用于微型光谱仪的照明单元、微型光谱仪和移动终端设备

    公开(公告)号:CN108072609B

    公开(公告)日:2022-11-25

    申请号:CN201711097343.4

    申请日:2017-11-09

    Inventor: E.鲍姆加特

    Abstract: 本发明涉及一种用于微型光谱仪(800)的照明单元(400)。照明单元(400)包括至少一个用于发出激发射束(404)的激光激发光源(402)以及至少一个被布置在激发射束(404)的光路中的荧光元件(406),所述荧光元件被构造用于在使用激发射束(404)的情况下生成用于对要借助于微型光谱仪(800)来分析的试样进行照明的照明射束(408)。在此,照明射束(408)代表与激发射束(404)相比更宽的电磁谱。

    光学元件、光谱测定的测量装置和用于光谱地分析介质的方法

    公开(公告)号:CN110018125A

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201811496943.2

    申请日:2018-12-07

    Inventor: E.鲍姆加特

    Abstract: 本发明涉及一种光学元件,该光学元件包括第一光引导元件以及第二光引导元件,其中,第一光引导元件具有第一端面,该第一端面由于尺寸设计而预先给定第一角度,来自照明单元的且可被第一光引导元件引导的射线在通过第一端面射出时具有第一角度,其中,第一角度经过如此设计,使得射线的光路径在介质中描绘出多边形,并且其中,第二光引导元件具有第二端面,该第二端面由于尺寸设计而预先给定第二角度,可被第二光引导元件引导的射线在通过第二端面进入到第二光引导元件中时具有第二角度,其中,第二角度经过如此设计,使得来自多边形的光路径的射线可被第二光引导元件容纳且可输送给探测单元。

    微型光谱仪和用于在成像模式与光谱仪模式之间切换微型光谱仪的方法

    公开(公告)号:CN108496066A

    公开(公告)日:2018-09-04

    申请号:CN201680080692.2

    申请日:2016-12-05

    Abstract: 本发明涉及一种用于光谱分析和图像检测的微型光谱仪(10),包括:-探测单元(7),用于检测光学参量;和-光学单元,包括极化器(2)、Savart元件(40)和分析器(5),所述Savart元件包括第一双折射元件(4a)和第二双折射元件(4b),其特征在于,-在极化器(2)和Savart元件(40)之间的光路中布置第一液晶元件(3a),其被设计用于将从第一液晶元件射出的辐射(103)的第四极化轴(203)调整为,使得从第一液晶元件射出的辐射(103)在微型光谱仪(10)的成像模式中在没有分裂的情况下通过第一双折射元件(4a)并且从第一液晶元件射出的辐射(103)在微型光谱仪(10)的光谱仪模式中在第一双折射元件(4a)中被分裂成第一正常射束(500b)和第一异常射束(500a),并且-其中在Savart元件(40)后方的光路中布置分析器(5),并且-在分析器(5)后方的光路中布置探测单元(7)。

    照明样品的光学照明装置、照明和分析样品的光学分析装置及其运行方法

    公开(公告)号:CN111982279A

    公开(公告)日:2020-11-24

    申请号:CN202010429154.8

    申请日:2020-05-20

    Abstract: 本发明提供一种用于照明样品(4)的光学照明装置(1),包括:激光光源(2);偏转镜(3),其能由激光光源(2)来照射且能绕着至少一个轴旋转;光学聚焦元件(FE),其布置在激光光源(2)与偏转镜(3)之间;载体(5),其具有波长转换层(6),其布置为使得激光能由偏转镜(3)偏转到波长转换层(6)上,其中载体(5)对于激光(L)和/或对于由波长转换层(6)予以波长转换的光(LK)能透过,其中激光能由激光光源(2)通过光学聚焦元件(FE)经由偏转镜(3)聚焦到波长转换层(6)上;和投影光学系统(7),借助其,予以波长转换的光(LK)能在样品(4)上被集束在投影光学系统(7)的聚焦点。

    微型光谱仪和用于在成像模式与光谱仪模式之间切换微型光谱仪的方法

    公开(公告)号:CN108496066B

    公开(公告)日:2020-08-11

    申请号:CN201680080692.2

    申请日:2016-12-05

    Abstract: 本发明涉及一种用于光谱分析和图像检测的微型光谱仪(10),包括:‑探测单元(7),用于检测光学参量;和‑光学单元,包括极化器(2)、Savart元件(40)和分析器(5),所述Savart元件包括第一双折射元件(4a)和第二双折射元件(4b),其特征在于,‑在极化器(2)和Savart元件(40)之间的光路中布置第一液晶元件(3a),其被设计用于将从第一液晶元件射出的辐射(103)的第四极化轴(203)调整为,使得从第一液晶元件射出的辐射(103)在微型光谱仪(10)的成像模式中在没有分裂的情况下通过第一双折射元件(4a)并且从第一液晶元件射出的辐射(103)在微型光谱仪(10)的光谱仪模式中在第一双折射元件(4a)中被分裂成第一正常射束(500b)和第一异常射束(500a),并且‑其中在Savart元件(40)后方的光路中布置分析器(5),并且‑在分析器(5)后方的光路中布置探测单元(7)。

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