一种ZQ校准方法、存储器及存储系统

    公开(公告)号:CN115424655A

    公开(公告)日:2022-12-02

    申请号:CN202210975341.5

    申请日:2022-08-15

    Abstract: 本发明实施例提供一种ZQ校准方法、存储器及存储系统。其中,所述方法包括:获取为短ZQ校准配置的最大循环次数;所述最大循环次数用于表明所述短ZQ校准的校准范围;在接收到短ZQ校准命令后,对所述存储器的接口阻抗进行所述短ZQ校准,直到执行校准的循环次数达到所述最大循环次数和/或校准结果满足要求。

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