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发明公开
用于存储装置的测试模块审中-实审

公开(公告)号：CN115856566A

公开(公告)日：2023-03-28

申请号：CN202210868110.4

申请日：2022-07-22

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 张伦 , 俞尚根 , 方光奎 , 尹吉重 , 崔松礼 , 崔载奎

IPC: G01R31/28 , G11C29/56

Abstract: 一种用于存储装置的测试模块包括：板；设置在所述板上的测试板，所述测试板包括接收部分，待测试的存储装置将插入到所述接收部分中；传感器，具有设置在所述接收部分的内表面上的多个开关，所述多个开关可操作为由于所述存储装置被插入到所述接收部分中而接通；以及多个柱塞，设置在所述内表面上以接触并支撑所述存储装置。

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