光刻用防尘薄膜组件及其制造方法

    公开(公告)号:CN102405440A

    公开(公告)日:2012-04-04

    申请号:CN201080017536.4

    申请日:2010-02-02

    CPC classification number: G03F1/62 B82Y10/00 B82Y40/00 G03F1/24 G03F1/64

    Abstract: 本发明的光刻用防尘薄膜组件包括单晶硅防尘薄膜组件膜(10),此防尘薄膜组件膜(10)由包含外框部(20a)和此外框部(20a)的内侧区域的多孔部(网状结构)(20b)的支撑部件(20)支撑着。另外,为了防止防尘薄膜组件膜(10)的表面氧化,而形成了被覆单晶硅膜露出在外部的部分的抗氧化膜(30a、30b)。支撑部件(20)是通过加工SOI基板的操作基板而获得的,单晶硅防尘薄膜组件膜(10)是由SOI基板的SOI层所获得。防尘薄膜组件膜(10)和支撑部件(20)牢固地结合在一起,所以可以确保充分的机械强度。

    防护薄膜组件及其制造方法

    公开(公告)号:CN101587294A

    公开(公告)日:2009-11-25

    申请号:CN200910138995.7

    申请日:2009-05-21

    CPC classification number: G03F1/64 G03F1/62

    Abstract: 一种防护薄膜组件,其使用SOI基板,并从单一基板制作出由单晶硅膜所作成的防护薄膜(11)与支持该防护薄膜的基底基板(12),在基底基板(12)上设置开口部,若防护薄膜组件使用于光掩模上时的曝光区域的面积为100%,让该开口部占曝光区域面积的60%(开口比)以上,同时在基底基板的非曝光区域上设置补强框(12a)。藉由从单一基板制作出防护薄膜(11)与支持该防护薄膜的基底基板(12)(一体化结构)以及在基底基板上设置补强框,而获得强度增加的效果。又,以自属于{100}面群以及{111}面群的其中任一个晶格面倾斜3°~5°的结晶面作为单晶硅膜(11)的主面。

    防护薄膜组件及防护薄膜组件之制造方法

    公开(公告)号:CN101414118A

    公开(公告)日:2009-04-22

    申请号:CN200810149932.7

    申请日:2008-10-17

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种防护薄膜组件,其具备实用的EUV用防护薄膜,该薄膜具有优异的高透光性与化学安定性。本发明之防护薄膜组件10,使用对13.5nm波长的光的吸收系数在0.005/nm以下的硅结晶膜作为防护薄膜11。因为硅结晶膜是间接跃迁型的半导体膜,故光吸收系数相对比较低,特别是单结晶硅膜,跟非晶质硅膜或多结晶硅膜比较起来吸收系数更低,故能轻易满足EUV用防护薄膜所需要的透光率。该等防护薄膜可从薄膜化SOI基板(包含SOQ基板或SOG基板)所得到的SOI膜制得。若从SOI基板制得硅结晶膜的防护薄膜的话,在防护薄膜形成过程中不会受到过度的应力,而且是在室温程度的温度下形成防护薄膜,亦不至造成应变。

    高特性外延生长用基板及其制造方法

    公开(公告)号:CN118475733A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202280086720.7

    申请日:2022-10-24

    Abstract: 本发明提供能够高特性且廉价地制作第III族氮化物的单晶的第III族氮化物系外延生长用基板及其制造方法。本发明的第III族氮化物系外延生长用基板具备:支承基板,其具有由氮化物陶瓷构成的芯被厚度0.05μm以上且1.5μm以下的密封层包裹的结构;平坦化层,其设置于支承基板的上表面且具有0.5μm以上且3.0μm以下的厚度;单晶的晶种层,其设置于平坦化层的上表面且具有0.04μm以上且小于0.10μm的厚度;以及根据需要的应力调整层,其设置于支承基板的下表面。

    化合物半导体层叠基板及其制造方法以及半导体元件

    公开(公告)号:CN110301033B

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN201880012091.7

    申请日:2018-02-15

    Abstract: 本发明为化合物半导体层叠基板,是将为包含A和B作为构成元素的相同组成、具有相同的原子排列的2张单晶的化合物半导体基板直接贴合层叠而成的基板,其特征在于,该层叠基板的表面背面为包含A或B的同种的原子的极性面,层叠界面为包含B或A中的任一者的原子之间的键合、并且它们的晶格匹配的单极性的反相位区域边界面。由此,使化合物半导体层叠基板的表面背面的极性面成为单一极性,使半导体元件的工序设计变得容易,同时无需施加复杂的基板加工,可制造低成本、高性能、稳定的半导体元件。

    SiC复合基板的制造方法
    20.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108140541B

    公开(公告)日:2022-11-11

    申请号:CN201680052889.5

    申请日:2016-09-09

    Abstract: 本发明提供SiC复合基板的制造方法,是在多晶SiC基板11上具有单晶SiC层12的SiC复合基板10的制造方法,其特征在于,在表面和背面具有氧化硅膜21a的由Si构成的保持基板21的表面设置单晶SiC层12而制作了单晶SiC层负载体14后,将该单晶SiC层负载体14中的保持基板21的背面的部分区域或整面的氧化硅膜21a的厚度的一部分或全部除去,对单晶SiC层负载体14'赋予翘曲,接下来在单晶SiC层12上采用化学气相沉积法沉积多晶SiC而形成多晶SiC基板11,然后将上述保持基板21以物理和/或化学方式除去。根据本发明,采用简便的制造工艺得到在具有结晶性良好的单晶SiC层的同时翘曲小的SiC复合基板。

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