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公开(公告)号：CN113640717B
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202110859341.4
申请日：2021-07-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种电器元件内部条形永磁体截面磁通间接测量方法，所述方法如下：S1：针对不同型号尺寸的条形永磁体，沿各充磁方向上，测量截面磁通作为参考1；S2：针对不同型号尺寸的条形永磁体，沿各充磁方向上，测量端面磁通作为参考2；S3：将参考1和2数据导入数据库；S4：对于某装配到电器元件当中的条形永磁体，测量端面磁通以及端部位置的部分截面磁通，作为实测数据；S5：将实测数据与参考1和参考2进行比对，选取数据最为相近的永磁体参考，同时获得参考1中对应型号永磁体的截面磁通数据，作为该条形永磁体的截面磁通。本发明为不破坏电磁机构就能测量永磁体截面磁通提供了可行方案。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113449455B
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN202110827136.X
申请日：2021-07-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/23 , G06F30/17 , G06F111/06 , G06F119/02 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种削薄衔铁的切削阈值确定方法，所述方法包括如下步骤：S1：建立继电器电磁系统参数化改进设计模型；S2：建立静态特性仿真参数化模型，进行静态特性仿真，计算不同切削条件下电磁吸力随切削量变化的端部吸力曲线；S3：将吸力曲线与继电器反力曲线进行对比，得到吸反力设计差值曲线；S4：理论计算得到最低力学性能保障曲线；S5：将吸反力设计差值曲线与最低力学性能保障曲线进行比较，曲线交叉点对应的切削量即为切削阈值。该方法能够使研究者在优化改进设计当中更为准确的确定削薄衔铁对继电器性能的影响，避免了对衔铁改进过多造成继电器力学性能等其它性能下降，甚至无法达标的问题，使改进设计更为可靠、有效。
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公开(公告)号：CN113628975A
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN202010376789.6
申请日：2020-05-07
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
IPC: H01L21/48 , H01L23/373
Abstract: 本发明提供一种高导热复合体及其制备方法，通过打孔、攻丝工艺将螺丝穿过高导热材料，并与外层基板和盖板形成高导热复合体。螺丝在复合体中形成纵向导热结构，可显著增强水平方向导热好、纵向导热差的材料的纵向导热。同时这种螺丝结构还可以增强高导热材料与外层基板和盖板连接，降低界面热阻。该方法简单、可靠、成本低廉，操作性强，利用这种方法制作的复合体热导率高、密度低、强度高、厚度可控，避免了高导热材料易磨损、掉渣、强度低等缺点，可应用于各类基板、冷板和机箱壳体等散热结构中。
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公开(公告)号：CN111497367A
公开(公告)日：2020-08-07
申请号：CN202010338533.6
申请日：2020-04-26
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
IPC: B32B9/00 , B32B9/04 , B32B5/02 , B32B5/26 , B32B3/30 , B32B7/022 , B32B7/027 , B32B33/00 , B32B37/10 , B32B37/06 , B32B38/00 , H01L23/373
Abstract: 本发明提供一种高导热体及其制备方法，以高导热膜为原料，通过在导热膜之间产生凹凸互锁式的微变形，形成高导热体。该方法简单、可靠、不需要粘结剂层，操作性强，导热膜间结合紧密，可应用于众多体系导热膜。利用这种方法制备的导热体具有密度小、厚度可调节、纵向热导率高、力学性能较好、层间结合力较强等优点，可广泛应用于电子产品的热管理中。
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公开(公告)号：CN113449455A
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN202110827136.X
申请日：2021-07-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/23 , G06F30/17 , G06F111/06 , G06F119/02 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种削薄衔铁的切削阈值确定方法，所述方法包括如下步骤：S1：建立继电器电磁系统参数化改进设计模型；S2：建立静态特性仿真参数化模型，进行静态特性仿真，计算不同切削条件下电磁吸力随切削量变化的端部吸力曲线；S3：将吸力曲线与继电器反力曲线进行对比，得到吸反力设计差值曲线；S4：理论计算得到最低力学性能保障曲线；S5：将吸反力设计差值曲线与最低力学性能保障曲线进行比较，曲线交叉点对应的切削量即为切削阈值。该方法能够使研究者在优化改进设计当中更为准确的确定削薄衔铁对继电器性能的影响，避免了对衔铁改进过多造成继电器力学性能等其它性能下降，甚至无法达标的问题，使改进设计更为可靠、有效。
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公开(公告)号：CN113640717A
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN202110859341.4
申请日：2021-07-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种电器元件内部条形永磁体截面磁通间接测量方法，所述方法如下：S1：针对不同型号尺寸的条形永磁体，沿各充磁方向上，测量截面磁通作为参考1；S2：针对不同型号尺寸的条形永磁体，沿各充磁方向上，测量端面磁通作为参考2；S3：将参考1和2数据导入数据库；S4：对于某装配到电器元件当中的条形永磁体，测量端面磁通以及端部位置的部分截面磁通，作为实测数据；S5：将实测数据与参考1和参考2进行比对，选取数据最为相近的永磁体参考，同时获得参考1中对应型号永磁体的截面磁通数据，作为该条形永磁体的截面磁通。本发明为不破坏电磁机构就能测量永磁体截面磁通提供了可行方案。
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