公开(公告)号：CN114978176A

公开(公告)日：2022-08-30

申请号：CN202210530659.2

申请日：2022-05-16

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 班诚 ,  伍民顺 ,  王美佳 ,  乔冠霖 ,  于泰 ,  张晓鹏 ,  许江涛 ,  耿莉

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明公开一种ADC线性度测试方法，涉及集成电路测试技术领域，将满足单调条件并且函数形式已知的输入信号输入被测ADC中，采集被测ADC的输出数据，得到被测ADC的直方图数据，根据采集到的被测ADC的输出数据与输入信号的函数形式，获取表征输入信号函数的参数，得到输入信号的函数方程；根据输入信号的函数方程和被测ADC的直方图数据，获取被测ADC的预估转换电平；根据预估转换电平计算被测ADC的线性度参数指标DNL和INL，用于评价被测ADC的线性度。本发明避免了传统的码密度直方图法因归一化运算引入的估计误差，不仅可以提高ADC线性度测试的精度，而且能让满足条件的任意波形的信号都能应用到ADC线性度测试中。

公开(公告)号：CN114966370B

公开(公告)日：2024-07-23

申请号：CN202210530656.9

申请日：2022-05-16

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 班诚 ,  伍民顺 ,  于高望 ,  赵静怡 ,  路畅 ,  张晓鹏 ,  许江涛 ,  耿莉

IPC: G01R31/28 ,  H03M1/10

Abstract: 本发明提供一种模拟前端测试电路及测试方法，包括依次连接的信号源、模拟前端电路和数据处理模块，其中模拟前端电路包括被测放大器和被测ADC，以及设置在被测放大器和被测ADC之间的传递函数已知的两组滤波通路，所述两组滤波通路用于产生两组频谱相关的信号激励被测ADC，所述信号源用于提供高纯度的余弦测试信号，所述数据处理模块用于接收模拟前端电路的输出信号并对信号进行处理，本发明可同时测量放大器和ADC的频谱性能，避免了传统测试方法中因单独测试而引入额外的噪声和寄生电容，使得测试结果更精确，测试方式更便捷。

公开(公告)号：CN114740336A

公开(公告)日：2022-07-12

申请号：CN202210529007.7

申请日：2022-05-16

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 班诚 ,  伍民顺 ,  蔡嘉璇 ,  许文哲 ,  张良昊 ,  张晓鹏 ,  许江涛 ,  耿莉

IPC: G01R31/28 ,  G01R23/165 ,  G06F30/367

Abstract: 本发明公开了一种放大器测试电路及测试方法，涉及集成电路测试领域，包括信号源、多路滤波器组A、被测放大器、多路滤波器组B、测量器件和数据处理模块，其中信号源的输出端连接多路滤波器组A的输入端，多路滤波器组A的输出端连接被测放大器的输入端，被测放大器的输出端连接多路滤波器组B的输入端，多路滤波器组B的输出端连接测量器件的输入端，测量器件的输出端连接数据处理模块的输入端；所述多路滤波器组A和多路滤波器组B均至少包括两个滤波通路，所述滤波通路可切换使用；本发明能够降低放大器测试对信号源和/或测量器件的精度要求，减少放大器测试对高精度信号源和高精度测量器件的依赖，具有测试精度高、低成本等优点。

公开(公告)号：CN114740336B

公开(公告)日：2024-07-23

申请号：CN202210529007.7

申请日：2022-05-16

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 班诚 ,  伍民顺 ,  蔡嘉璇 ,  许文哲 ,  张良昊 ,  张晓鹏 ,  许江涛 ,  耿莉

IPC: G01R31/28 ,  G01R23/165 ,  G06F30/367

Abstract: 本发明公开了一种放大器测试电路及测试方法，涉及集成电路测试领域，包括信号源、多路滤波器组A、被测放大器、多路滤波器组B、测量器件和数据处理模块，其中信号源的输出端连接多路滤波器组A的输入端，多路滤波器组A的输出端连接被测放大器的输入端，被测放大器的输出端连接多路滤波器组B的输入端，多路滤波器组B的输出端连接测量器件的输入端，测量器件的输出端连接数据处理模块的输入端；所述多路滤波器组A和多路滤波器组B均至少包括两个滤波通路，所述滤波通路可切换使用；本发明能够降低放大器测试对信号源和/或测量器件的精度要求，减少放大器测试对高精度信号源和高精度测量器件的依赖，具有测试精度高、低成本等优点。

公开(公告)号：CN114966370A

公开(公告)日：2022-08-30

申请号：CN202210530656.9

申请日：2022-05-16

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 班诚 ,  伍民顺 ,  于高望 ,  赵静怡 ,  路畅 ,  张晓鹏 ,  许江涛 ,  耿莉

IPC: G01R31/28 ,  H03M1/10

Abstract: 本发明提供一种模拟前端测试电路及测试方法，包括依次连接的信号源、模拟前端电路和数据处理模块，其中模拟前端电路包括被测放大器和被测ADC，以及设置在被测放大器和被测ADC之间的传递函数已知的两组滤波通路，所述两组滤波通路用于产生两组频谱相关的信号激励被测ADC，所述信号源用于提供高纯度的余弦测试信号，所述数据处理模块用于接收模拟前端电路的输出信号并对信号进行处理，本发明可同时测量放大器和ADC的频谱性能，避免了传统测试方法中因单独测试而引入额外的噪声和寄生电容，使得测试结果更精确，测试方式更便捷。