GaN层叠基板的制造方法
    31.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112585305A

    公开(公告)日:2021-03-30

    申请号:CN201980052719.0

    申请日:2019-08-01

    Abstract: 将偏角0.5~5度的C面蓝宝石薄膜(1t)转印至由800K下的热膨胀率比硅大、比C面蓝宝石小的陶瓷材料构成的操作基板上,从而制作GaN外延生长用基板(11);进行GaN外延生长用基板(11)的高温氮化处理而将C面蓝宝石薄膜(1t)表面用由AlN构成的表面处理层(11a)被覆;使GaN在该表面处理层(11a)上外延生长,制作表面由N极性面构成的GaN膜负载体;对GaN膜(13)进行离子注入;将经离子注入的GaN膜负载体的GaN膜侧表面与支撑基板(12)贴合以接合;在GaN膜(13)中的离子注入区域(13ion)进行剥离而将GaN薄膜(13a)转印至支撑基板(12)上,得到在支撑基板(12)上具有表面由Ga极性面构成的结晶性和平坦性良好的GaN薄膜(13a)的GaN层叠基板(10)。

    混合基板的制造方法和混合基板

    公开(公告)号:CN104488080A

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN201380039179.5

    申请日:2013-07-18

    CPC classification number: H01L21/76254

    Abstract: 本发明涉及能够投入半导体生产线的混合基板的制造方法,即,从硅基板1的表面注入离子而形成离子注入区域3,使上述硅基板的经离子注入的表面与蓝宝石基板4的表面直接或经由绝缘膜2贴合后,在上述离子注入区域3使硅基板1剥离而得到在蓝宝石基板4上具有硅薄膜(半导体层)6的混合基板8的混合基板的制造方法,其特征在于,预先在还原性气氛中将上述蓝宝石基板4进行热处理后,与硅基板1贴合。

    SOI基板的制造方法
    34.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101981654A

    公开(公告)日:2011-02-23

    申请号:CN200980111732.5

    申请日:2009-04-01

    CPC classification number: H01L21/76254 H01L27/12

    Abstract: 本发明提供了一种简便地制造SOI基板的方法,所述SOI基板为透明绝缘性基板,所述SOI基板具有:一个主表面,硅薄膜形成于该主表面上;粗糙的主表面,该粗糙的主表面位于形成所述硅薄膜一侧的相对侧。本发明提供了一种制造SOI基板的方法,所述基板至少包含透明绝缘性基板和硅薄膜,所述硅薄膜形成于作为所述透明绝缘性基板一个主表面的第一主表面上,而所述透明绝缘性基板的第二主表面是粗糙的,所述第二主表面为与第一主表面相对侧的主表面。所述方法至少包含下述工序:制备所述透明绝缘性基板的工序,作为所述透明绝缘性基板,所述第一主表面按RMS值计的表面粗糙度小于0.7nm,并且所述第二主表面按RMS值计的表面粗糙度大于所述第一主表面的表面粗糙度;以及在所述透明绝缘性基板的第一主表面上形成硅薄膜的工序。

    SOI晶片的制造方法

    公开(公告)号:CN101978467A

    公开(公告)日:2011-02-16

    申请号:CN200980110193.3

    申请日:2009-03-23

    CPC classification number: H01L21/76254 H01L21/30608

    Abstract: 本发明提供一种制造SOI晶片的方法,该方法能够有效去除存在于离子注入层中的离子注入缺陷层,所述离子注入层位于通过离子注入剥离方法剥离的剥离表面附近;确保基板的面内均一性;还能实现低成本和高产量。所述制造SOI晶片的方法至少包括以下工序:将硅晶片或含有氧化膜的硅晶片与支撑晶片贴合以制备贴合基板的工序,所述硅晶片通过注入氢离子和/或稀有气体离子而形成离子注入层;沿所述离子注入层进行剥离,从而将所述硅晶片转印至所述支撑晶片上,制成剥离后的SOI晶片的工序;将所述剥离后的SOI晶片在氨-过氧化氢水溶液中浸渍的工序;对经过所述氨-过氧化氢水溶液浸渍的剥离后的SOI晶片施以900℃以上的热处理的工序;和/或通过10-50nm的CMP研磨,对所述经过氨-过氧化氢水溶液浸渍的剥离后的SOI晶片的硅膜层进行研磨的工序。

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