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公开(公告)号：CN105021926B
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201510424121.3
申请日：2015-07-17
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及一种动量轮测试装置及测试方法，测试装置包括支架、轴承、旋转平台、预紧限位装置、安装转接板、压电加速度计、处理线路。旋转平台，通过轴承连接到支架，随轴承在限位角度范围内旋转，旋转平台上端开有矩形槽；预紧限位装置固定于支架的竖直部，具有两个凸出的矩形齿，两个凸出的矩形齿设置在矩形槽内限制旋转平台的旋转范围；被测动量轮的壳体安装在安装转接板上，当轮体加速转动时，由于反作用力矩，壳体会带动自由旋转平台作反向旋转，导致压电加速度计与预紧限位装置的矩形齿触碰，该压电加速度计给出电信号，反映轮体的加速方向。本发明采用一套装置同时实现了动量轮的极性测试和闭路测试，减小了拆装次数，简化了测试流程。
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公开(公告)号：CN106656147A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201610827504.X
申请日：2016-09-14
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: H03K19/003 , H03K19/09 , H03K5/00
Abstract: 本发明公开了一种遥控接口输出保护装置，包括数字电路、调理电路、可编程逻辑器件CPLD、NPN型三极管Q2和控制器；数字电路产生电平控制信号，调理电路通过可编程逻辑器件CPLD采集并处理所述电平控制信号，控制器通过调节NPN型三极管Q2对可编程逻辑器件CPLD进行控制，从而保护调理电路；本发明通过可编程逻辑器件CPLD采集并处理进入调理电路的信号，实现了调理电路的多级保护，解决了传统的调理电路三极管失效后，高电平输出不受输入端控制的问题；通过在电路的三个位置设置指示灯，有效反映了输入信号、输出信号和电压通断的情况，达到了故障检测快速定位的效果，弥补了不易发现星上产品异常开关的技术缺陷。
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公开(公告)号：CN106155041A
公开(公告)日：2016-11-23
申请号：CN201610446522.3
申请日：2016-06-20
Applicant: 北京控制工程研究所
CPC classification number: G05B23/0289 , G01C25/00
Abstract: 本发明公开了一种可重构测试设备适配装置及测试方法，属于自动化测试领域。该装置包括上位机和多个适配箱，每个适配箱由继电器模块、控制模块、状态监控模块、多个输入接口和多个输出接口组成，可以同时将各种类型的测试设备接入到测试系统中，在测试过程中可以对各个设备的不同部件，如电性模拟件、模拟器、真件等进行在线切换，而不必通过插拔电缆来切换设备，同时，该适配箱装置具备自主状态监测功能，能够在线监测设备的切换状态，与用户配置的状态进行比对，给出符合情况。本发明显著提升了测试的便利性、可靠性和自动化水平，具有较大的应用价值。
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公开(公告)号：CN103466103B
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201310372791.6
申请日：2013-08-23
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 一种太阳敏感器故障情况下的对日定向姿态控制方法，利用单轴姿态测量实现双轴的太阳定向稳定控制。当其中一个太阳敏感器发生故障失效时，可利用另外一个健康的太阳敏感器测量信息，结合陀螺角速度测量，利用观测方程重构故障轴上的姿态，从而实现对日定向时的稳定姿态控制。本发明方法具有在太阳敏感器单轴测量故障情况下依然能够实现对日定向的能力，在实现上不需要在卫星上额外增加新的姿态测量设备，只需要在星上控制计算机内通过软件实现本方法即可实现故障情况下的双轴姿态控制，具有实现经济简单的特点，可用作卫星对日定向的一种备份方式。
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公开(公告)号：CN102799172B
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201210241989.6
申请日：2012-07-13
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明公开了一种卫星控制推进分系统测试时向星上部件发送遥控指令的遥控模拟器，包括上电断电监控电路和指令脉冲供电控制电路。本发明利用电源监控芯片控制+5V和+12V上电和断电时序，通过监控电源，保证加断电时不会误发遥控指令脉冲。同时，对遥控指令输出接口+12V供电电路采取了软件和硬件双重监控，在上电和断电过程中没有误发指令，长时间工作稳定可靠，解决了遥控模拟器断电过程中误发遥控指令的问题，杜绝了发送长高遥控指令，为确保星上产品安全提供了良好的技术手段。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106525075B
公开(公告)日：2019-04-30
申请号：CN201610916445.3
申请日：2016-10-20
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明涉及一种粗太阳敏感器微小型物理信号激励装置及粗太阳敏感器闭路测试方法和动态激励方法，该装置包括模拟光源、XYZ三轴滑块、双轴微型转台、控制箱、上位机软件。模拟太阳光源固定在支架上，在空间中位置不变，向下发出平行灯光，模拟太阳照射光。粗太阳敏感器被安装到粗太敏安装架上，可进行3自由度的线性运动以及2自由度的角运动。上位机软件设置三轴位置以及两轴角度，将设置信号通过网络发送给控制箱，控制箱控制各点机的转动以实现位置和角度的调整。不但能够对粗太阳敏感器进行动态性能考核，而且能够将粗太阳敏感器引入控制分系统闭路测试，解决了传统测试过程只能进行静态测试以及无法引入闭路测试的问题。
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公开(公告)号：CN106526353B
公开(公告)日：2019-03-12
申请号：CN201610885527.6
申请日：2016-10-10
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 一种推力器高可靠易配置等效模拟装置，包括壳体(1)、第一电感器(2)、第二电感器(3)、第一电阻器(4)、第二电阻器(5)、绝缘压片(8)、出线片(10)和外导线(11)。壳体(1)的内部包含一个圆柱形空间，内部从下往上依次安装第一电感器(2)、第二电感器(3)和绝缘压片(8)，第一电感器(2)和第二电感器(3)之间设有第一绝缘导热胶(6)，第二电感器(3)和绝缘压片(8)之间设有第二绝缘导热胶(7)；第一电阻器(4)和第二电阻器(5)分别安装在壳体(1)外部的侧面上，外导线(11)依次将第一电阻器(4)、第二电阻器(5)、第一电感器(2)、第二电感器(3)串联连接，并对外引出两个引线。
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公开(公告)号：CN106155041B
公开(公告)日：2018-08-07
申请号：CN201610446522.3
申请日：2016-06-20
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明公开了种可重构测试设备适配装置及测试方法,属于自动化测试领域。该装置包括上位机和多个适配箱,每个适配箱由继电器模块、控制模块、状态监控模块、多个输入接口和多个输出接口组成,可以同时将各种类型的测试设备接入到测试系统中,在测试过程中可以对各个设备的不同部件,如电性模拟件、模拟器、真件等进行在线切换,而不必通过插拔电缆来切换设备,同时,该适配箱装置具备自主状态监测功能,能够在线监测设备的切换状态,与用户配置的状态进行比对,给出符合情况。本发明显著提升了测试的便利性、可靠性和自动化水平,具有较大的应用价值。
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公开(公告)号：CN106526353A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201610885527.6
申请日：2016-10-10
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/00
Abstract: 一种推力器高可靠易配置等效模拟装置，包括壳体(1)、第一电感器(2)、第二电感器(3)、第一电阻器(4)、第二电阻器(5)、绝缘压片(8)、出线片(10)和外导线(11)。壳体(1)的内部包含一个圆柱形空间，内部从下往上依次安装第一电感器(2)、第二电感器(3)和绝缘压片(8)，第一电感器(2)和第二电感器(3)之间设有第一绝缘导热胶(6)，第二电感器(3)和绝缘压片(8)之间设有第二绝缘导热胶(7)；第一电阻器(4)和第二电阻器(5)分别安装在壳体(1)外部的侧面上，外导线一电感器(2)、第二电感器(3)串联连接，并对外引出两个引线。(11)依次将第一电阻器(4)、第二电阻器(5)、第
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公开(公告)号：CN106525075A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201610916445.3
申请日：2016-10-20
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01C25/00
CPC classification number: G01C25/00
Abstract: 本发明涉及一种粗太阳敏感器微小型物理信号激励装置及粗太阳敏感器闭路测试方法和动态激励方法，该装置包括模拟光源、XYZ三轴滑块、双轴微型转台、控制箱、上位机软件。模拟太阳光源固定在支架上，在空间中位置不变，向下发出平行灯光，模拟太阳照射光。粗太阳敏感器被安装到粗太敏安装架上，可进行3自由度的线性运动以及2自由度的角运动。上位机软件设置三轴位置以及两轴角度，将设置信号通过网络发送给控制箱，控制箱控制各点机的转动以实现位置和角度的调整。不但能够对粗太阳敏感器进行动态性能考核，而且能够将粗太阳敏感器引入控制分系统闭路测试，解决了传统测试过程只能进行静态测试以及无法引入闭路测试的问题。
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