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公开(公告)号：CN114972216B
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202210507405.9
申请日：2022-05-10
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于图像处理领域，并公开了一种纹理表面缺陷检测模型的构建方法及其应用。本发明构建的检测模型除了包括常规的特征提取模块和分割模块，还包括两个新提出的模块：特征分离提取模块和全局语义关系模块。通过特征分离提取模块将纹理语义信息和缺陷语义信息从初步提取到的特征中分解出来，避免这两类语义信息耦合在一起对最终的分割产生不良影响；同时利用全局语义关系模块在特征分离提取后，建立全局语义信息相关关系，捕获全局上下文信息，以此增强纹理特征和缺陷特征的表达能力。进行检测时，只需将纹理分割结果和缺陷分割结果进行加权平均，即可检测出缺陷。如此，对不同纹理表面上的不同大小、不同对比度的缺陷有较高的分割精度。
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公开(公告)号：CN111912854B
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN202010739423.0
申请日：2020-07-28
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于表面缺陷检测领域，并具体公开了一种基于振镜快速扫描的大面积表面缺陷光学检测系统及方法，其包括硬件部分和软件部分，其中：硬件部分包括相机成像模块和扫描振镜模块，相机成像模块用于采集物体表面图像；扫描振镜模块包括两个旋转轴相互垂直的振镜；软件部分包括扫描振镜控制模块、相机成像控制模块、缺陷智能检测模块、判断输出模块，扫描振镜控制模块用于控制振镜的旋转角度；相机成像控制模块用于设置相机成像模块参数；缺陷智能检测模块用于进行图像缺陷检测；判断输出模块用于对缺陷图像中缺陷类型进行标注和分类。本发明可提升大面积表面缺陷检测的检测速度、精度，减小大规模缺陷检测错误率，提升产品的良品率。
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公开(公告)号：CN111912854A
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN202010739423.0
申请日：2020-07-28
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于表面缺陷检测领域，并具体公开了一种基于振镜快速扫描的大面积表面缺陷光学检测系统及方法，其包括硬件部分和软件部分，其中：硬件部分包括相机成像模块和扫描振镜模块，相机成像模块用于采集物体表面图像；扫描振镜模块包括两个旋转轴相互垂直的振镜；软件部分包括扫描振镜控制模块、相机成像控制模块、缺陷智能检测模块、判断输出模块，扫描振镜控制模块用于控制振镜的旋转角度；相机成像控制模块用于设置相机成像模块参数；缺陷智能检测模块用于进行图像缺陷检测；判断输出模块用于对缺陷图像中缺陷类型进行标注和分类。本发明可提升大面积表面缺陷检测的检测速度、精度，减小大规模缺陷检测错误率，提升产品的良品率。
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公开(公告)号：CN114972216A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210507405.9
申请日：2022-05-10
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于图像处理领域，并公开了一种纹理表面缺陷检测模型的构建方法及其应用。本发明构建的检测模型除了包括常规的特征提取模块和分割模块，还包括两个新提出的模块：特征分离提取模块和全局语义关系模块。通过特征分离提取模块将纹理语义信息和缺陷语义信息从初步提取到的特征中分解出来，避免这两类语义信息耦合在一起对最终的分割产生不良影响；同时利用全局语义关系模块在特征分离提取后，建立全局语义信息相关关系，捕获全局上下文信息，以此增强纹理特征和缺陷特征的表达能力。进行检测时，只需将纹理分割结果和缺陷分割结果进行加权平均，即可检测出缺陷。如此，对不同纹理表面上的不同大小、不同对比度的缺陷有较高的分割精度。
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