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公开(公告)号:CN103131885A
公开(公告)日:2013-06-05
申请号:CN201210475429.7
申请日:2012-11-21
Applicant: 赫劳斯材料工艺有限及两合公司
CPC classification number: H01L33/62 , B21C3/00 , C22C5/06 , C22C5/08 , H01L24/43 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L2224/43 , H01L2224/43848 , H01L2224/45015 , H01L2224/45139 , H01L2224/45144 , H01L2224/45565 , H01L2224/48091 , H01L2224/48247 , H01L2224/48257 , H01L2924/00011 , H01L2924/00015 , H01L2924/01012 , H01L2924/01013 , H01L2924/01015 , H01L2924/01028 , H01L2924/01029 , H01L2924/01047 , H01L2924/12041 , H01L2924/181 , H01L2924/0103 , H01L2924/0105 , H01L2924/01078 , H01L2924/01076 , H01L2924/01079 , H01L2924/01046 , H01L2924/01004 , H01L2924/01057 , H01L2924/01039 , H01L2924/0102 , H01L2924/01056 , H01L2924/01058 , H01L2224/45147 , H01L2224/45664 , H01L2924/01204 , H01L2924/01045 , H01L2924/013 , H01L2924/00013 , H01L2924/00014 , H01L2924/00 , H01L2924/00012 , H01L2924/01049 , H01L2924/01006
Abstract: 本发明涉及用于半导体器件的接合线。公开了一种用于半导体器件的接合线及其制造方法。根据本发明的用于半导体器件的接合线包括5ppm到10wt%的选自锌(Zn)、锡(Sn)和镍(Ni)组成的组中的至少一种;以及剩余物,包括银(Ag)和其他不可避免的杂质。
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公开(公告)号:CN103681568B
公开(公告)日:2017-03-01
申请号:CN201310397219.5
申请日:2013-09-04
Applicant: 赫劳斯材料工艺有限及两合公司
CPC classification number: B23K35/0227 , B23K35/3006 , B23K2101/36 , B23K2101/40 , B23K2101/42 , C22C5/06 , H01L24/43 , H01L24/45 , H01L2224/43 , H01L2224/43848 , H01L2224/45015 , H01L2224/45139 , H01L2924/00011 , H01L2924/00014 , H01L2924/01047 , H01L2924/12041 , H05K7/02 , H01L2924/00 , H01L2224/48 , H01L2924/01079 , H01L2924/01046 , H01L2924/01078 , H01L2924/01045 , H01L2924/01044 , H01L2924/01028 , H01L2924/01029 , H01L2924/01077 , H01L2924/013 , H01L2924/20109 , H01L2924/2011 , H01L2924/20111 , H01L2924/01049 , H01L2924/01006 , H01L2924/01004 , H01L2924/01005
Abstract: 本发明涉及用于接合应用的银合金引线。本发明涉及接合引线,该接合引线包括:具有表面的芯,其中所述芯包含银作为主要成分并包含选自金、钯、铂、铑、钌、镍、铜和铱的至少一者,该接合引线的特征在于其具有下述特性中的至少一个:i)所述芯的晶粒的平均尺寸为0.8μm-3μm,ii)在所述引线的横截面中具有 方向的取向的晶粒的量的范围为10-20%,iii)在所述引线的横截面中具有 方向的取向的晶粒的量的范围为5-15%,以及iv)在所述引线的横截面中具有 方向的取向的晶粒和具有 方向的取向的晶粒的总量的范围为15-40%。(56)对比文件Suk Min Baeck etc.《.Texture Analysisof Copper Bonding Wire》《.MaterialsScience Forum》.2002,第408-412卷全文.F.WULFF etc.《.Crystallographictexture of drawn gold bonding wires usingelectron backscattered diffraction(EBSD)》《.JOURNAL OF MATERIALS SCIENCELETTERS》.2003,第22卷全文.
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公开(公告)号:CN103681568A
公开(公告)日:2014-03-26
申请号:CN201310397219.5
申请日:2013-09-04
Applicant: 赫劳斯材料工艺有限及两合公司
CPC classification number: B23K35/0227 , B23K35/3006 , B23K2101/36 , B23K2101/40 , B23K2101/42 , C22C5/06 , H01L24/43 , H01L24/45 , H01L2224/43 , H01L2224/43848 , H01L2224/45015 , H01L2224/45139 , H01L2924/00011 , H01L2924/00014 , H01L2924/01047 , H01L2924/12041 , H05K7/02 , H01L2924/00 , H01L2224/48 , H01L2924/01079 , H01L2924/01046 , H01L2924/01078 , H01L2924/01045 , H01L2924/01044 , H01L2924/01028 , H01L2924/01029 , H01L2924/01077 , H01L2924/013 , H01L2924/20109 , H01L2924/2011 , H01L2924/20111 , H01L2924/01049 , H01L2924/01006 , H01L2924/01004 , H01L2924/01005
Abstract: 本发明涉及用于接合应用的银合金引线。本发明涉及接合引线,该接合引线包括:具有表面的芯,其中所述芯包含银作为主要成分并包含选自金、钯、铂、铑、钌、镍、铜和铱的至少一者,该接合引线的特征在于其具有下述特性中的至少一个:i)所述芯的晶粒的平均尺寸为0.8μm-3μm,ii)在所述引线的横截面中具有 方向的取向的晶粒的量的范围为10-20%,iii)在所述引线的横截面中具有 方向的取向的晶粒的量的范围为5-15%,以及iv)在所述引线的横截面中具有 方向的取向的晶粒和具有 方向的取向的晶粒的总量的范围为15-40%。
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