存储单元的数据读取方法、存储器、存储系统及存储介质

    公开(公告)号:CN113553213A

    公开(公告)日:2021-10-26

    申请号:CN202110795984.7

    申请日:2021-07-14

    Abstract: 本申请提供了一种存储单元的数据读取方法、存储器、存储系统及存储介质,涉及半导体设计及制造领域,方法包括:在施加默认读电压的情况下,多次对处于高态的第一存储单元进行读取得到多个感测电压,其中高态为存储单元的阈值电压大于等于预设阈值的状态;将多个所述感测电压与预设的参考电压进行比较,以确定最终状态值;对所述第一存储单元施加所述最终状态值对应的读电压,以对所述第一存储单元进行读取。通过在片内选择性地进行读取,能够补偿部分或全部的阈值电压的偏移带来的影响,减少读取失败的次数,从而降低正确读取的时间,提高存储单元的数据读取效率。

    存储单元的数据读取方法、存储器、存储系统及存储介质

    公开(公告)号:CN113553213B

    公开(公告)日:2022-11-04

    申请号:CN202110795984.7

    申请日:2021-07-14

    Abstract: 本申请提供了一种存储单元的数据读取方法、存储器、存储系统及存储介质,涉及半导体设计及制造领域,方法包括:在施加默认读电压的情况下,多次对处于高态的第一存储单元进行读取得到多个感测电压,其中高态为存储单元的阈值电压大于等于预设阈值的状态;将多个所述感测电压与预设的参考电压进行比较,以确定最终状态值;对所述第一存储单元施加所述最终状态值对应的读电压,以对所述第一存储单元进行读取。通过在片内选择性地进行读取,能够补偿部分或全部的阈值电压的偏移带来的影响,减少读取失败的次数,从而降低正确读取的时间,提高存储单元的数据读取效率。

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