公开(公告)号：CN106679934B

公开(公告)日：2019-04-09

申请号：CN201611180868.X

申请日：2016-12-19

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 张冰

IPC: G01M11/00

Abstract: 本发明公开了一种图像传感器件低频传递函数测试装置及其测试方法，包括顺序设置的积分球、光学靶标、平行光管和光学透射镜头，光学透射镜头处设置有控制驱动板，控制驱动板与图像采集处理模块连接；其中光学靶标上设置有若干互相平行的靶标条纹。通过低频靶标与其他光学器件的设计，将靶标在光学组件中的调制度降至最低，从而完成了适配高分辨率、超小像素类型的图像传感器件的测试。

公开(公告)号：CN106841976A

公开(公告)日：2017-06-13

申请号：CN201611180024.5

申请日：2016-12-19

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 张冰

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2882

Abstract: 本发明公开了一种测试模拟开关通道转换无效输出时间的装置，包括与模拟电压产生模块、电压检测模块、测试板模块、电源和双踪示波器；其中模拟电压产生模块、电压检测模块、测试板模块分别与待测模拟开关的输入端连接，其中待测模拟开关为多路通道模拟开关，待测模拟开关与电源连接，待测模拟开关的输出端还与双踪示波器连接；其中待测模拟开关的输出端还连接有负载电阻和负载电容。能够用来表征模拟开关在高速应用时切换通道的效率，能够提升模拟开关在高速、高精度相关技术领域的应用及发展，为该通用电路更好的服务现代高新电子产业发展做好支撑。

公开(公告)号：CN106679934A

公开(公告)日：2017-05-17

申请号：CN201611180868.X

申请日：2016-12-19

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 张冰

IPC: G01M11/00

CPC classification number: G01M11/0292

Abstract: 本发明公开了一种图像传感器件低频传递函数测试装置及其测试方法，包括顺序设置的积分球、光学靶标、平行光管和光学透射镜头，光学透射镜头处设置有控制驱动板，控制驱动板与图像采集处理模块连接；其中光学靶标上设置有若干互相平行的靶标条纹。通过低频靶标与其他光学器件的设计，将靶标在光学组件中的调制度降至最低，从而完成了适配高分辨率、超小像素类型的图像传感器件的测试。

公开(公告)号：CN106646000A

公开(公告)日：2017-05-10

申请号：CN201611180036.8

申请日：2016-12-19

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 张冰

IPC: G01R29/24 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R29/24 ,  G01R31/2851

Abstract: 本发明公开了一种测量模拟开关电荷注入量的装置，包括模拟电压产生模块，模拟电压产生模块与电压检测模块连接，电压检测模块与待测模拟开关的输入端连接，待测模拟开关的输出端并联有双踪示波器和电容器，待测模拟开关还与电源连接，双踪示波器还与测试板模块连接。能够测量出模拟开关电路的电荷注入量，满足了现在模拟开关在高精度应用领域内的测试需求。

公开(公告)号：CN206835065U

公开(公告)日：2018-01-02

申请号：CN201720318195.3

申请日：2017-03-29

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 季轻舟 ,  雒宝花 ,  张立博 ,  张冰 ,  李飞强 ,  王勇

IPC: H03M7/00

Abstract: 本实用新型一种防止单点失效的双冗余译码驱动电路结构，包括第一PMOS晶体管的衬底与源极相连并连接电源电压，漏极与第二PMOS晶体管源极和衬底相连，栅极与第三分压多晶电阻一端相连；第二PMOS晶体管漏极与输出多晶电阻一端相连并与第四PMOS晶体管漏极相连，栅极与第一分压多晶电阻一端相连；第三PMOS晶体管衬底与源极相连并接电源电压，漏极与第四PMOS晶体管源极和衬底相连，栅极与第四分压多晶电阻一端相连；第四PMOS晶体管漏极经输出多晶电阻接地，栅极与第二分压多晶电阻一端相连；第一分压多晶电阻另一端和第二分压多晶电阻另一端相连，并与译码器B输出端相连；第三分压多晶电阻另一端和第四分压多晶电阻另一端相连，并与译码器A输出端相连。