高质量低应力AlN图形模板的制备方法

    公开(公告)号:CN111710594A

    公开(公告)日:2020-09-25

    申请号:CN202010600334.8

    申请日:2020-06-28

    Abstract: 一种AlN图形模板的制备方法,包括以下步骤:提供耐高温衬底;在所述衬底上沉积一层AlN薄膜,形成低质量AlN模板;在所述低质量AlN模板上形成微、纳米级图案,制作成低质量AlN图形模板;将得到的所述低质量AlN图形模板放入高温退火设备中进行退火处理,即得到高质量低应力AlN图形模板。本发明提供的技术方案能获得更高晶体质量和更低应力的AlN模板,且制备工艺简单有效稳定,成本低,便于产业化应用。

    极性可控的高质量AlN模板制备方法

    公开(公告)号:CN111676451A

    公开(公告)日:2020-09-18

    申请号:CN202010600481.5

    申请日:2020-06-28

    Abstract: 一种AlN模板制备方法,包括以下步骤:提供衬底;采用磁控溅射技术在所述衬底上沉积AlN薄膜,厚度为0.001微米至10微米,过程中通入含氧气体、纯氮气或氮气和惰性气体的混合气体,形成低质量AlN模板;其中,若通入含氧气体,则得到Al极性面高质量AlN模板;若通入不含氧气体而只含有氮气和惰性气体,且惰性气体比例较低或溅射功率较低时,使得衬底表面形成富氮条件,则得到N极性面或混合极性面的高质量Al模板;若惰性气体比例较高或溅射功率较高时,使得衬底表面形成富Al条件,则得到混合极性面或N极性面高质量AlN模板;将得到的低质量AlN模板放入高温腔室中进行高温退火处理,得到高质量AlN模板。

    AlGaN薄膜生长方法及AlGaN薄膜
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119486316A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411618173.X

    申请日:2024-11-13

    Abstract: 本公开提供了一种AlGaN薄膜生长方法及AlGaN薄膜,涉及半导体材料外延技术领域,用以解决现有技术中基于碳化硅衬底生长的AlGaN薄膜存在缺陷密度高的技术问题。该方法包括:准备一衬底,并对衬底进行清洗处理;将清洗后的衬底放入高温MOCVD设备中,通入指定时间的金属有机源,使金属原子吸附在衬底的生长面;对吸附金属原子后的衬底进行指定时间的金属原子解吸附处理,得到目标衬底;在目标衬底的生长面上,生长AlGaN薄膜。该方法通过金属原子吸附和解吸附过程来降低衬底表面的台阶密度,有效去除表面的氧化层,从而提升了AlGaN薄膜的晶体质量和表面光滑程度。

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