面、单晶蓝宝石基板的进行了离子注入的表面以及无机玻璃基板的表面所组成的群组中的至少一个表面,形成聚乙烯醇缩丁醛或二氧化硅的中间膜的工序;经由中间膜,贴合单晶蓝宝石基板的进行了离子注入的表面与无机玻璃基板的表面而获得接合体的工序;以及经由中间膜将单晶蓝宝石膜转印至无机玻璃基板上的工序。

    复合基板
    48.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104040685B

    公开(公告)日:2016-11-02

    申请号:CN201280063158.2

    申请日:2012-12-20

    CPC classification number: H01L29/02 H01L21/02002 H01L21/2007

    Abstract: 一种复合基板,具备热传导率为5W/m·K以上且体积电阻率为1×108Ω·cm以上的无机绝缘性烧结体基板和单晶体半导体膜,或上述无机绝缘性烧结体基板、单晶体半导体膜以及介于它们之间的选自氧化物、氮化物、氮氧化物的至少一种的薄层。根据本发明,可以采用对可见光不透明、热传导性好、进而在高频区域的损耗小的廉价无机绝缘性烧结体,提供抑制了金属杂质污染的廉价复合基板。

    半导体衬底的制造方法
    50.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104701239A

    公开(公告)日:2015-06-10

    申请号:CN201510117172.1

    申请日:2007-11-12

    CPC classification number: H01L21/76254 H01L27/1266 H01L29/78603

    Abstract: 本发明提供将高品质的硅薄膜转印在低熔点物质的衬底上而成的半导体衬底。本发明的方法为:以1.5×1017atoms/cm2以上的掺杂量,将氢离子注入单结晶硅衬底(10)的表面(主面),形成氢离子注入层(离子注入损伤层)(11)。通过此氢离子注入,形成氢离子注入界面(12)。贴合单结晶硅衬底(10)和低熔点玻璃衬底(20)。以120℃以上250℃以下(但是,不超过支持衬底的熔点温度)的比较低的温度,加热贴合状态的衬底,利用赋予外部冲击,将热处理后的贴合衬底,沿着单结晶硅衬底(10)的氢离子注入界面(12),剥离Si结晶膜。然后,对所得到的硅薄膜(13)的表面进行研磨等,除去损伤,而得到半导体衬底。

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