基于直接X射线转换用于积分探测器的泄漏电流和残差信号补偿

    公开(公告)号:CN101518056B

    公开(公告)日:2012-11-14

    申请号:CN200780035472.9

    申请日:2007-09-17

    CPC classification number: H04N5/35518 H04N5/32 H04N5/3597 H04N5/361

    Abstract: 本申请描述了一种X射线检测器,其使用与CMOS像素电路结合的直接X射线转换(DiCo)。DiCo材料必须在高电压下使用以实现高场强。这使得传感器易于产生泄漏电流,其伪造所测量的充电结果。此外,大部分直接转换材料遭受引起X射线图像序列中的时间伪差(鬼像)的大量残差信号。描述了一种电路,其感测传感器的暗电流,该暗电流包括源自传感器被X射线(再次)照射之前的先前照射的残差信号,并且以在照射期间仍然可以消耗暗电流(泄漏电流和残差信号)的方式冻结感测阶段末期的相关电路参数。因此,可以在不具有泄漏电流或残差信号所携带的电荷的情况下对由于X射线照射而在传感器中产生的电荷脉冲进行积分,从而获得对所沉积的X射线能量的更准确估计。

    基于直接X射线转换用于积分探测器的泄漏电流和残差信号补偿

    公开(公告)号:CN101518056A

    公开(公告)日:2009-08-26

    申请号:CN200780035472.9

    申请日:2007-09-17

    CPC classification number: H04N5/35518 H04N5/32 H04N5/3597 H04N5/361

    Abstract: 本申请描述了一种X射线检测器,其使用与CMOS像素电路结合的直接X射线转换(DiCo)。DiCo材料必须在高电压下使用以实现高场强。这使得传感器易于产生泄漏电流,其伪造所测量的充电结果。此外,大部分直接转换材料遭受引起X射线图像序列中的时间伪差(鬼像)的大量残差信号。描述了一种电路,其感测传感器的暗电流,该暗电流包括源自传感器被X射线(再次)照射之前的先前照射的残差信号,并且以在照射期间仍然可以消耗暗电流(泄漏电流和残差信号)的方式冻结感测阶段末期的相关电路参数。因此,可以在不具有泄漏电流或残差信号所携带的电荷的情况下对由于X射线照射而在传感器中产生的电荷脉冲进行积分,从而获得对所沉积的X射线能量的更准确估计。

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