公开(公告)号：CN114966370A

公开(公告)日：2022-08-30

申请号：CN202210530656.9

申请日：2022-05-16

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 班诚 ,  伍民顺 ,  于高望 ,  赵静怡 ,  路畅 ,  张晓鹏 ,  许江涛 ,  耿莉

IPC: G01R31/28 ,  H03M1/10

Abstract: 本发明提供一种模拟前端测试电路及测试方法，包括依次连接的信号源、模拟前端电路和数据处理模块，其中模拟前端电路包括被测放大器和被测ADC，以及设置在被测放大器和被测ADC之间的传递函数已知的两组滤波通路，所述两组滤波通路用于产生两组频谱相关的信号激励被测ADC，所述信号源用于提供高纯度的余弦测试信号，所述数据处理模块用于接收模拟前端电路的输出信号并对信号进行处理，本发明可同时测量放大器和ADC的频谱性能，避免了传统测试方法中因单独测试而引入额外的噪声和寄生电容，使得测试结果更精确，测试方式更便捷。

公开(公告)号：CN114966370B

公开(公告)日：2024-07-23

申请号：CN202210530656.9

申请日：2022-05-16

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 班诚 ,  伍民顺 ,  于高望 ,  赵静怡 ,  路畅 ,  张晓鹏 ,  许江涛 ,  耿莉

IPC: G01R31/28 ,  H03M1/10

Abstract: 本发明提供一种模拟前端测试电路及测试方法，包括依次连接的信号源、模拟前端电路和数据处理模块，其中模拟前端电路包括被测放大器和被测ADC，以及设置在被测放大器和被测ADC之间的传递函数已知的两组滤波通路，所述两组滤波通路用于产生两组频谱相关的信号激励被测ADC，所述信号源用于提供高纯度的余弦测试信号，所述数据处理模块用于接收模拟前端电路的输出信号并对信号进行处理，本发明可同时测量放大器和ADC的频谱性能，避免了传统测试方法中因单独测试而引入额外的噪声和寄生电容，使得测试结果更精确，测试方式更便捷。