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公开(公告)号:CN111710594A
公开(公告)日:2020-09-25
申请号:CN202010600334.8
申请日:2020-06-28
Applicant: 中国科学院半导体研究所
Abstract: 一种AlN图形模板的制备方法,包括以下步骤:提供耐高温衬底;在所述衬底上沉积一层AlN薄膜,形成低质量AlN模板;在所述低质量AlN模板上形成微、纳米级图案,制作成低质量AlN图形模板;将得到的所述低质量AlN图形模板放入高温退火设备中进行退火处理,即得到高质量低应力AlN图形模板。本发明提供的技术方案能获得更高晶体质量和更低应力的AlN模板,且制备工艺简单有效稳定,成本低,便于产业化应用。
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公开(公告)号:CN111676451A
公开(公告)日:2020-09-18
申请号:CN202010600481.5
申请日:2020-06-28
Applicant: 中国科学院半导体研究所
Abstract: 一种AlN模板制备方法,包括以下步骤:提供衬底;采用磁控溅射技术在所述衬底上沉积AlN薄膜,厚度为0.001微米至10微米,过程中通入含氧气体、纯氮气或氮气和惰性气体的混合气体,形成低质量AlN模板;其中,若通入含氧气体,则得到Al极性面高质量AlN模板;若通入不含氧气体而只含有氮气和惰性气体,且惰性气体比例较低或溅射功率较低时,使得衬底表面形成富氮条件,则得到N极性面或混合极性面的高质量Al模板;若惰性气体比例较高或溅射功率较高时,使得衬底表面形成富Al条件,则得到混合极性面或N极性面高质量AlN模板;将得到的低质量AlN模板放入高温腔室中进行高温退火处理,得到高质量AlN模板。
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公开(公告)号:CN111710595A
公开(公告)日:2020-09-25
申请号:CN202010600417.7
申请日:2020-06-28
Applicant: 中国科学院半导体研究所
Abstract: 一种AlN模板的应力与晶圆翘曲控制方法,包括以下步骤:提供耐高温衬底;采用磁控溅射技术分别在所述衬底的正面和反面分别沉积AlN薄膜,厚度分别为0.1微米至1微米,形成低质量双面AlN模板;将得到的双面沉积的低质量AlN模板放入高温设备中进行退火处理,制备高质量双面AlN模板。本发明实现了对AlN模板的应力与晶圆翘曲比较好的控制,很好的避免了在芯片工艺制作过程中所导致的晶圆崩裂,并提高了器件性能。
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公开(公告)号:CN119486316A
公开(公告)日:2025-02-18
申请号:CN202411618173.X
申请日:2024-11-13
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: H10F71/00 , C30B25/18 , C30B29/40 , H10F77/124 , H10F30/21
Abstract: 本公开提供了一种AlGaN薄膜生长方法及AlGaN薄膜,涉及半导体材料外延技术领域,用以解决现有技术中基于碳化硅衬底生长的AlGaN薄膜存在缺陷密度高的技术问题。该方法包括:准备一衬底,并对衬底进行清洗处理;将清洗后的衬底放入高温MOCVD设备中,通入指定时间的金属有机源,使金属原子吸附在衬底的生长面;对吸附金属原子后的衬底进行指定时间的金属原子解吸附处理,得到目标衬底;在目标衬底的生长面上,生长AlGaN薄膜。该方法通过金属原子吸附和解吸附过程来降低衬底表面的台阶密度,有效去除表面的氧化层,从而提升了AlGaN薄膜的晶体质量和表面光滑程度。
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公开(公告)号:CN113539791B
公开(公告)日:2024-02-27
申请号:CN202110716091.9
申请日:2021-06-25
Applicant: 中国科学院半导体研究所
Abstract: 本公开提供了一种极性交替AlN模板的制备方法,包括:在衬底表面沉积氮极性AlN;在所述氮极性AlN上沉积掩膜层;对所述掩膜层图形化,以暴露部分所述氮极性AlN;对氮极性AlN进行热处理,诱使所述掩膜层覆盖的所述氮极性AlN的极性反转,保持暴露的所述氮极性AlN的极性不变;去除所述掩膜层,得到表面极性交替的AlN结构;在表面极性交替的AlN结构上继续沉积AlN至预设厚度,得到所述极性交替AlN模板。
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公开(公告)号:CN113445130A
公开(公告)日:2021-09-28
申请号:CN202110716151.7
申请日:2021-06-25
Applicant: 中国科学院半导体研究所
Abstract: 本发明提供一种AlGaN基紫外激光器的生长方法,通过原位热处理的方法粗化AlGaN赝晶层的表面,来缓解AlGaN厚膜的应力,显著改善晶体质量;由于表面粗化结构尺寸更小,后续AlGaN厚膜生长过程更容易合并,形成原子级平整表面,进而生长得到高质量的紫外激光器结构。
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公开(公告)号:CN113437186A
公开(公告)日:2021-09-24
申请号:CN202110715925.4
申请日:2021-06-25
Applicant: 中国科学院半导体研究所
Abstract: 本公开提供了一种AlGaN薄膜的制备方法,包括:对衬底进行热处理,以使所述衬底的生长面转变为岛状起伏结构;在所述生长面上生长多孔AlN薄膜;在所述多孔AlN薄膜上生长表面合并的AlGaN薄膜。该方法不仅可以提高外延层的晶体质量,而且可以通过多孔结构有效缓解外延层应力,进而制备高质量的AlGaN薄膜。
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