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公开(公告)号：CN119178665A
公开(公告)日：2024-12-24
申请号：CN202411186552.6
申请日：2024-08-27
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本申请涉及一种脂润滑伪布压痕与微动磨蚀轴承试验机，包括：安装机架；驱动机构，包括驱动电机以及平行传动组件，驱动电机设于安装机架，平行传动组件平行连接驱动电机的输出端与待测轴承的摆动环；测试机构，设于安装机架，并用于安装待测轴承的固定环；以及加载机构，设于安装机架，并对测试机构加载；驱动电机驱动平行传动组件带动待测轴承在测试机构中往复摆动。平行传动组件采用平行传动的方式连接测试机构中的待测轴承，以在摆动条件下精确传递扭矩不会产生附加的轴向力或法向力，进而不会产生结构性冲击力，这样无需设置支撑体以平衡附加力，简化驱动机构的结构复杂程度以及控制难度，提高试验精度与重复性，保证试验结果的准确性。
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公开(公告)号：CN111721677B
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN202010460736.2
申请日：2020-05-27
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N15/02
Abstract: 本申请涉及一种颗粒粒径测量方法、装置、计算机设备和存储介质。基于多个角度与多个角度颗粒粒径、多个样品浓度与多个第一颗粒粒径，分别对多个角度颗粒粒径、多浓度条件下颗粒粒径采用多项式拟合的数学方法进行拟合，获得颗粒粒径随角度、浓度变化的趋势，进行回归分析预测，可以根据实际样本数据建立自变量与因变量的关系，进而预测出0°散射角和0样品浓度条件下对应的颗粒粒径。通过所述颗粒粒径测量方法可以消除颗粒间长程作用力、大颗粒自身散射信号互相干涉带来的粒径测量误差，解决了单一角度测量无法分析和消除误差的问题，并且解决了不同仪器、不同浓度和类型样品测量结果偏差大的问题。
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公开(公告)号：CN113447406A
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN202110767211.8
申请日：2021-07-07
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明涉及一种一种基于FPGA的多通道动态光散射自相关系统及方法，系统包括：动态光散射发生装置、光子相关器和上位机；光子相关器包括FPGA和USB通讯模块；动态光散射发生装置与FPGA连接；FPGA用于将动态光散射发生装置产生的光子脉冲进行计数和相关计算；USB通讯模块与上位机连接；上位机用于根据计数结果和相关计算结果确定颗粒信息；FPGA包括双计数器模块和相关计算模块；双计数器模块分别与动态光散射发生装置和相关计算模块连接；相关计算模块与USB通讯模块连接；双计数器模块包括多个双计数器；相关计算模块包括多个相关器。本发明能够实现多角度同时采集和计算样品的粒径和分布。
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公开(公告)号：CN113375573A
公开(公告)日：2021-09-10
申请号：CN202110795986.6
申请日：2021-07-14
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种椭偏测量初始入射角校准装置及方法，其中校准装置包括平移装置、第一俯仰调节装置、第二俯仰调节装置和中间调节装置。平移装置包括平移平台、CCD相机和远心镜头，远心镜头可拆卸式安装于CCD相机上，CCD相机在平移平台上平移；第一俯仰调节装置包括第一俯仰偏摆调节平台和安装于第一俯仰偏摆调节平台上的自准直仪；第二俯仰调节装置包括第二俯仰偏摆调节平台和安装于第二俯仰偏摆调节平台上的稳频激光器；中间调节装置包括位置调节平台和安装于位置调节平台上的五棱镜。相比于现有技术，本发明能够实现自准直仪光轴与CCD相机运动轴成90°，稳频激光器光轴与CCD相机运动轴成180°，从而完成椭偏测量初始90°入射角的校准。
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公开(公告)号：CN111739830A
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN202010719317.6
申请日：2020-07-23
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: H01L21/677
Abstract: 本发明公开了一种多维纳米位移装置，包括固定框架、移动框架、移动台、第一驱动装置和第二驱动装置，移动框架套在移动台外周并与移动台形成柔性连接，且移动框架内壁与移动台外壁之间有间隙，固定框架套在移动框架外周并与移动框架形成柔性连接，固定框架内壁与移动框架外壁之间有间隙，移动台中部用于放置待测样品，固定框架的一侧框上固定设有至少两个第一驱动装置，第一驱动装置驱动移动框架和移动台往复移动，移动框架的一侧框上固定设有至少一个第二驱动装置，第二驱动装置驱动移动台往复移动，第一驱动装置的驱动方向与第二驱动装置的驱动方向垂直，该多维纳米位移装置能够提高重载大行程的纳米位移精度，以及修正运动过程中的偏摆。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110208936A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910468723.7
申请日：2019-05-31
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开一种用于共聚焦显微镜探测针孔的纳米级微位移调节装置，由设置在下基座上的驱动器支撑上基座并对其进行快速、大行程的一级调节，由安装在上基座上的三维精密微位移平台对针孔盘进行三维方向的精密二级调节，通过上述双级调节可有效消除传统手动调节方式所带来的不确定性和不稳定性，以及现有光路调整机构可调行程小和应用范围受限的缺陷，并且上述一级大行程快速调节部分和二级精密微调部分可单独使用，以应用于相应需求场合。本发明通过控制器控制其进行纳米微位移调节，可使装置在工作过程中运行稳定、重复性好，从而使调节精度得到保障，实用性强。
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公开(公告)号：CN108287126A
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201810243972.1
申请日：2018-03-23
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N15/02
Abstract: 本申请提供一种纳米颗粒粒径测量系统，激光光源将激光从入射装置中发出，入射光通过入射光通孔射入散射发生装置。散射发生装置设置有多个入射光通孔与多个出射光通孔。多个入射光通孔与多个所述出射光通孔设置于同一水平面。每个信号探测接收器对应一个所述出射光通孔，用于接收出射光通孔发出的出射光。纳米颗粒粒径测量系统在多个角度上对待测纳米颗粒的同一散射中心进行同时测量，能获得散射中心纳米颗粒的更多有效信息，尤其对于双峰分布的颗粒体系，测量更加准确。此外，纳米颗粒粒径测量系统内设置有偏振光路，通过测量偏振入射光经过散射体后偏振方向的改变，实现对棒状纳米颗粒的长径比的测量求解。
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公开(公告)号：CN107102174A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201710344657.3
申请日：2017-05-16
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01Q70/16
CPC classification number: G01Q70/16
Abstract: 一种用于针尖型扫描显微测量装置的特种探针的制作方法，通过电化学反应使金属丝一端形成尖锐的针尖；阻止已形成的针尖继续被腐蚀；使金属丝其他部分形成特殊几何形貌的轮廓；其制备装置包括底座、支撑立柱、钨丝定位装置、安装基板和电解槽定位装置，在底座上垂直固定有两个相互平行的支撑立柱和电解槽定位装置，两个支撑立柱的上部固定有安装基板，在安装基板上装有金属丝定位装置；还配备有电解电源和控制装置。实现了精确地控制用于制备探针的金属丝的位移；对电化学反应状态和终点进行准确的探测与控制。具有低成本、高精度地批量制作各类具有特殊形貌轮廓的优点。
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公开(公告)号：CN117430079A
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202311464577.3
申请日：2023-11-07
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: B81C1/00
Abstract: 本发明公开了一种基于自组装材料图案化微纳关键尺寸及其制备方法，硫醇SAM制备条件简单、结构稳定有序，在表面改性、电化学、生物传感器、分子电子学等诸多领域均有应用，且研究较为深入，本发明也因其稳定有序的结构特点，将其作为自组装单层物质的制备材料，硫醇分子由巯基、碳链、官能团组成，以正烷硫醇为例，官能团为甲基，使其具有疏水性；巯基对衬底产生吸附作用，在自组装过程中最为重要；碳链的长度决定了最终形成的SAM层的厚度，碳原子成“之”字形排列，形成全反式构象，使其具有热力学稳定性，且链之间的相互吸引力有助于稳定自组装膜结构，所制备的自组装材料具有均匀性和稳定性好的特点。
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公开(公告)号：CN108444416A
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201810606901.3
申请日：2018-06-13
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01B15/00
Abstract: 本发明公开了一种用于长度测量校准的标准器组，其包括底座、支撑棒和标准球，所述底板上设置有若干通孔，所述支撑棒的一端设置在所述通孔中，所述支撑棒的另一端设置有一球窝，所述标准球设置在所述球窝内，所述标准球与所述球窝底面之间设置有粘接剂。本发明中采用在棒的顶端加工球窝，并通过粘接剂将标准球进行固定的方式，使得不对标准球进行任何破坏性加工，避免了标准球上破损导致测量结果准确性降低的问题，使得CT测量过程中可以充分利用整个球面，提高了测量结果的准确性。
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