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公开(公告)号:CN114740336B
公开(公告)日:2024-07-23
申请号:CN202210529007.7
申请日:2022-05-16
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01R31/28 , G01R23/165 , G06F30/367
Abstract: 本发明公开了一种放大器测试电路及测试方法,涉及集成电路测试领域,包括信号源、多路滤波器组A、被测放大器、多路滤波器组B、测量器件和数据处理模块,其中信号源的输出端连接多路滤波器组A的输入端,多路滤波器组A的输出端连接被测放大器的输入端,被测放大器的输出端连接多路滤波器组B的输入端,多路滤波器组B的输出端连接测量器件的输入端,测量器件的输出端连接数据处理模块的输入端;所述多路滤波器组A和多路滤波器组B均至少包括两个滤波通路,所述滤波通路可切换使用;本发明能够降低放大器测试对信号源和/或测量器件的精度要求,减少放大器测试对高精度信号源和高精度测量器件的依赖,具有测试精度高、低成本等优点。
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公开(公告)号:CN114740336A
公开(公告)日:2022-07-12
申请号:CN202210529007.7
申请日:2022-05-16
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01R31/28 , G01R23/165 , G06F30/367
Abstract: 本发明公开了一种放大器测试电路及测试方法,涉及集成电路测试领域,包括信号源、多路滤波器组A、被测放大器、多路滤波器组B、测量器件和数据处理模块,其中信号源的输出端连接多路滤波器组A的输入端,多路滤波器组A的输出端连接被测放大器的输入端,被测放大器的输出端连接多路滤波器组B的输入端,多路滤波器组B的输出端连接测量器件的输入端,测量器件的输出端连接数据处理模块的输入端;所述多路滤波器组A和多路滤波器组B均至少包括两个滤波通路,所述滤波通路可切换使用;本发明能够降低放大器测试对信号源和/或测量器件的精度要求,减少放大器测试对高精度信号源和高精度测量器件的依赖,具有测试精度高、低成本等优点。
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