用于探测X射线辐射的装置、成像设备和方法

    公开(公告)号:CN101529274B

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN200780039419.6

    申请日:2007-10-22

    CPC classification number: G01T1/17

    Abstract: 本发明涉及用于探测X射线光子,尤其是计算机断层摄影设备中的光子(32、34)的装置(10)、成像设备和方法。将光子(32、34)转换成电脉冲,并采用鉴别器(20)将其与阈值进行比较。执行这些功能的电网络(12)包括开关元件(28),所述开关元件能够改变处理信号沿其传输的电路径(22)。由电路径(22)的电状态导出用于起动开关元件(28)的触发信号(VT)。如果探测到了与光子(32、34)相关的脉冲,那么将起动开关元件(28),从而避免源自于第一光子(32)的电荷脉冲的处理受到后续的第二光子(34)的影响。

    用于确定计数结果的处理电子器件和方法以及用于X射线成像设备的探测器

    公开(公告)号:CN102124372A

    公开(公告)日:2011-07-13

    申请号:CN200880108832.8

    申请日:2008-09-23

    CPC classification number: G01T1/17

    Abstract: 本发明涉及一种用于X射线成像设备(14)的探测器(12)的处理电子器件(18),所述处理电子器件(18)包括具有至少一个计数输出(30)的脉冲计数器部分(22)以及具有强度输出(32)的积分器部分(24),其中,所述处理电子器件(18)适于以这样的方式连接到传感器(16),使得由所述脉冲计数器部分(22)、由所述积分器部分(24)或者由这两者对到达所述传感器(16)的X射线光子(58)进行处理,并且其中,所述处理电子器件(18)包括处理器(34),所述处理器(34)适于连接到所述计数输出(30)以及连接到所述强度输出(32),并且适于输出考虑了在所述计数输出(30)获取的计数信息(N)和在所述强度输出(32)获取的强度信息(I)的计数结果(K),从而使得所述计数结果(K)包含从所述脉冲计数器部分(22)获取的信息(N)以及从所述积分器部分(24)获取的信息(M)。本发明还涉及用于探测器(12)的对应探测器元件(10)、X射线成像设备(14)、用于确定来自探测器元件(10)的计数结果(K)的方法、计算机程序、数据载体以及用于X射线成像设备(14)的探测器(12)。

    对X射线光子进行计数的装置、成像设备和方法

    公开(公告)号:CN101622551A

    公开(公告)日:2010-01-06

    申请号:CN200880006243.9

    申请日:2008-02-22

    CPC classification number: G01T1/17 G01T1/2985

    Abstract: 本发明涉及对X射线光子(12、14),特别是计算机断层成像中的光子进行计数的装置(10)。将来自第一光子感应元件(20)的事件记录在第一积分器(24)中,并将来自第二光子感应元件(22)的事件记录在第二积分器(26)中。提供第一求和单元(28),用于对来自第一和第二积分器(24、26)的值以及结果信号进行求和,以获得总和,其中从设有总和的反馈设备(30)中获得所述结果信号。有可能降低撞击光子(12、14)生成的总信息密度,使得在输出端(34)呈现具有降低信息密度(或降低数据速率)的数据流。本发明还涉及基于对X射线光子(12、14)进行探测的、特别是用于医疗用途的成像设备(16),以及涉及对X射线光子(12、14),特别是计算机断层成像中的光子进行计数的方法。

    用于对X射线光子进行计数的装置、成像设备和方法

    公开(公告)号:CN101558325B

    公开(公告)日:2012-07-18

    申请号:CN200780045780.X

    申请日:2007-12-11

    CPC classification number: G01T1/17 G01T1/2928

    Abstract: 本发明涉及一种用于对X射线光子(12,14)进行计数的装置(10)。该装置(10)包括适于将光子(12,14)转换成电荷脉冲的传感器(16)、适于将电荷脉冲(51)转换成电脉冲(53)的处理元件(18)以及适于将电脉冲(53)与第一阈值(TH1)进行比较并且在超过第一阈值(TH1)时输出事件(55)的第一鉴别器(20)。第一计数器(22)对这些事件(55)进行计数,除非第一门控元件(24)禁止计数。当第一鉴别器(20)输出事件(55)时启用第一门控元件(24),并且当通过测量或通过关于在处理元件(18)中处理光子(12,14)所需的时间的知识发现对光子(12,14)的处理被完成或即将完成时停用第一门控元件。通过启用和停用第一计数器(22),可以解决堆积事件,即多个电脉冲(53)的堆积。本发明还涉及相应的成像设备和相应的方法。

    能谱分辨的X射线成像装置

    公开(公告)号:CN101557762B

    公开(公告)日:2012-06-27

    申请号:CN200780046161.2

    申请日:2007-12-11

    CPC classification number: A61B6/405 A61B6/032

    Abstract: 本发明涉及一种X射线成像装置(100),尤其是一种能谱CT扫描器,其包括用于生成具有在观测周期(T)内连续变化的能谱(P(E,t))的X辐射的X射线源(10)。在优选实施例中,辐射(X)根据能量相关的衰减系数μ(E,r)在对象(1)内衰减,通过探测器(20,30)的传感器单元(22)测量透射的辐射,并对所得到的测量信号(i(t))进行采样和A/D转换。优选通过过采样A/D转换器,例如,∑Δ-ADC完成这一操作。以高频对驱动所述X射线源的管电压(U(t))采样。在评价系统(50)中,能够使这些采样的测量值与对应的有效能谱(Φ(E))相关,以确定能量相关的衰减系数μ(E,r)。

    用于探测X射线辐射的装置、成像设备和方法

    公开(公告)号:CN101529274A

    公开(公告)日:2009-09-09

    申请号:CN200780039419.6

    申请日:2007-10-22

    CPC classification number: G01T1/17

    Abstract: 本发明涉及用于探测X射线光子,尤其是计算机断层摄影设备中的光子(32、34)的装置(10)、成像设备和方法。将光子(32、34)转换成电脉冲,并采用鉴别器(20)将其与阈值进行比较。执行这些功能的电网络(12)包括开关元件(28),所述开关元件能够改变处理信号沿其传输的电路径(22)。由电路径(22)的电状态导出用于起动开关元件(28)的触发信号(VT)。如果探测到了与光子(32、34)相关的脉冲,那么将起动开关元件(28),从而避免源自于第一光子(32)的电荷脉冲的处理受到后续的第二光子(34)的影响。

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