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公开(公告)号：CN104620086A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201380048226.2
申请日：2013-08-08
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及至少两个用于探测电磁辐射（FIR）的晶片（120、110；120、130）的装置，其中第一晶片（120）具有微系统（115），所述微系统被构造为传感器阵列并且所述微系统被设计用于检测电磁辐射（FIR）以及提供相应的传感器信号；并且其中第二晶片（110；130）具有集成电路(105)，所述集成电路被构造为与所述传感器阵列耦合的分析电路并且所述集成电路被设计用于，依据所提供的传感器信号探测电磁辐射（FIR）。
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公开(公告)号：CN108139273A
公开(公告)日：2018-06-08
申请号：CN201680060924.8
申请日：2016-09-12
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01J5/20 , G01J1/429 , G01J5/0853 , G01J5/0896 , G01J2005/066 , G01J2005/206
Abstract: 本发明涉及一种辐射传感器装置（21），包括：辐射传感器（2），所述辐射传感器包括悬臂式的元件（5）和保持结构（4），所述悬臂式的元件包括光学吸收体（6）和电阻结构（3），所述保持结构将悬臂式的元件与衬底（1）间隔开地保持并且所述保持结构是悬臂式的元件（5）与所述衬底（1）之间的连接；以及分析单元，用于由所述电阻结构（3）的电阻的改变测定所吸收的辐射，其特征在于光学吸收体（6）的波长选择性设计。
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公开(公告)号：CN106525250A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201610812666.6
申请日：2016-09-09
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: H01L27/14649 , G01J5/00 , H01L27/14618 , H01L27/14625 , H01L31/0203 , H01L31/0224 , H01L31/0232 , G01J5/12 , G01J5/10 , G01J5/20 , G01J2005/126
Abstract: 本发明涉及微电子装置和相对应的用于微电子装置的制造方法。本发明提出了一种用于探测电磁波的微电子装置（100）。该微电子装置100）包括：传感器衬底（10），所述传感器衬底10）具有装配面（11）和至少一个探测区域（15）；和被布置在所述装配面（11）上的至少一个透镜衬底。所述至少一个透镜衬底具有至少一个空腔K1），而且所述至少一个空腔（K1）密封地包围所述至少一个在衬底级上的探测区域（15）。
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公开(公告)号：CN108496066A
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201680080692.2
申请日：2016-12-05
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于光谱分析和图像检测的微型光谱仪（10），包括：-探测单元（7），用于检测光学参量；和-光学单元，包括极化器（2）、Savart元件（40）和分析器（5），所述Savart元件包括第一双折射元件（4a）和第二双折射元件（4b），其特征在于，-在极化器（2）和Savart元件（40）之间的光路中布置第一液晶元件（3a），其被设计用于将从第一液晶元件射出的辐射（103）的第四极化轴（203）调整为，使得从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的成像模式中在没有分裂的情况下通过第一双折射元件（4a）并且从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的光谱仪模式中在第一双折射元件（4a）中被分裂成第一正常射束（500b）和第一异常射束（500a），并且-其中在Savart元件（40）后方的光路中布置分析器（5），并且-在分析器（5）后方的光路中布置探测单元（7）。
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公开(公告)号：CN104024870B
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201280053659.2
申请日：2012-09-06
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01R27/02 , G01R17/10 , G01R35/005 , H01C10/16
Abstract: 本发明涉及一种测量桥电路（100），具有第一和第二分支。在第一分支中串联有第一电阻R2(x)）和不变电阻（Rfix,1），其中在第一测量参量敏感电阻（R2(x)）和不变电阻（Rfix,1）之间布置第一截取点（104）。在第二分支中串联有第二测量参量敏感电阻（R1(x)）和可变电阻装置102）。该可变电阻装置（102）具有带不变电阻值的第一器件（Rfix,2）和具有可变电阻值的第二器件（M），其中第二器件与第一器件（Rfix,2）并联，以便改变电阻装置（102）的总电阻值。在第二测量参量敏感电阻（R1(x)）和电阻装置（102）之间布置第二截取点（106）。第一分支和第二分支并联。在第一截取点（104）和第二截取点（106）之间能布置测量仪器。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105473989A
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201480047033.X
申请日：2014-08-25
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01J5/14 , G01J5/12 , G01J2005/0077 , G01J2005/106 , G01J2005/123
Abstract: 本发明创建热传感器以及用于制造这种在相对高的信号强度的情况下具有低信噪比的热传感器的方法。为此，将热电发生器与场效应晶体管和二极管组合。在此，热传感器由于其集成的二极管以及与该二极管相关联的阻断作用适合于低成本地以及有效地构成用于将热辐射转换成电信号的成像传感器阵列。
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公开(公告)号：CN104145476A
公开(公告)日：2014-11-12
申请号：CN201380012466.7
申请日：2013-01-24
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种传感器装置（1），其具有：红外传感器（2），所述红外传感器被设计用于检测红外辐射并且输出红外图像数据（4a）；以及至少一个加速度传感器（3），所述加速度传感器被设计用于检测所述传感器装置（1）的瞬时加速度并且输出加速度数据（4b），其中如果所述传感器装置（1）的瞬时加速度超过可预先给定的阈值，那么所述红外图像数据（4a）从所述红外传感器（2）的输出被阻止。
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公开(公告)号：CN108496066B
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201680080692.2
申请日：2016-12-05
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于光谱分析和图像检测的微型光谱仪（10），包括：‑探测单元（7），用于检测光学参量；和‑光学单元，包括极化器（2）、Savart元件（40）和分析器（5），所述Savart元件包括第一双折射元件（4a）和第二双折射元件（4b），其特征在于，‑在极化器（2）和Savart元件（40）之间的光路中布置第一液晶元件（3a），其被设计用于将从第一液晶元件射出的辐射（103）的第四极化轴（203）调整为，使得从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的成像模式中在没有分裂的情况下通过第一双折射元件（4a）并且从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的光谱仪模式中在第一双折射元件（4a）中被分裂成第一正常射束（500b）和第一异常射束（500a），并且‑其中在Savart元件（40）后方的光路中布置分析器（5），并且‑在分析器（5）后方的光路中布置探测单元（7）。
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公开(公告)号：CN104145476B
公开(公告)日：2017-12-22
申请号：CN201380012466.7
申请日：2013-01-24
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种传感器装置（1），其具有：红外传感器（2），所述红外传感器被设计用于检测红外辐射并且输出红外图像数据（4a）；以及至少一个加速度传感器（3），所述加速度传感器被设计用于检测所述传感器装置（1）的瞬时加速度并且输出加速度数据（4b），其中如果所述传感器装置（1）的瞬时加速度超过可预先给定的阈值，那么所述红外图像数据（4a）从所述红外传感器（2）的输出被阻止。
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公开(公告)号：CN104024870A
公开(公告)日：2014-09-03
申请号：CN201280053659.2
申请日：2012-09-06
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01R27/02 , G01R17/10 , G01R35/005 , H01C10/16
Abstract: 本发明涉及一种测量桥电路（100），具有第一和第二分支。在第一分支中串联有第一电阻（R2(x)）和不变电阻（Rfix，1），其中在第一测量参量敏感电阻（R2(x)）和不变电阻（Rfix，1）之间布置第一截取点（104）。在第二分支中串联有第二测量参量敏感电阻（R1(x)）和可变电阻装置（102）。该可变电阻装置（102）具有带不变电阻值的第一器件（Rfix，2）和具有可变电阻值的第二器件（M），其中第二器件与第一器件（Rfix，2）并联，以便改变电阻装置（102）的总电阻值。在第二测量参量敏感电阻（R1(x)）和电阻装置（102）之间布置第二截取点（106）。第一分支和第二分支并联。在第一截取点（104）和第二截取点（106）之间能布置测量仪器。
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