-
公开(公告)号：CN117798663B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410234901.0
申请日：2024-03-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种电磁继电器中纳米晶带材块体铁心的铆装方法，所述铆装方法如下：步骤1：将纳米晶带材块体铁心两端的方型凸台与内轭铁、长轭铁的方孔凹槽做成间隙配合；步骤2：将纳米晶带材块体铁心置于铆装夹具中，通过锥型铆头均匀压铆长轭铁方孔凹槽的边缘处，完成导磁体的铆接；步骤3：在确保导磁体结构牢固且纳米晶带材块体铁心与长轭铁紧密接触且二者间无明显气隙后，将已绕制完成的线圈套入铁心；步骤4：采用与步骤2相同的铆装方法完成纳米晶带材块体铁心的另一端方型凸台与内轭铁的铆接，测量铆接后的电磁组件的总高以保证其在既定公差范围内。本发明克服了纳米晶带材块体铁心因延展性不足而导致其与轭铁无法完成铆接的困难。
-
公开(公告)号：CN116956676B
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202310914595.0
申请日：2023-07-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/23
Abstract: 本发明公开了一种纳米晶微小型密封电磁继电器动态特性仿真分析方法，所述方法包括如下步骤：步骤1：纳米晶软磁三维响应曲面模型创建；步骤2：电磁有限元—动力学双向耦合仿真平台搭建；步骤3：动态特性计算过程；步骤4：获取动态特性计算结果；该方法充分考虑到纳米晶软磁材料的磁学性能，从仿真工具和分析方法两方面进行技术革新，创建纳米晶软磁材料磁感应强度—工作频率—磁场强度的三维响应曲面模型，基于Ansys平台实现电磁有限元—动力学模型的双向耦合，采用分时段计算配合小波主元解析；本发明的方法既为纳米晶微小型密封继电器动态特性分析提供理论基础，也为后续批次产品稳健性研究中准确仿真分析提供保障。
-
公开(公告)号：CN113449455A
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN202110827136.X
申请日：2021-07-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/23 , G06F30/17 , G06F111/06 , G06F119/02 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种削薄衔铁的切削阈值确定方法，所述方法包括如下步骤：S1：建立继电器电磁系统参数化改进设计模型；S2：建立静态特性仿真参数化模型，进行静态特性仿真，计算不同切削条件下电磁吸力随切削量变化的端部吸力曲线；S3：将吸力曲线与继电器反力曲线进行对比，得到吸反力设计差值曲线；S4：理论计算得到最低力学性能保障曲线；S5：将吸反力设计差值曲线与最低力学性能保障曲线进行比较，曲线交叉点对应的切削量即为切削阈值。该方法能够使研究者在优化改进设计当中更为准确的确定削薄衔铁对继电器性能的影响，避免了对衔铁改进过多造成继电器力学性能等其它性能下降，甚至无法达标的问题，使改进设计更为可靠、有效。
-
公开(公告)号：CN109950095B
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN201910142460.0
申请日：2019-02-26
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H01H50/38
Abstract: 本发明提供了一种用于继电器的灭弧结构及其制造方法，涉及继电器领域。所述用于继电器的灭弧结构包括：多个簧片，竖立安装在所述继电器的底板顶面，多个所述簧片一端的片状部互呈间距的沿着设定方向延伸；以及磁体，临近多个所述簧片安装在所述底板，以使其形成的磁场沿着垂直于所述底板顶面的方向穿射过多个所述簧片的一端。以通过磁体形成的洛伦兹力，将簧片之间形成的电弧拉长并直至熄灭，以快速灭弧而实现减少小型继电器动作过程中热量对电磁系统的损伤，提高继电器寿命及抗过负载能力。
-
公开(公告)号：CN115792594B
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202211513998.6
申请日：2022-11-29
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/327 , G01R19/00 , G01R23/16 , G01R33/12
Abstract: 本发明公开了一种提高密封电磁继电器动态特性的软磁选型方法，所述方法包括如下步骤：(1)在额定电压下对待测密封电磁继电器的线圈电流进行测试，得到待测密封电磁继电器上电至衔铁吸合过程中的线圈电流波形；(2)对测试所得的线圈电流波形做小波变换，通过小波变换“时间‑尺度”图分析出高频分量的数值大小与时域分布；(3)在不同高频工作环境下对不同软磁材料进行高频测试，得到不同软磁材料在不同高频工作环境下的磁化曲线，进而分析出软磁的高频特性对待测密封电磁继电器动态特性的影响；(4)选定能够有效提高动态特性的软磁材料。该方法既能有效地提高动态特性，又能为密封电器产品的材料优化提供选型参考。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113640717B
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202110859341.4
申请日：2021-07-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种电器元件内部条形永磁体截面磁通间接测量方法，所述方法如下：S1：针对不同型号尺寸的条形永磁体，沿各充磁方向上，测量截面磁通作为参考1；S2：针对不同型号尺寸的条形永磁体，沿各充磁方向上，测量端面磁通作为参考2；S3：将参考1和2数据导入数据库；S4：对于某装配到电器元件当中的条形永磁体，测量端面磁通以及端部位置的部分截面磁通，作为实测数据；S5：将实测数据与参考1和参考2进行比对，选取数据最为相近的永磁体参考，同时获得参考1中对应型号永磁体的截面磁通数据，作为该条形永磁体的截面磁通。本发明为不破坏电磁机构就能测量永磁体截面磁通提供了可行方案。
-
公开(公告)号：CN113449455B
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN202110827136.X
申请日：2021-07-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/23 , G06F30/17 , G06F111/06 , G06F119/02 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种削薄衔铁的切削阈值确定方法，所述方法包括如下步骤：S1：建立继电器电磁系统参数化改进设计模型；S2：建立静态特性仿真参数化模型，进行静态特性仿真，计算不同切削条件下电磁吸力随切削量变化的端部吸力曲线；S3：将吸力曲线与继电器反力曲线进行对比，得到吸反力设计差值曲线；S4：理论计算得到最低力学性能保障曲线；S5：将吸反力设计差值曲线与最低力学性能保障曲线进行比较，曲线交叉点对应的切削量即为切削阈值。该方法能够使研究者在优化改进设计当中更为准确的确定削薄衔铁对继电器性能的影响，避免了对衔铁改进过多造成继电器力学性能等其它性能下降，甚至无法达标的问题，使改进设计更为可靠、有效。
-
公开(公告)号：CN118504331A
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202410624962.8
申请日：2024-05-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/23 , G06F30/10 , G06F30/30 , G06F17/10 , G06F111/04 , G06F119/02 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种电磁继电器多物理场双向交互耦合分析方法，所述方法包括如下步骤：步骤1：建立以无网格节点柔性体为核心的刚柔耦合多体动力学计算模型；步骤2：建立可自动生成的电磁有限元模型，基于麦克斯韦方程组完成电磁场边界条件设定，实现多体动力学‑电磁有限元双向交互耦合通道搭建；步骤3：设置仿真时间、并行求解工作核数、最大迭代误差这三个关键耦合解算参数，进入求解过程；步骤4：获取机械特性曲线及云图分布、电磁特性曲线及云图分布。本发明相较于传统的基于静态数据表的动态特性分析方法，实现了效率与精度的提升，为继电器产品的可靠性分析提供了技术手段。
-
公开(公告)号：CN113589207B
公开(公告)日：2023-09-22
申请号：CN202110930753.2
申请日：2021-08-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R33/12
Abstract: 本发明公开了一种电器元件内部扇形永磁体截面磁通间接测量方法，所述方法如下：针对不同型号尺寸的扇形永磁体，沿径向方向充磁，测量上表面方向上截面磁通作为参考1，测量径向方向上截面磁通作为可获取数据3，测量上表面不同位置磁强作为参考2；将参考1和2导入数据库A，将可获取数据3导入数据库B；对于某装配到电器元件当中的扇形永磁体，测量上表面截面磁通和表面磁强，作为实测数据；将实测数据与数据库A进行比对，选取数据最为相近的永磁体参考，同时获得数据库B中对应型号永磁体的截面磁通数据，作为该条形永磁体的截面磁通。本发明为不破坏电磁机构就能测量扇形永磁体截面磁通提供了可行方案。
-
公开(公告)号：CN113589207A
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN202110930753.2
申请日：2021-08-13
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R33/12
Abstract: 本发明公开了一种电器元件内部扇形永磁体截面磁通间接测量方法，所述方法如下：针对不同型号尺寸的扇形永磁体，沿径向方向充磁，测量上表面方向上截面磁通作为参考1，测量径向方向上截面磁通作为可获取数据3，测量上表面不同位置磁强作为参考2；将参考1和2导入数据库A，将可获取数据3导入数据库B；对于某装配到电器元件当中的扇形永磁体，测量上表面截面磁通和表面磁强，作为实测数据；将实测数据与数据库A进行比对，选取数据最为相近的永磁体参考，同时获得数据库B中对应型号永磁体的截面磁通数据，作为该条形永磁体的截面磁通。本发明为不破坏电磁机构就能测量扇形永磁体截面磁通提供了可行方案。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
19
records
(took 0.033 seconds)
