公开(公告)号：CN110095430A

公开(公告)日：2019-08-06

申请号：CN201910081149.X

申请日：2019-01-28

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 中西笃司 ,  藤田和上 ,  堀田和希

IPC: G01N21/3581 ,  G01N21/359 ,  G01N21/35 ,  G01N21/31

Abstract: 太赫兹波分光测量装置包括：光源，出射太赫兹波和具有与太赫兹波不同的波长的探测光；内部全反射棱镜，具有太赫兹波的入射面、载置被测定物的载置面以及太赫兹波的出射面，使从入射面入射的太赫兹波在载置面被内部全反射并从出射面出射；以及太赫兹波检测部，使用探测光间接地检测从出射面出射的太赫兹波。内部全反射棱镜具有避免探测光入射到载置面上的被测定物的回避部。

公开(公告)号：CN110231299B

公开(公告)日：2023-07-14

申请号：CN201910144958.0

申请日：2019-02-27

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 堀田和希 ,  河田阳一 ,  中西笃司 ,  藤田和上 ,  高桥宏典 ,  里园浩

IPC: G01N21/3581 ,  G01N21/35

Abstract: 本发明的光学测量装置(1)具备：光源(2)，其输出太赫兹波(T)和与太赫兹波(T)同轴且具有与该太赫兹波(T)不同的波长的同轴光(I)；强度调制部(3)，其以规定的调制频率对太赫兹波(T)和同轴光(I)中的至少太赫兹波(T)进行强度调制；以及光检测部(5)，其基于调制频率(f1)而分别对经强度调制部(3)作用于被测量物(S)的太赫兹波(T)和同轴光(I)进行同步检波。

公开(公告)号：CN111272689B

公开(公告)日：2024-08-02

申请号：CN201911220474.6

申请日：2019-12-03

Applicant: 浜松光子学株式会社 ,  国立医药品食品卫生研究所

Inventor： 秋山高一郎 ,  堀田和希 ,  高桥宏典 ,  里园浩 ,  坂本知昭

IPC: G01N21/3581 ,  G01N21/3577

Abstract: 本发明提供一种发酵状态监视装置及发酵状态监视方法，该发酵状态监视装置包括：太赫兹波产生元件，其相对于密闭的产品容器P内的发酵中的发酵食品输出太赫兹波T的检查光；太赫兹波检测元件，其检测由产品容器内的发酵食品反射的检查光的返回光；判定部，其基于包含返回光相对于检查光的反射率或返回光相对于检查光的吸收系数的指标值，判定发酵食品的发酵进度。

公开(公告)号：CN110095430B

公开(公告)日：2023-06-30

申请号：CN201910081149.X

申请日：2019-01-28

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 中西笃司 ,  藤田和上 ,  堀田和希

IPC: G01N21/3581 ,  G01N21/359 ,  G01N21/35 ,  G01N21/31

Abstract: 太赫兹波分光测量装置包括：光源，出射太赫兹波和具有与太赫兹波不同的波长的探测光；内部全反射棱镜，具有太赫兹波的入射面、载置被测定物的载置面以及太赫兹波的出射面，使从入射面入射的太赫兹波在载置面被内部全反射并从出射面出射；以及太赫兹波检测部，使用探测光间接地检测从出射面出射的太赫兹波。内部全反射棱镜具有避免探测光入射到载置面上的被测定物的回避部。

公开(公告)号：CN111272689A

公开(公告)日：2020-06-12

申请号：CN201911220474.6

申请日：2019-12-03

Applicant: 浜松光子学株式会社 ,  国立医药品食品卫生研究所

Inventor： 秋山高一郎 ,  堀田和希 ,  高桥宏典 ,  里园浩 ,  坂本知昭

IPC: G01N21/3581 ,  G01N21/3577

Abstract: 本发明提供一种发酵状态监视装置及发酵状态监视方法，该发酵状态监视装置包括：太赫兹波产生元件，其相对于密闭的产品容器P内的发酵中的发酵食品输出太赫兹波T的检查光；太赫兹波检测元件，其检测由产品容器内的发酵食品反射的检查光的返回光；判定部，其基于包含返回光相对于检查光的反射率或返回光相对于检查光的吸收系数的指标值，判定发酵食品的发酵进度。

公开(公告)号：CN110231299A

公开(公告)日：2019-09-13

申请号：CN201910144958.0

申请日：2019-02-27

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 堀田和希 ,  河田阳一 ,  中西笃司 ,  藤田和上 ,  高桥宏典 ,  里园浩

IPC: G01N21/3581 ,  G01N21/35

Abstract: 本发明的光学测量装置(1)具备：光源(2)，其输出太赫兹波(T)和与太赫兹波(T)同轴且具有与该太赫兹波(T)不同的波长的同轴光(I)；强度调制部(3)，其以规定的调制频率对太赫兹波(T)和同轴光(I)中的至少太赫兹波(T)进行强度调制；以及光检测部(5)，其基于调制频率(f1)而分别对经强度调制部(3)作用于被测量物(S)的太赫兹波(T)和同轴光(I)进行同步检波。