公开(公告)号：CN119311536A

公开(公告)日：2025-01-14

申请号：CN202410319710.4

申请日：2024-03-20

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 权和静 ,  金泰龙 ,  方光奎 ,  李相国

IPC: G06F11/34 ,  H04N7/18 ,  G06F11/30 ,  G06F11/32 ,  G06F11/07

Abstract: 提供了电子系统和管理错误的方法。电子系统包括被监视装置和管理装置。被监视装置根据操作系统操作并生成显示图像。管理装置通过通信网络连接到被监视装置。管理装置从被监视装置周期性地接收与显示图像对应的屏幕图像数据，基于与被监视装置的网络连接状态来确定在被监视装置的操作系统中是否发生了使被监视装置的操作系统变得不可操作的错误，基于错误确定因素和屏幕图像数据的分析结果来确定错误的类型，并且向被监视装置传输指示解决错误要采取的后续动作的请求，后续动作与错误的类型对应。

公开(公告)号：CN111352582B

公开(公告)日：2025-01-10

申请号：CN201911318044.8

申请日：2019-12-19

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 方光奎 ,  金永民 ,  任官彬

IPC: G06F3/06 ,  G11C29/50 ,  G11C29/56

Abstract: 提供了一种存储设备，包括：电力管理集成电路芯片；多个非易失性存储器，被配置为从电力管理集成电路芯片接收电力；以及控制器，被配置为控制非易失性存储器，其中，控制器在非易失性存储器的读取操作和写入操作期间检查电力的状态，并且当在非易失性存储器中的至少一个中检测到电力故障时，关于所有非易失性存储器上的读取操作和写入操作实施电力故障检测模式。

公开(公告)号：CN112394879B

公开(公告)日：2024-05-17

申请号：CN202010812374.9

申请日：2020-08-13

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 方光奎

IPC: G06F3/06 ,  G06F11/22 ,  G06F11/26

Abstract: 一种操作存储设备的方法包括：感测流过存储设备的维持电流；基于感测的维持电流和至少一个参考值来确定在存储设备内是否已经发生产品异常；并且当确定已经发生产品异常时，执行其中顺序地执行与存储设备的操作相关联的两个或更多控制处理的步进式控制操作。

公开(公告)号：CN115856566A

公开(公告)日：2023-03-28

申请号：CN202210868110.4

申请日：2022-07-22

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 张伦 ,  俞尚根 ,  方光奎 ,  尹吉重 ,  崔松礼 ,  崔载奎

IPC: G01R31/28 ,  G11C29/56

Abstract: 一种用于存储装置的测试模块包括：板；设置在所述板上的测试板，所述测试板包括接收部分，待测试的存储装置将插入到所述接收部分中；传感器，具有设置在所述接收部分的内表面上的多个开关，所述多个开关可操作为由于所述存储装置被插入到所述接收部分中而接通；以及多个柱塞，设置在所述内表面上以接触并支撑所述存储装置。

公开(公告)号：CN100380656C

公开(公告)日：2008-04-09

申请号：CN200510076264.6

申请日：2005-04-21

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 方光奎 ,  李建求 ,  柳庆锡 ,  方正浩 ,  辛庆善 ,  崔浩政 ,  崔升圭

IPC: H01L23/525 ,  H01L21/768

CPC classification number: H01L23/5258 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 公开了一种熔丝区域及其制造方法。熔丝区域可以包括在衬底上形成的层间绝缘层，排列在层间绝缘层上的多个熔丝，以及位于熔丝之间的熔丝隔离壁，其中每一个熔丝隔离壁都可以包括下熔丝隔离图案和上熔丝隔离图案。