非易失性存储器装置和存储装置及其操作方法

    公开(公告)号:CN104934067B

    公开(公告)日:2019-11-01

    申请号:CN201510119045.5

    申请日:2015-03-18

    Abstract: 提供一种非易失性存储器装置和存储装置及其操作方法。根据示例实施例,一种操作存储装置的方法包括:使用存储器控制器读取工序能力指数;基于工序能力指数调节至少一个操作条件;根据调节的所述至少一个操作条件来操作至少一个非易失性存储器装置中的一个非易失性存储器装置。所述工序能力指数指示与将被操作的存储器单元相关联的结构如何偏离目标形状。

    包括非易失性存储设备的存储系统及其编程方法

    公开(公告)号:CN103971739B

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201410045093.X

    申请日:2014-02-07

    Inventor: 郭东勋 朴起台

    CPC classification number: G11C16/10 G11C11/5628 G11C16/22

    Abstract: 一种存储系统及其编程方法。存储系统包括:非易失性存储设备;以及存储控制器,被配置为控制所述非易失性存储设备,使得通过第一编程模式和第二编程模式中的一个对与所述非易失性存储设备的所选择的行相连接的存储单元进行编程。在所述第一编程模式,将数目与最大页数目相对应的多个逻辑页存储在所述存储单元;以及在所述第二编程模式,使用与在所述第一编程模式中使用的不同的偏置条件将数目小于所述最大页数目的一个或多个逻辑页存储在所述存储单元。

    非易失性存储器件中的擦除方法

    公开(公告)号:CN101393774B

    公开(公告)日:2013-01-30

    申请号:CN200810175617.1

    申请日:2008-06-11

    CPC classification number: G11C16/14

    Abstract: 一种在非易失性存储器件中的后编程的擦除方法。该方法包括:后编程伪存储单元;验证所述伪存储单元的阈值电压是否大于或等于第一电压;后编程普通存储单元;并且验证所述普通存储单元的阈值电压是否大于或等于第二电压。所述第一电压与所述第二电压不同。

    闪存设备中恢复数据的方法和相关闪存设备存储系统

    公开(公告)号:CN101221813B

    公开(公告)日:2012-11-21

    申请号:CN200710306135.0

    申请日:2007-10-22

    CPC classification number: G11C16/349 G11C16/3495

    Abstract: 在包括闪存设备和控制闪存设备的存储控制器的存储系统中设置读取电压的方法,包括顺序改变分布读取电压以从闪存设备读取页数据;构成具有数据位号和分布读取电压的分布表,该数据位号指示分别从闪存设备读取的页数据中的擦除状态,分布读取电压对应于读取页数据;根据分布表检测对应于数据位号的分布读取电压,每个数据位号表示存储单元的可能的单元状态的最大点;并根据检测的分布读取电压定义新的读取电压。

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