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公开(公告)号:CN101529274B
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN200780039419.6
申请日:2007-10-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及用于探测X射线光子,尤其是计算机断层摄影设备中的光子(32、34)的装置(10)、成像设备和方法。将光子(32、34)转换成电脉冲,并采用鉴别器(20)将其与阈值进行比较。执行这些功能的电网络(12)包括开关元件(28),所述开关元件能够改变处理信号沿其传输的电路径(22)。由电路径(22)的电状态导出用于起动开关元件(28)的触发信号(VT)。如果探测到了与光子(32、34)相关的脉冲,那么将起动开关元件(28),从而避免源自于第一光子(32)的电荷脉冲的处理受到后续的第二光子(34)的影响。
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公开(公告)号:CN102124372A
公开(公告)日:2011-07-13
申请号:CN200880108832.8
申请日:2008-09-23
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/16
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及一种用于X射线成像设备(14)的探测器(12)的处理电子器件(18),所述处理电子器件(18)包括具有至少一个计数输出(30)的脉冲计数器部分(22)以及具有强度输出(32)的积分器部分(24),其中,所述处理电子器件(18)适于以这样的方式连接到传感器(16),使得由所述脉冲计数器部分(22)、由所述积分器部分(24)或者由这两者对到达所述传感器(16)的X射线光子(58)进行处理,并且其中,所述处理电子器件(18)包括处理器(34),所述处理器(34)适于连接到所述计数输出(30)以及连接到所述强度输出(32),并且适于输出考虑了在所述计数输出(30)获取的计数信息(N)和在所述强度输出(32)获取的强度信息(I)的计数结果(K),从而使得所述计数结果(K)包含从所述脉冲计数器部分(22)获取的信息(N)以及从所述积分器部分(24)获取的信息(M)。本发明还涉及用于探测器(12)的对应探测器元件(10)、X射线成像设备(14)、用于确定来自探测器元件(10)的计数结果(K)的方法、计算机程序、数据载体以及用于X射线成像设备(14)的探测器(12)。
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公开(公告)号:CN101858983A
公开(公告)日:2010-10-13
申请号:CN201010156435.7
申请日:2010-04-06
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01T1/241
Abstract: 本发明涉及包括转换器元件(530)和布置于所述元件上的多个电极系统(ES)的辐射探测器(500),其中,每个电极系统包括连接到读出电路的主电极(511)和辅助电极(521)。特别地,通过在公共平面中延伸的平坦、平行条状物实现所述主电极和辅助电极,其中,所述条状物在所述平面之上电连接。
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公开(公告)号:CN101622551A
公开(公告)日:2010-01-06
申请号:CN200880006243.9
申请日:2008-02-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01T1/17 , G01T1/2985
Abstract: 本发明涉及对X射线光子(12、14),特别是计算机断层成像中的光子进行计数的装置(10)。将来自第一光子感应元件(20)的事件记录在第一积分器(24)中,并将来自第二光子感应元件(22)的事件记录在第二积分器(26)中。提供第一求和单元(28),用于对来自第一和第二积分器(24、26)的值以及结果信号进行求和,以获得总和,其中从设有总和的反馈设备(30)中获得所述结果信号。有可能降低撞击光子(12、14)生成的总信息密度,使得在输出端(34)呈现具有降低信息密度(或降低数据速率)的数据流。本发明还涉及基于对X射线光子(12、14)进行探测的、特别是用于医疗用途的成像设备(16),以及涉及对X射线光子(12、14),特别是计算机断层成像中的光子进行计数的方法。
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公开(公告)号:CN101779144B
公开(公告)日:2013-09-04
申请号:CN200880101761.9
申请日:2008-07-24
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及一种用于在成像装置(16)中、尤其是在计算机断层摄影机中从撞击X射线光子(12、14)生成可计数脉冲(30)的设备(10),所述设备(10)包括适于将由撞击光子(12、14)生成的电荷脉冲(20)转换成电信号(22)的前置放大元件(18),和具有反馈回路(28)并适于将所述电信号(22)转换成电脉冲(30)的整形元件(26),其中,延迟电路(38)连接至所述反馈回路(28),从而使得延长了所述反馈回路(28)收集所述电信号(22)的电荷的时间,以便提高在所述整形元件(26)的输出(56)处的所述电脉冲(30)的幅度。本发明还涉及对应的成像装置(16)和对应的方法。
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公开(公告)号:CN101558325B
公开(公告)日:2012-07-18
申请号:CN200780045780.X
申请日:2007-12-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17 , G01T1/2928
Abstract: 本发明涉及一种用于对X射线光子(12,14)进行计数的装置(10)。该装置(10)包括适于将光子(12,14)转换成电荷脉冲的传感器(16)、适于将电荷脉冲(51)转换成电脉冲(53)的处理元件(18)以及适于将电脉冲(53)与第一阈值(TH1)进行比较并且在超过第一阈值(TH1)时输出事件(55)的第一鉴别器(20)。第一计数器(22)对这些事件(55)进行计数,除非第一门控元件(24)禁止计数。当第一鉴别器(20)输出事件(55)时启用第一门控元件(24),并且当通过测量或通过关于在处理元件(18)中处理光子(12,14)所需的时间的知识发现对光子(12,14)的处理被完成或即将完成时停用第一门控元件。通过启用和停用第一计数器(22),可以解决堆积事件,即多个电脉冲(53)的堆积。本发明还涉及相应的成像设备和相应的方法。
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公开(公告)号:CN101557762B
公开(公告)日:2012-06-27
申请号:CN200780046161.2
申请日:2007-12-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
Abstract: 本发明涉及一种X射线成像装置(100),尤其是一种能谱CT扫描器,其包括用于生成具有在观测周期(T)内连续变化的能谱(P(E,t))的X辐射的X射线源(10)。在优选实施例中,辐射(X)根据能量相关的衰减系数μ(E,r)在对象(1)内衰减,通过探测器(20,30)的传感器单元(22)测量透射的辐射,并对所得到的测量信号(i(t))进行采样和A/D转换。优选通过过采样A/D转换器,例如,∑Δ-ADC完成这一操作。以高频对驱动所述X射线源的管电压(U(t))采样。在评价系统(50)中,能够使这些采样的测量值与对应的有效能谱(Φ(E))相关,以确定能量相关的衰减系数μ(E,r)。
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公开(公告)号:CN102209912A
公开(公告)日:2011-10-05
申请号:CN200980144530.0
申请日:2009-11-09
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/29
CPC classification number: G01T1/249 , G01T1/24 , G01T1/2928
Abstract: 本发明涉及一种用于辐射探测器、具体用于谱CT扫描器的转换器元件(100)。所述转换器元件(100)包括至少两个转换元(131),其至少部分由中间的分隔壁(135)彼此分隔,所述分隔壁影响入射辐射(X)生成的电信号的扩展。所述转换元(131)具体可以包括CdTe和/或CdZnTe晶体。优选通过例如在预先形成的分隔壁之间进行气相沉积来生长所述晶体。
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公开(公告)号:CN101893718A
公开(公告)日:2010-11-24
申请号:CN201010113544.0
申请日:2010-02-03
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: H01L27/1446 , H01L27/14603 , H01L27/1462 , H01L31/18
Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器(100)和一种用于生产这样的探测器的方法,其中所述探测器包括闪烁体元件(110、110’)和光电二极管阵列(PDA)的堆叠体(S)。PDA(120)连同电导线(123)延伸进入填充闪烁体元件(110、110’)横向的边界体积(BV)的刚性体中,其中所述导线终止在所述边界体积(BV)的接触表面(CS)中。此外,再分配层(160)设置在接触表面(CS)上,其中再分配层(160)的电线路与PDA的导线接触。
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公开(公告)号:CN101529274A
公开(公告)日:2009-09-09
申请号:CN200780039419.6
申请日:2007-10-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及用于探测X射线光子,尤其是计算机断层摄影设备中的光子(32、34)的装置(10)、成像设备和方法。将光子(32、34)转换成电脉冲,并采用鉴别器(20)将其与阈值进行比较。执行这些功能的电网络(12)包括开关元件(28),所述开关元件能够改变处理信号沿其传输的电路径(22)。由电路径(22)的电状态导出用于起动开关元件(28)的触发信号(VT)。如果探测到了与光子(32、34)相关的脉冲,那么将起动开关元件(28),从而避免源自于第一光子(32)的电荷脉冲的处理受到后续的第二光子(34)的影响。
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