一种调整老化装置辐射光源照射均匀性的方法及老化装置

    公开(公告)号:CN107560998B

    公开(公告)日:2021-08-24

    申请号:CN201710779308.4

    申请日:2017-09-01

    Abstract: 本发明公开了一种调整老化装置的辐射光源照射均匀性的方法及老化装置,属于LED荧光胶老化技术领域,一种调整老化装置的辐射光源照射均匀性的方法,包含如下步骤:(1)利用光照度传感器检测箱体内测点的照度,(2)通过在箱体内壁上设置反射材料来调节测点的照度,(3)将光照度传感器从箱体取出,将样品置于箱体内的测点处,蓝光光源发出的光线透过透明玻璃射入箱体内并照射样品。老化装置与一种调整老化装置辐射光源照射均匀性的方法相配套。本发明是一种调整老化装置辐射光源照射均匀性的方法及老化装置,可照射LED光胶使其老化。

    一种半导体光源组装及生产方法

    公开(公告)号:CN106058011A

    公开(公告)日:2016-10-26

    申请号:CN201610612747.1

    申请日:2016-07-29

    CPC classification number: H01L33/48 H01L33/62 H01L2933/0066

    Abstract: 本发明公开了一种半导体光源组装及生产方法,其中该方法包括:镀膜切割步骤,对晶元进行排列得到晶元阵列,对所述晶元阵列进行镀膜并切割,得到晶片;固晶步骤,对晶片的电极与基板的相应电极进行配对,采用预设焊接工艺,对晶片与基板的配对电极进行焊接,从而将所述晶片组装到基板上,得到半导体光源。本发明将没有进行封装的晶片直接组装到基板上,避免了将封装级光源颗粒组装到基板上而带来的光源颗粒断线问题,有助于提高半导体光源的良品率及可靠性,并降低半导体光源的生产成本。

    LED晶圆芯片混Bin选取方法及其装置

    公开(公告)号:CN105797966A

    公开(公告)日:2016-07-27

    申请号:CN201610150779.4

    申请日:2016-03-16

    CPC classification number: B07C5/34

    Abstract: 一LED晶圆芯片混Bin选取方法及其装置,其中所述方法包括步骤(A)获取晶圆上芯片的性能参数;(B)获取晶圆的平均主波长以及每波段芯片数量;(C)按预定条件选取芯片组合。所述装置包括一检测模块,检测晶圆芯片的光电参数;一主波长计算模块,依据所述光电参数得到晶圆的平均主波长;和一芯片组合选取模块,以所述平均主波长为光源模组的波长,选取符合预定条件的芯片组合。

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