用于探测由辐射源发射的光子的探测装置

    公开(公告)号:CN103314307B

    公开(公告)日:2016-04-13

    申请号:CN201180064645.6

    申请日:2011-12-27

    CPC classification number: G01T1/17

    Abstract: 本发明涉及一种用于探测辐射源(2)发射的光子的探测装置(6)。信号发生单元(20)在光子撞击探测装置(6)的同时生成指示探测到的光子的能量的探测信号,在光子被避免撞击探测装置(6)的同时生成基线信号,所述基线信号受到先前撞击探测装置(6)的光子的影响。基线偏移确定单元(40)根据所述基线信号来确定探测信号的基线偏移。能量确定单元(30)根据所述探测信号和所确定的基线偏移来确定所探测的光子的能量。由于探测信号的基线偏移是由在光子被避免撞击检测装置(6)的同时生成的基线信号确定的,因而能够以更高的准确度确定基线偏移,从而得到改善的能量确定。

    具有测试电路的辐射探测器组件

    公开(公告)号:CN102667526A

    公开(公告)日:2012-09-12

    申请号:CN201080058842.2

    申请日:2010-12-07

    Abstract: 一种辐射探测器组件(20)包括被配置成将辐射粒子转换成电探测脉冲的探测器阵列模块(40)以及与所述探测器阵列操作性连接的专用集成电路(42)。所述ASIC包括被配置成使从探测器阵列模块接收的电探测脉冲数字化的信号处理电路(60)和被配置成向所述信号处理电路注入测试电脉冲的测试电路(80)。所述测试电路包括被配置成测量注入到所述信号处理电路中的测试电脉冲的电流计(84)以及被配置成生成注入到所述信号处理电路中的测试电脉冲的电荷脉冲发生器(82)。通过使所述ASIC(42)与所述探测器阵列模块(40)操作性连接组装所述辐射探测器组件(20),并且在不利用辐射的情况下测试组装后的辐射探测器组件的ASIC的信号处理电路(60)。

    具有测试电路的辐射探测器组件

    公开(公告)号:CN102667526B

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN201080058842.2

    申请日:2010-12-07

    Abstract: 一种辐射探测器组件(20)包括被配置成将辐射粒子转换成电探测脉冲的探测器阵列模块(40)以及与所述探测器阵列操作性连接的专用集成电路(42)。所述ASIC包括被配置成使从探测器阵列模块接收的电探测脉冲数字化的信号处理电路(60)和被配置成向所述信号处理电路注入测试电脉冲的测试电路(80)。所述测试电路包括被配置成测量注入到所述信号处理电路中的测试电脉冲的电流计(84)以及被配置成生成注入到所述信号处理电路中的测试电脉冲的电荷脉冲发生器(82)。通过使所述ASIC(42)与所述探测器阵列模块(40)操作性连接组装所述辐射探测器组件(20),并且在不利用辐射的情况下测试组装后的辐射探测器组件的ASIC的信号处理电路(60)。

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