具有镜像互连结构的可编程集成电路

    公开(公告)号:CN102763334A

    公开(公告)日:2012-10-31

    申请号:CN201080063963.6

    申请日:2010-10-20

    CPC classification number: H03K19/17796

    Abstract: 一种具有镜像互连结构的可编程集成电路(IC),其中包含水平排列的多个配置(102、104)。每一配置包含一第一逻辑行(106)、一第一互连行(108)、一第二互连行(110)、和一第二逻辑行(112),以此顺序水平地排列于所述配置内。每一互连行包含可编程互连区块(PIB 130-144、188-196、199),且每一该第一及第二逻辑行包含可编程逻辑区块(114-128、164-171)。每一可编程互连区块提供多个第一输入(174)及输出(172)端口于一侧。每一可编程逻辑区块提供第二输入(156)及输出(158)端口于一侧。在该第一互连行(108)中的每一可编程互连区块的该第一端口和该一侧与在该第二互连行(110)中的每一可编程互连区块的该第一端口和该一侧彼此呈实体上的镜像关系。在该第一互连行(108)中的可编程互连区块的该第一端口(172、174)耦接至在该第一逻辑行中的可编程逻辑区块的该第二端口(156、158、182、184、186、190、194)。在该第二互连行(110)中的可编程互连区块的该第一端口耦接至在该第二逻辑行中的可编程逻辑区块的该第二端口(160-62、176-180、198)。

    整合电容器的遮蔽
    45.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102224588A

    公开(公告)日:2011-10-19

    申请号:CN200980146567.7

    申请日:2009-10-23

    Abstract: 一种于集成电路(IC)中的电容器(220)包括:一核心电容器部分(201),具有形成于一第一层(M3)的电气连接且形成电容器的一第一节点的一部分的第一传导元件(T1、T2、T3、T4)与形成于第一层的电气连接且形成电容器的一第二节点的一部分的第二传导元件(B1、B2、B3)。第一与第二传导元件于第一传导层交替。电气连接且形成第一节点的一部分的第三传导元件(T)是形成于相邻于第一层(M3)的一第二层(M2)。该种电容器亦包括:一遮蔽电容器部分(203),具有形成于至少第一、第二、第三与第四层(M3、M2、M4、聚合)的第四传导元件(238、B、B’)。遮蔽电容器部分电气连接且形成电容器的第二节点的一部分且环绕第一与第三传导元件。

    使用分数式相位检测器的时钟产生

    公开(公告)号:CN102017420A

    公开(公告)日:2011-04-13

    申请号:CN200880128954.3

    申请日:2008-12-15

    Abstract: 本发明提供从输入信号产生具有减小的歪斜的一个或一个以上输出时钟信号的电路。所述输入信号具有从原始时钟信号的转变导出的转变,所述原始时钟信号具有与所述输出时钟信号的频率不同的频率。所述输出时钟信号的所述频率是将所述输入信号的频率与整数比相乘的乘积。所述电路包含累加器、分数式相位检测器和环路滤波器。所述累加器周期性地将数值偏移值与数值相位值相加。所述输出时钟信号是从此数值相位值产生。所述分数式相位检测器从所述数值相位值产生针对所述输入信号的所述转变中每一者的相应数值相位误差。所述环路滤波器从所述相应数值相位误差的滤波产生所述数值偏移值。

    分析电路性能特性的方法与系统

    公开(公告)号:CN1906495A

    公开(公告)日:2007-01-31

    申请号:CN200480037457.4

    申请日:2004-12-09

    Abstract: 一集成电路(IC)包含多个嵌入式测试电路,该测试电路全部都包含一连接至测试负载的环形振荡器。该测试电路是环形振荡器中的直接短路或为一代表该IC中相互连接层其中之一的相互连接负载。针对各个嵌入式测试电路来定义模型方程式,而各个模型方程式则指定其所相关连的嵌入式测试电路的输出延迟为前段制程(FEOL)与后段制程(BEOL)参数的函数。然后则解出该模型方程式而得到做为该测试电路输出延迟的函数的各种不同的FEOL与BEOL参数。最后,将所测量到的输出延迟代入这些参数方程式之中,借以产生各种不同的FEOL与BEOL参数的实际数值,借此快速地并且准确地识别相关的任何区域。

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