公开(公告)号：CN114978176A

公开(公告)日：2022-08-30

申请号：CN202210530659.2

申请日：2022-05-16

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 班诚 ,  伍民顺 ,  王美佳 ,  乔冠霖 ,  于泰 ,  张晓鹏 ,  许江涛 ,  耿莉

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明公开一种ADC线性度测试方法，涉及集成电路测试技术领域，将满足单调条件并且函数形式已知的输入信号输入被测ADC中，采集被测ADC的输出数据，得到被测ADC的直方图数据，根据采集到的被测ADC的输出数据与输入信号的函数形式，获取表征输入信号函数的参数，得到输入信号的函数方程；根据输入信号的函数方程和被测ADC的直方图数据，获取被测ADC的预估转换电平；根据预估转换电平计算被测ADC的线性度参数指标DNL和INL，用于评价被测ADC的线性度。本发明避免了传统的码密度直方图法因归一化运算引入的估计误差，不仅可以提高ADC线性度测试的精度，而且能让满足条件的任意波形的信号都能应用到ADC线性度测试中。