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公开(公告)号：CN111724445B
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202010383829.X
申请日：2020-05-08
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种大视野小尺寸识别码的识别方法及系统，属于计算机视觉技术领域。本发明方法首先利用第一图像采集装置实时采集图像，对当前帧图像进行特征检测，获取识别码在当前帧图像中的位置；再根据识别码在当前帧图像中的位置实时调节光路，以使得识别码在第二图像采集装置的中心清晰成像；最后从识别码成像中读取识别码信息。本发明还实现了一种大视野小尺寸识别码的识别系统。本发明方法和系统能根据不同的识别码应用场景在总体结构不变的情况下灵活调整，可以有效解决远距离、大视野、高景深识别码的难以识别问题，具有速度快、鲁棒性高、适应性好等优点。
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公开(公告)号：CN111830046B
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN202010681840.4
申请日：2020-07-15
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明属于图像处理相关技术领域，并具体公开了基于多光谱分光成像的表面缺陷自动光学检测系统及方法。该系统包括硬件单元和软件单元，其中硬件单元中的滤光模块用于对待检产品表面的原始光线进行过滤获得过滤光线；分光采集模块用于获得两幅原始图像；软件单元中多光谱分光成像模块用于调节滤光模块的组成以获得预设数量的原始图像；多图像融合检测模块用于对原始图像进行缺陷检测，获得待检产品的表面缺陷；最后利用分类标注模块对表面缺陷进行分类和标注。本发明将颜色信息融入到检测过程中，从根本上提高缺陷检测所需要的信息量，同时融入分光成像的思想，实现对光信息的再次细化，保留大量信息的真实性，极大提供检测的准确性。
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公开(公告)号：CN112700432A
公开(公告)日：2021-04-23
申请号：CN202110033380.9
申请日：2021-01-12
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于异常合成与分解的纹理表面缺陷检测方法和系统，属于图像处理领域。本发明构建分割引导的缺陷生成网络，可利用少量真实缺陷训练样本生成大量与真实缺陷相似的缺陷样本，同时提出基于高斯采样的异常合成方法可利用无缺陷正样本随机合成异常负样本，可解决工业中缺陷样本量少的难题，进而提高缺陷检测精度；本发明通过采用异常分解网络来将异常负样本分解为纹理背景图像与异常掩膜图像，可有效抑制缺陷被重构到纹理背景中，提高纹理背景重构精度，并可精确分割缺陷区域，将残差图像与异常分割图像融合，进而提高缺陷检出率、降低缺陷过检率。
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公开(公告)号：CN111912854A
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN202010739423.0
申请日：2020-07-28
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于表面缺陷检测领域，并具体公开了一种基于振镜快速扫描的大面积表面缺陷光学检测系统及方法，其包括硬件部分和软件部分，其中：硬件部分包括相机成像模块和扫描振镜模块，相机成像模块用于采集物体表面图像；扫描振镜模块包括两个旋转轴相互垂直的振镜；软件部分包括扫描振镜控制模块、相机成像控制模块、缺陷智能检测模块、判断输出模块，扫描振镜控制模块用于控制振镜的旋转角度；相机成像控制模块用于设置相机成像模块参数；缺陷智能检测模块用于进行图像缺陷检测；判断输出模块用于对缺陷图像中缺陷类型进行标注和分类。本发明可提升大面积表面缺陷检测的检测速度、精度，减小大规模缺陷检测错误率，提升产品的良品率。
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公开(公告)号：CN111724445A
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN202010383829.X
申请日：2020-05-08
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种大视野小尺寸识别码的识别方法及系统，属于计算机视觉技术领域。本发明方法首先利用第一图像采集装置实时采集图像，对当前帧图像进行特征检测，获取识别码在当前帧图像中的位置；再根据识别码在当前帧图像中的位置实时调节光路，以使得识别码在第二图像采集装置的中心清晰成像；最后从识别码成像中读取识别码信息。本发明还实现了一种大视野小尺寸识别码的识别系统。本发明方法和系统能根据不同的识别码应用场景在总体结构不变的情况下灵活调整，可以有效解决远距离、大视野、高景深识别码的难以识别问题，具有速度快、鲁棒性高、适应性好等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110576679B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201910757979.X
申请日：2019-08-16
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于喷墨打印制造相关技术领域，并公开了一种用于飞行墨滴状态观测的装置，其包括支撑底板、第一单目视觉观测单元、第二单目视觉观测单元以及双反射镜单元等，其中支撑底板用于安装其它功能单元，并确定双目相机的夹角α；两个单目视觉观测单元各自由CCD视觉组件和配套的LED光源组成，并且共同组成以夹角α来执行实现双目相机观测功能的功能模块；双反射镜单元位于CCD视觉组件和LED光源组件之间，并用于改变光路传播的空间状态。通过本发明，可更全面精确地得到墨滴的体积、飞行轨迹等参数，满足形态多样的墨滴全面观测；此外还便于改变光束传播的空间路线，解决了墨滴竖直方向飞行距离很小导致测量空间不足问题。
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公开(公告)号：CN110969606A
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201911197092.6
申请日：2019-11-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于图像处理领域，公开了一种纹理表面缺陷检测方法及系统。该方法包括离线训练阶段及在线检测阶段，其中：离线训练阶段先通过先验提取步骤提取输入纹理图像的多通道纹理先验；再通过纹理重构步骤在提取的先验的引导下，精确重构出输入图像的纹理背景，在纹理重构模块的隐空间中编码更精确的纹理特征、抑制缺陷被重构在纹理背景中；最后，通过像素级对抗学习，进一步提升纹理重构精度。进行检测时，只需将输入图像与重构的纹理背景图像进行作差操作，即可检测出缺陷。本发明对不同纹理表面上的不同大小、不同对比度的缺陷有较高的检测精度。
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公开(公告)号：CN110687315A
公开(公告)日：2020-01-14
申请号：CN201911055497.6
申请日：2019-10-31
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01P5/26
Abstract: 本发明属于数字图像采集与处理领域，并公开了一种自适应调整时间间隔的流场速度测量系统，其包括粒子发生器、双脉冲激光器及相互通信的分幅视觉图像采集装置与图像处理子系统，粒子发生器用于在观测室中播撒流场粒子，双脉冲激光器用于发出脉冲激光以照射在流场粒子的表面，经流场粒子表面反射的光进入分幅视觉图像采集装置中予以分时采集获得两幅图像；图像处理子系统用于根据分幅视觉图像采集装置采集的两幅图像进行速度预测，并基于预测的速度计算出下一时刻的最优时间间隔，分幅视觉图像采集装置则在下一时刻根据最优时间间隔进行两幅图像的采集。本发明可在流场速度测量过程中实现时间间隔的自适应调整，具体测量精度高、测量方便等优点。
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公开(公告)号：CN110567974A
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201910937955.2
申请日：2019-09-30
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明属于图像处理领域，并公开了一种基于云端人工智能表面缺陷检测系统。该系统包括边缘端模块和云端数据处理模块，其中，所述边缘端模块包括数据采集单元和结果反馈单元；所述云端数据处理模块包括智能标注单元、训练单元和检测单元，所述智能标注单元用于智能标注待标注图像的良品，次品以及缺陷信息，并将标注的图像作为待训练数据输入训练单元，训练单元用于建立预测模型传递给检测单元；检测单元用于利用预测模型对待检测的图像进行检测，以此获得待检测图像的检测结果，然后将检测结果反馈给结果反馈单元，通过结果反馈单元将检测结果进行显示。通过本发明，减小边缘端检测的计算成本，增大检测效率与检测精度，有助于提升产品良率。
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公开(公告)号：CN105976382B
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201610310495.7
申请日：2016-05-11
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华威科智能技术有限公司
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明公开了一种基于缺陷区域预判和水平集的TFT‑LCD Mura缺陷检测方法。该方法提出了一种缺陷区域预判法先找到缺陷区域，然后将缺陷区域的像素剔除，用余下的像素拟合得到背景图像；用原图像减去背景图像来消除背景不均匀性对缺陷分割的影响，求差后得到残差图像，然后用一种基于阈值的水平集方法对残差图像进行分割来检测得到缺陷。该方法可以获得精度较高的背景图像，对于光照影响有较好的鲁棒性，能够获得准确的分割结果以及较低的误检率。
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