公开(公告)号：CN110231299B

公开(公告)日：2023-07-14

申请号：CN201910144958.0

申请日：2019-02-27

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 堀田和希 ,  河田阳一 ,  中西笃司 ,  藤田和上 ,  高桥宏典 ,  里园浩

IPC: G01N21/3581 ,  G01N21/35

Abstract: 本发明的光学测量装置(1)具备：光源(2)，其输出太赫兹波(T)和与太赫兹波(T)同轴且具有与该太赫兹波(T)不同的波长的同轴光(I)；强度调制部(3)，其以规定的调制频率对太赫兹波(T)和同轴光(I)中的至少太赫兹波(T)进行强度调制；以及光检测部(5)，其基于调制频率(f1)而分别对经强度调制部(3)作用于被测量物(S)的太赫兹波(T)和同轴光(I)进行同步检波。

公开(公告)号：CN110967781A

公开(公告)日：2020-04-07

申请号：CN201910903036.3

申请日：2019-09-24

Applicant: 浜松光子学株式会社 ,  帝人株式会社

Inventor： 河田阳一 ,  高桥宏典 ,  池田吉纪 ,  添田淳史

IPC: G02B1/11 ,  G02B1/111 ,  G02B1/115 ,  G02B1/10

Abstract: 本发明提供一种太赫兹波用光学元件，其具备：光学部件，其具有硅表面；防反射膜，其具有以环烯烃类聚合物为主成分的有机树脂、及分散在该有机树脂中的无机颗粒；粘接层，其在防反射膜的厚度方向上位于光学部件及防反射膜之间，粘接光学部件的硅表面及防反射膜。粘接层含有热改性后的烯烃类聚合物。

公开(公告)号：CN110914964A

公开(公告)日：2020-03-24

申请号：CN201880047460.6

申请日：2018-06-13

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 须山本比吕 ,  高桥宏典 ,  中村共则

IPC: H01L21/66 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明提供一种适于动作状态的检查的半导体晶圆。晶圆为具有多个芯片形成区域的半导体晶圆，且具备：形成于芯片形成区域内的内存单元；及形成于芯片形成区域内的检查用器件，且检查用器件具有：光电二极管，其接收用于内存单元的动作确认的泵浦光的输入，并输出对应于该泵浦光的电信号；及信号处理电路，其基于自光电二极管输出的电信号产生逻辑信号，并将该逻辑信号向内存单元输出。

公开(公告)号：CN110892517A

公开(公告)日：2020-03-17

申请号：CN201880047476.7

申请日：2018-06-13

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 须山本比吕 ,  高桥宏典 ,  中村共则

IPC: H01L21/66 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明提供一种适于动作状态的检查的半导体晶圆。晶圆为具有多个芯片形成区域的半导体晶圆，且具备：形成于芯片形成区域内的内存单元，及形成于芯片形成区域外的检查用器件；检查用器件具有：光电二极管，其接收用于内存单元的动作确认的泵浦光的输入，并输出对应于该泵浦光的电信号；及信号处理电路，其基于自光电二极管输出的电信号产生逻辑信号，并将该逻辑信号向内存单元输出。

公开(公告)号：CN111538114A

公开(公告)日：2020-08-14

申请号：CN202010080515.2

申请日：2020-02-05

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 中西笃司 ,  高桥宏典

IPC: G02B5/04 ,  G02B27/10

Abstract: 本发明提供一种光学元件。该光学元件包括主体部(2)，该主体部由可透射第一光(L1)和波长比第一光(L1)长的第二光(L2)的介质构成，主体部(2)具有供第一光(L1)和第二光(L2)入射的入射区域(5)，在主体部(2)的内部设置有相对于入射区域(5)倾斜的间隙(7)，在该间隙配置有与主体部(2)相比对第一光(L1)和第二光(L2)的折射率低的介质，自主体部(2)与间隙(7)的界面(R)起的间隙宽度(W)比界面(R)的第一光(L1)的倏逝波(E1)的穿透深度(T1)大，且比界面R的第二光(L2)的倏逝波(E2)的穿透深度(T2)小。本发明能够高效率地将彼此不同波长的光分波/合波。

公开(公告)号：CN107209055B

公开(公告)日：2019-03-29

申请号：CN201680005713.4

申请日：2016-01-13

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 北浦隆介 ,  石原正敏 ,  山崎理弘 ,  高桥宏典

IPC: G01J1/02 ,  G01N21/3581 ,  G01R29/08 ,  H01Q19/30

Abstract: 本发明的辐射热计型THz检测器具备接收并放射波长λ的THz波的指向性天线(1)、与指向性天线(1)相对配置的收信天线(2)、及检测由流经收信天线(2)的电流引起的发热的辐射热计(4)，且指向性天线(1)在俯视时与收信天线(2)重叠，指向性天线(1)的长度方向长被设定为比收信天线(2)的长度方向长要短。

公开(公告)号：CN103779781A

公开(公告)日：2014-05-07

申请号：CN201410040066.3

申请日：2007-07-11

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 山本晃永 ,  森口俊治 ,  大石真吾 ,  藤本正俊 ,  坂本繁 ,  高桥宏典 ,  伊藤晴康 ,  河田阳一 ,  青岛伸一郎

IPC: H01S3/23 ,  H01S3/00

CPC classification number: H01S3/2333 ,  H01S3/0057 ,  H01S3/027 ,  H01S3/0407 ,  H01S3/042 ,  H01S3/0606 ,  H01S3/0621 ,  H01S3/0623 ,  H01S3/08095 ,  H01S3/083 ,  H01S3/09415 ,  H01S3/2316 ,  H01S3/2325 ,  H01S3/235

Abstract: 本发明提供一种小型化、高输出化以及稳定化容易的光放大装置。光放大装置（1A）具备光放大部（10A）和能量供给部（30）。光放大部（10A）包括光放大介质（11）和透明介质（12）。能量供给部（30）是向光放大介质（11）供给激发能量（例如激发光）的装置。光放大介质（11）接受该激发光的供给将光放大并将其输出。并且，透明介质（12）是使光放大介质（11）中的被放大光多次通过的介质。透明介质（12），例如能够使被放大光在其内部曲折地传播。

公开(公告)号：CN101490914A

公开(公告)日：2009-07-22

申请号：CN200780026392.7

申请日：2007-07-11

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 山本晃永 ,  森口俊治 ,  大石真吾 ,  藤本正俊 ,  坂本繁 ,  高桥宏典 ,  伊藤晴康 ,  河田阳一 ,  青岛伸一郎

IPC: H01S3/10

CPC classification number: H01S3/2333 ,  H01S3/0057 ,  H01S3/027 ,  H01S3/0407 ,  H01S3/042 ,  H01S3/0606 ,  H01S3/0621 ,  H01S3/0623 ,  H01S3/08095 ,  H01S3/083 ,  H01S3/09415 ,  H01S3/2316 ,  H01S3/2325 ,  H01S3/235

Abstract: 提供一种小型化、高输出化以及稳定化容易的光放大装置。光放大装置(1A)具备光放大部(10A)和能量供给部(30)。光放大部(10A)包括光放大介质(11)和透明介质(12)。能量供给部(30)是向光放大介质(11)供给激发能量(例如激发光)的装置。光放大介质(11)接受该激发光的供给将光放大并将其输出。并且，透明介质(12)是使光放大介质(11)中的被放大光多次通过的介质。透明介质(12)，例如能够使被放大光在其内部曲折地传播。