一种半导体碟片激光器及其制备方法

    公开(公告)号:CN107887789A

    公开(公告)日:2018-04-06

    申请号:CN201711463247.7

    申请日:2017-12-28

    CPC classification number: H01S5/02476

    Abstract: 本发明公开了一种半导体碟片激光器,在基底背面设置有密闭沟道,在该沟道内填充有预设体积的工作液,所述工作液的预设体积小于沟道的容积。当半导体碟片激光器正面受到泵浦光照射时,被泵浦光照射的区域会产生大量的热量。处在照射区域的沟道内的工作液会气化吸收热量,并且气化后的气体分子会沿着沟道的轴向方向迅速扩散。由于相变吸热和气相传热会极快的完成,通过上述结构可以使得半导体碟片激光器的散热面积从一个点变成了一个面,并且通过一个面继续向半导体碟片激光器的背面传热,会极大的增加半导体碟片激光器的横向散热面积以及纵向散热面积,从而有效降低半导体碟片激光器发光区域的热流密度,极大的增加半导体碟片激光器的散热速率。

    试验用夹具、检查装置、载置装置以及试验装置

    公开(公告)号:CN104603626A

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN201380046158.6

    申请日:2013-07-26

    Inventor: 上山明纪

    Abstract: 本发明提供一种试验装置,能够使用易于维护管理的夹具,进行质量不良判定时的损失为最小限度的试验。试验装置(20)针对的被试验体(1)是与基座(3)接合的半导体芯片(2),在装卸自如地配备于试验装置(20)的试验用夹具(10)中,在托架(11)上载置被试验体(1),将接触块(12)装卸自如地安装于托架(11),接触块(12)的接触部件与被试验体(1)电连接。在试验装置(20)中,控制保持被试验体(1)的试验用夹具(10)的温度环境,同时经由试验用夹具(10)的接触块(12)对由试验用夹具(10)保持的被试验体(1)供给用于驱动被试验体(1)的电力,测定响应于供电而驱动的被试验体(1)的驱动结果。

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