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公开(公告)号：CN116190295B
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN202310480227.X
申请日：2023-04-28
Applicant: 季华实验室
IPC: H01L21/68 , H01L21/683 , H01L33/00
Abstract: 本发明涉及半导体加工技术领域，特别涉及一种半导体元器件转移装置及转移方法，在使用转移印章对半导体元器件进行转移时对转移印章的运动精度进行准确测量的目的，进而能够提升转移印章与半导体元器件之间的对准精度，保证了制备的产品的良品率，解决了相关技术中转移印章与临时载板或驱动电路背板对齐后，仅依靠导轨的大行程上下运动无法保证Micro LED芯片的精确拾取或者准确放置到驱动电路背板预定位置，从而导致转移的良率下降，影响后续相关制程的技术问题。
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公开(公告)号：CN115373433B
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202211306426.0
申请日：2022-10-25
Applicant: 季华实验室(CN)
IPC: G05D3/12
Abstract: 本发明属于自动控制技术领域，公开了一种转台运动补偿方法、装置、设备及存储介质。该方法应用于曲柄滑块式转台，包括：确定初始条件参数，并根据初始条件参数构建转台控制函数；获取旋转组件对应的多个分段旋转角度；分别根据各个分段旋转角度驱动曲柄滑块式转台进行旋转，记录各分段对应的测量旋转角度；根据各分段对应的分段旋转角度和测量旋转角度计算转角偏差；根据转台控制函数将转角偏差转换为直线运动误差；根据直线运动误差对各分段下直线运动模块的直线运动位移进行补偿。通过上述方式，对转角进行校准，补偿直线运动模块的直线运动位移，提升了曲柄滑块式转台转角的控制精度。
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公开(公告)号：CN119963559A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510452247.5
申请日：2025-04-10
Applicant: 季华实验室
IPC: G06T7/00 , G06N3/0464 , G06N3/0495 , G06N3/08 , G06T7/13 , G06V10/10 , G06V10/20 , G06V10/25 , G06V10/26 , G06V10/764 , H01F41/02
Abstract: 本发明涉及图像处理领域，本发明公开了一种缺陷检测和评级方法、装置、设备及存储介质，缺陷检测和评级方法包括：对电感进行图像采集，以得到基础图像；构建语义分割网络，并利用语义分割网络对基础图像进行区域提取，以得到线圈轮廓区域；对线圈轮廓区域进行图像处理和区域筛选，以得到特征区域；提取磁芯中心坐标，并计算特征区域的边缘点与磁芯中心坐标的距离，以得到磁芯距离数据；构建缺陷等级量化神经网络，并利用缺陷等级量化神经网络对磁芯距离数据进行评级，以得到评级结果；本发明综合运用多样化的图像处理技术和神经网络，全面优化了缺陷检测的流程和精度，显著提高了检测的准确性和效率。
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公开(公告)号：CN116811447B
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202311081736.1
申请日：2023-08-25
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请涉及视觉定位技术领域，公开了一种基板纠偏和定位方法及相关设备，该基板纠偏和定位方法：通过获取基板偏转的基准角度以及目标位置，在基板实际纠偏和定位中，获取实时的基板偏转的实际角度和基板的实际位置，根据基准角度和实际角度的角度偏差控制转台对基板进行纠偏，根据目标位置和实际位置的位置偏差控制工作台对基板进行定位，解决了由于现有对多相机无共同视野进行标定的方法成本较高，标定过程复杂，计算繁琐的基板纠偏问题，通过本申请设置的基板纠偏和定位方法，不但可以满足基板纠偏微米级精度，而且相较于利用三维立体坐标系标定更加简单和高效。
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公开(公告)号：CN115309196B
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202211237952.6
申请日：2022-10-11
Applicant: 季华实验室
IPC: G05D3/12
Abstract: 本发明属于自动控制技术领域，公开了一种转台控制方法、装置、设备及存储介质。该方法应用于曲柄滑块式转台，包括：获取旋转组件对应的待旋转角度；基于预设函数关系根据待旋转角度计算目标距离；控制直线运动模块的运动距离达到目标距离。通过上述方式，建立直线运动距离与旋转角度之间的函数关系，利用函数关系结合旋转角度需求，控制直线运动模块的直线运动距离，实现了高精度控制转台的旋转角度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119832304A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411883147.X
申请日：2024-12-19
Applicant: 季华实验室
IPC: G06V10/764 , G06V10/82 , G06V10/774 , G06V10/25 , G06V10/26 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G06T7/00 , G06T7/10
Abstract: 本发明涉及计算机视觉技术领域，具体涉及一种缺陷检测方法、装置及设备，本发明通过获取历史缺陷样本集及扩充集生成第一缺陷样本集，涵盖更多缺陷情况，提升模型对复杂缺陷适应力；其次，利用深度卷积神经网络模型等预处理并生成Micro LED缺陷检测模型，提高检测精度，准确标注分类相似缺陷，保障检测结果可靠；再者，自动化样本集生成与模型优化节省时间精力，模型能够快速准确地助力生产决策；最后，该模型利于提升生产决策质量、推动科技创新，助力解决生产问题，保障工业可持续发展。
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公开(公告)号：CN117969555B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202410375031.9
申请日：2024-03-29
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种墨滴打印漏点检测方法、装置、设备及介质，将基板可活动地安装于基台，再使得基板的一侧面形成像素坑阵列，并使得像素坑阵列中包括多个沿预设打印方向依次排列的多个像素坑子阵列，再将打印模块以及视觉检测机构均位于像素坑阵列的上方，通过控制打印模块对多个像素坑子阵列中的目标像素子阵列填充墨滴以进行打印，并控制视觉检测机构采集上一完成打印子阵列的当前图像信息，根据当前图像信息，对上一完成打印子阵列进行漏点检测，在进行墨滴打印的打印过程中即可实现对基板上已完成打印的像素坑中是否存在漏点的情况进行即时检测，实现了对墨滴打印中的像素坑中存在的漏点进行实时检测的功能，节约打印时间，提升打印效率。
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公开(公告)号：CN117870881A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202311786148.8
申请日：2023-12-22
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提供了一种多区域波长标定方法、装置及计算机可读存储介质，多区域波长标定方法包括在光谱仪上根据空间维度划分出预设数量个信号通道；获取光纤信号，并将光纤信号分为预设数量个子信号；将预设数量个子信号一一对应输入至各个信号通道中；分别计算各个子信号在对应信号通道中的像元位置；根据像元位置获取其对应信号通道中的拟合方程。本发明技术方案按照空间维度将光谱仪划分出多个信号通道，同时将光纤信号分为多个子信号，从而可通过单次信号采集处理，实现光谱仪在多个信号通道中的标定，也即根据不同空间维度的波长标定。简化标定操作流程，提高标定的效率，避免曝光波动、光源不稳等影响，有效保证标定的准确度。
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公开(公告)号：CN116811447A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202311081736.1
申请日：2023-08-25
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请涉及视觉定位技术领域，公开了一种基板纠偏和定位方法及相关设备，该基板纠偏和定位方法：通过获取基板偏转的基准角度以及目标位置，在基板实际纠偏和定位中，获取实时的基板偏转的实际角度和基板的实际位置，根据基准角度和实际角度的角度偏差控制转台对基板进行纠偏，根据目标位置和实际位置的位置偏差控制工作台对基板进行定位，解决了由于现有对多相机无共同视野进行标定的方法成本较高，标定过程复杂，计算繁琐的基板纠偏问题，通过本申请设置的基板纠偏和定位方法，不但可以满足基板纠偏微米级精度，而且相较于利用三维立体坐标系标定更加简单和高效。
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公开(公告)号：CN114792344B
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210723777.5
申请日：2022-06-24
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于标定领域，提供一种多相机位置标定方法、装置、系统及存储介质。包括以下步骤：移动具有多个特征点区域的标定板，使得多个相机的多个视野范围内分别具有多个特征点区域中的一个特征点区域；采集多个相机对应视野范围内的图像；获取多个图像，得到每个图像中特征点的像素坐标，建立多个图像坐标系；以标定板的平面建立世界坐标系，计算多个图像坐标系与世界坐标系的关系，得到世界坐标系下多个特征点的对应关系；根据世界坐标系下多个特征点的对应关系与标定板上特征点的位置关系，计算得到多个相机之间的位姿关系。本申请多相机位置标定方法、装置、系统及存储介质能够在多相机无共同视野的情况下进行标定，标定过程简单，计算容易。
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