基于原子力显微镜的测量装置及台阶面测量方法

    公开(公告)号:CN111487441A

    公开(公告)日:2020-08-04

    申请号:CN202010451028.2

    申请日:2020-05-25

    Abstract: 本发明涉及一种基于原子力显微镜的测量装置及台阶面测量方法,原子力显微镜扫描头固定设置,在测量过程中静止不动,原子力显微镜扫描头扫描测量被测物体表面的轮廓面参数并生成检测信号,原子力显微镜信号调理装置将检测信号调理之后传递给平台控制器,平台控制器根据检测信号控制定位平台相对原子力显微镜扫描头运动而使原子力显微镜扫描头沿着被测物体表面扫描检测,计算机对检测信号进行处理而得出被测物体表面轮廓的参数。由此可见,本发明的一种基于原子力显微镜的测量装置及台阶面测量方法,能够方便地进行测量,测量过程中,原子力显微镜扫描头保持静止,避免了振动导致的测量误差,提高了测量准确性。

    一种用于微纳米尺度二维尺寸测量的微触觉测头

    公开(公告)号:CN103075952A

    公开(公告)日:2013-05-01

    申请号:CN201210557870.X

    申请日:2012-12-20

    Abstract: 本发明为一种用于微纳米尺度二维尺寸测量的微触觉测头,其特征在于:所述的微触觉测头由圆形基底、电容式传感器阵列、悬梁、测针、悬挂弹簧及限位结构组成;圆形基底用于固定传感器阵列及悬梁;电容式传感器阵列作为敏感单元,用以感知位移变化;悬梁用于连接测针及传感器阵列;测针直接与被测物接触,以探测并传递位移量;悬挂弹簧起悬挂、调平悬梁的作用,并可调节测量力;限位结构用来限制悬梁及测针运动的自由度,使其只能以悬梁顶端的小球球心为原点旋转,从而消除了测针和悬梁的整体偏移,保证了横向位移测量的精度。

    一种基于BP神经网络的手语翻译方法

    公开(公告)号:CN111428871A

    公开(公告)日:2020-07-17

    申请号:CN202010243856.7

    申请日:2020-03-31

    Abstract: 本发明为一种基于BP神经网络的手语翻译方法,其特征在于:包括以下步骤:1、利用树莓派3B通过可穿戴数据手套采集手势电压信号;2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子编制成手语语句库;3、编写包括BP神经网络结构框架模型、数据传输模块和储存模块的神经网络分类程序,BP神经网络结构框架模型采用输入层、输出层以及隐藏层的三层神经网络;4、将每次收到的手势电压信号通过BP神经网络框架模型转换为手语词语;5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组,将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合神经网络及传感技术实现了手语自动实时翻译识别。

    共聚焦三维测量装置及其多孔径尼普科夫圆盘

    公开(公告)号:CN109375355A

    公开(公告)日:2019-02-22

    申请号:CN201811221733.2

    申请日:2018-10-19

    Abstract: 本发明涉及一种共聚焦三维测量装置及其多孔径尼普科夫圆盘,由于在多孔径尼普科夫圆盘上至少设有一个环形的扫描带,不同的扫描带中的透过孔的直径不同,这样,就可以根据显微物镜的放大倍率而选择具有合适直径的透光孔的扫描带来过滤和聚焦光线,从而使得合适直径的透光孔处于工作状态,使得测量装置的分辨力和精度指标达到最优状态。由此可见,本发明的一种共聚焦三维测量装置中的多孔径尼普科夫圆盘能够提高测量分辨力和精度。

    一种角度可调的高精度载物台装置

    公开(公告)号:CN112782839A

    公开(公告)日:2021-05-11

    申请号:CN202110201102.X

    申请日:2021-02-23

    Abstract: 本发明涉及的一种角度可调的高精度载物台装置,在本发明的一种角度可调的高精度载物台装置中,底座与载物台之间通过固定支承柱及两个活动支承柱三点支承,通过两个驱动机构分别驱动两个滑动杆使得滑动杆前端的斜坡面将两个顶珠顶起不同高度,从而使得载物台的位姿得以调节,由于滚珠及顶珠均与运动零件滚动摩擦,所以摩擦力小,不会发生窜动,使得载物台的位姿调整顺畅平稳。由此可见,本发明的一种角度可调的高精度载物台装置能够方便地调整载物台的位姿,结构简单,运动平稳顺畅。

    一种用于微纳米尺度二维尺寸测量的微触觉测头

    公开(公告)号:CN103075952B

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201210557870.X

    申请日:2012-12-20

    Abstract: 本发明为一种用于微纳米尺度二维尺寸测量的微触觉测头,其特征在于:所述的微触觉测头由圆形基底、电容式传感器阵列、悬梁、测针、悬挂弹簧及限位结构组成;圆形基底用于固定传感器阵列及悬梁;电容式传感器阵列作为敏感单元,用以感知位移变化;悬梁用于连接测针及传感器阵列;测针直接与被测物接触,以探测并传递位移量;悬挂弹簧起悬挂、调平悬梁的作用,并可调节测量力;限位结构用来限制悬梁及测针运动的自由度,使其只能以悬梁顶端的小球球心为原点旋转,从而消除了测针和悬梁的整体偏移,保证了横向位移测量的精度。

    一种亚表面多参数纳米标准样板

    公开(公告)号:CN218481428U

    公开(公告)日:2023-02-14

    申请号:CN202222197696.4

    申请日:2022-08-19

    Abstract: 本实用新型涉及一种亚表面多参数纳米标准样板,包括用于定位寻找校准位置的X向循迹标记、Y向循迹标记和对准标记,用于校准的Z向台阶校准区域、一维栅格校准区域和二维栅格校准区域,使用本实用新型的一种亚表面多参数纳米标准样板进行仪器校准时,可借助循迹标记和对准标记快速分辨当前位置并定位到待测区域,可用于共聚焦显微镜、白光干涉显微镜、超声原子力显微镜等亚表面测量仪器的校准及溯源,为亚表面几何参数测量中的量值准确性提供保障,助力半导体、精密制造、国防军工等战略性新兴产业的发展,具有高度产业利用价值。

    一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置

    公开(公告)号:CN220398407U

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202321259010.8

    申请日:2023-05-23

    Abstract: 本实用新型涉及一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置,通过采用两台共聚焦显微镜直接定位量块的两个测量面,实现量块长度的测量,无需借助辅助面,避免了采用其他原理单方向测量时存在的量块与辅助面研合间隙造成的测量误差,结果更为准确可靠。本实用新型涉及的一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置采用两台共聚焦显微镜对顶测量的方式,通过定位量块两个测量面实现测量,无需进行全范围扫描,仅需在量块的测量面附近进行慢速扫描,其余位置均可快速移动,在测量长度较长的量块时,可有效提升测量效率。

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