Patent search ap:("罗伯特·博世有限公司") AND inv:"K-F.赖茵哈特" Page 1

1.

发明公开
具有至少两个用于探测电磁辐射的晶片的装置及用于制造该装置的方法无效

公开(公告)号：CN104620086A

公开(公告)日：2015-05-13

申请号：CN201380048226.2

申请日：2013-08-08

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： I.赫尔曼 , K-F.赖茵哈特 , T.皮尔克

IPC: G01J5/04 , B81C1/00 , G01J5/10 , H01L23/10 , H01L25/065 , G01J5/20

Abstract: 本发明涉及至少两个用于探测电磁辐射（FIR）的晶片（120、110；120、130）的装置，其中第一晶片（120）具有微系统（115），所述微系统被构造为传感器阵列并且所述微系统被设计用于检测电磁辐射（FIR）以及提供相应的传感器信号；并且其中第二晶片（110；130）具有集成电路(105)，所述集成电路被构造为与所述传感器阵列耦合的分析电路并且所述集成电路被设计用于，依据所提供的传感器信号探测电磁辐射（FIR）。

Patent Agency Ranking