测试系统
    22.
    实用新型

    公开(公告)号:CN215493962U

    公开(公告)日:2022-01-11

    申请号:CN202121130453.8

    申请日:2021-05-25

    Abstract: 本申请实施例提供了一种测试系统,包括:网络分析仪、一对射频探针以及支撑结构;支撑结构,包括硬质板和支架;待测挠性电路板固定在硬质板上,待测挠性电路板包括多条不同规格的信号传输线;支架用于支撑硬质板;网络分析仪与第一射频探针连接,向第一射频探针发送测试信号;第一射频探针与信号传输线的输入端电连接,向信号传输线输入测试信号;第二射频探针与信号传输线的输出端电连接,从信号传输线的输出端接收通过信号传输线传输的测试信号。网络分析仪与一对射频探针中的第二射频探针连接,从第二射频探针接收测试信号。本申请提供的测试系统对信号传输线的损耗测试更加的准确,进而能够提升挠性电路板的性能指标以及信号传输的质量。

    测试系统
    23.
    实用新型

    公开(公告)号:CN216645400U

    公开(公告)日:2022-05-31

    申请号:CN202122713463.0

    申请日:2021-11-08

    Abstract: 本实用新型提供一种测试系统,测试系统包括:信号源模块,与待测件连接,用于为待测件提供功率信号;温度采集模块,与待测件连接,用于对待测件在功率信号下的温度进行监测。本实用新型的测试系统通过使用信号源模块和温度采集模块测试待测件的温升系数,将信号源模块和温度采集模块分别与待测件连接,通过信号源模块用于为待测件提供功率信号,通过温度采集模块用于对待测件在功率信号下的温度进行监测,以快速获得材料在高功率条件下的温升系数,为研究人员提供高效便捷直观的试验结果,并且帮助加快电子器件的研发进程,帮助研发人员研究温度对器件的寿命和可靠性的影响。

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