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公开(公告)号:CN103097913B
公开(公告)日:2015-09-09
申请号:CN201180043788.9
申请日:2011-09-07
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01T1/24 , G01T1/241 , G01T1/2928 , H01L31/022408 , H01L31/035272
Abstract: 本发明涉及辐射探测器(100)和用于(例如X或γ)辐射探测的相关联的方法。所述探测器(100)包括转换器元件(110),在所述转换器元件(110)中将入射光子(X)转换为电信号,并且所述探测器包括阳极(130)的阵列,所述阳极(130)的阵列用于在所述转换器元件(110)中生成电场(E)。至少两个阳极与两个操纵电极(140)相关联,能够由控制单元(150)向所述操纵电极施加不同电势。优选地,由一个操纵电极围绕每个单个阳极或每小组阳极。所述操纵电极(140)的电势能够被设定为当在所述阳极和阴极(120)间施加工作电压时在这些电极中感生的电势的函数。此外,可以提供栅格电极(160),所述栅格电极至少部分环绕阳极(130)及他们的操纵电极(140)。
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公开(公告)号:CN102124372A
公开(公告)日:2011-07-13
申请号:CN200880108832.8
申请日:2008-09-23
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/16
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及一种用于X射线成像设备(14)的探测器(12)的处理电子器件(18),所述处理电子器件(18)包括具有至少一个计数输出(30)的脉冲计数器部分(22)以及具有强度输出(32)的积分器部分(24),其中,所述处理电子器件(18)适于以这样的方式连接到传感器(16),使得由所述脉冲计数器部分(22)、由所述积分器部分(24)或者由这两者对到达所述传感器(16)的X射线光子(58)进行处理,并且其中,所述处理电子器件(18)包括处理器(34),所述处理器(34)适于连接到所述计数输出(30)以及连接到所述强度输出(32),并且适于输出考虑了在所述计数输出(30)获取的计数信息(N)和在所述强度输出(32)获取的强度信息(I)的计数结果(K),从而使得所述计数结果(K)包含从所述脉冲计数器部分(22)获取的信息(N)以及从所述积分器部分(24)获取的信息(M)。本发明还涉及用于探测器(12)的对应探测器元件(10)、X射线成像设备(14)、用于确定来自探测器元件(10)的计数结果(K)的方法、计算机程序、数据载体以及用于X射线成像设备(14)的探测器(12)。
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公开(公告)号:CN101622551A
公开(公告)日:2010-01-06
申请号:CN200880006243.9
申请日:2008-02-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01T1/17 , G01T1/2985
Abstract: 本发明涉及对X射线光子(12、14),特别是计算机断层成像中的光子进行计数的装置(10)。将来自第一光子感应元件(20)的事件记录在第一积分器(24)中,并将来自第二光子感应元件(22)的事件记录在第二积分器(26)中。提供第一求和单元(28),用于对来自第一和第二积分器(24、26)的值以及结果信号进行求和,以获得总和,其中从设有总和的反馈设备(30)中获得所述结果信号。有可能降低撞击光子(12、14)生成的总信息密度,使得在输出端(34)呈现具有降低信息密度(或降低数据速率)的数据流。本发明还涉及基于对X射线光子(12、14)进行探测的、特别是用于医疗用途的成像设备(16),以及涉及对X射线光子(12、14),特别是计算机断层成像中的光子进行计数的方法。
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公开(公告)号:CN101893718B
公开(公告)日:2016-04-27
申请号:CN201010113544.0
申请日:2010-02-03
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: H01L27/1446 , H01L27/14603 , H01L27/1462 , H01L31/18
Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器(100)和一种用于生产这样的探测器的方法,其中所述探测器包括闪烁体元件(110、110’)和光电二极管阵列(PDA)的堆叠体(S)。PDA(120)连同电导线(123)延伸进入填充闪烁体元件(110、110’)横向的边界体积(BV)的刚性体中,其中所述导线终止在所述边界体积(BV)的接触表面(CS)中。此外,再分配层(160)设置在接触表面(CS)上,其中再分配层(160)的电线路与PDA的导线接触。
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公开(公告)号:CN102216808B
公开(公告)日:2014-04-02
申请号:CN200980145151.3
申请日:2009-11-09
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01T1/249 , G01T1/247 , G01T1/2928
Abstract: 本发明涉及一种辐射检测器(100),其包括转换器元件(113),所述转换器元件具有用于对入射辐射(X)生成的电信号进行采样的第一电极(121)的阵列(120)。利用连接电路(130),至少两个第一电极(121)能够根据给定的连接模式(CP1)选择性地耦合至公共读出单元(141)。从而能够使沿入射辐射(X)的路径的有效像素尺寸适应于电信号的分布,电信号的分布通常由入射辐射的光谱组成确定。
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公开(公告)号:CN102144176B
公开(公告)日:2013-11-06
申请号:CN200980134629.2
申请日:2009-09-01
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/29
CPC classification number: G01T1/2928
Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器和用于生产其的方法,其中堆叠一系列转换片(110)和互连层(120),互连层延伸到转换片(110)侧面的边界体积(BV)中。通过用底填材料填充边界体积(BV)中的空隙并通过边界体积切割,产生了互连层(120)的电气引线(123)自由伸展的接触表面(CS)。为了实现良好的接触,优选在接触表面中,例如通过向引线焊接导线(132)为所述引线(123)提供扩大区域。
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公开(公告)号:CN102667526A
公开(公告)日:2012-09-12
申请号:CN201080058842.2
申请日:2010-12-07
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01T1/243 , G01T1/247 , G01T7/005 , H01J49/0009 , H04N5/32 , H04N5/378 , H04N17/002
Abstract: 一种辐射探测器组件(20)包括被配置成将辐射粒子转换成电探测脉冲的探测器阵列模块(40)以及与所述探测器阵列操作性连接的专用集成电路(42)。所述ASIC包括被配置成使从探测器阵列模块接收的电探测脉冲数字化的信号处理电路(60)和被配置成向所述信号处理电路注入测试电脉冲的测试电路(80)。所述测试电路包括被配置成测量注入到所述信号处理电路中的测试电脉冲的电流计(84)以及被配置成生成注入到所述信号处理电路中的测试电脉冲的电荷脉冲发生器(82)。通过使所述ASIC(42)与所述探测器阵列模块(40)操作性连接组装所述辐射探测器组件(20),并且在不利用辐射的情况下测试组装后的辐射探测器组件的ASIC的信号处理电路(60)。
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公开(公告)号:CN102144176A
公开(公告)日:2011-08-03
申请号:CN200980134629.2
申请日:2009-09-01
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/29
CPC classification number: G01T1/2928
Abstract: 本发明涉及一种辐射探测器和用于生产其的方法,其中堆叠一系列转换片(110)和互连层(120),互连层延伸到转换片(110)侧面的边界体积(BV)中。通过用底填材料填充边界体积(BV)中的空隙并通过边界体积切割,产生了互连层(120)的电气引线(123)自由伸展的接触表面(CS)。为了实现良好的接触,优选在接触表面中,例如通过向引线焊接导线(132)为所述引线(123)提供扩大区域。
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公开(公告)号:CN101978289A
公开(公告)日:2011-02-16
申请号:CN200980109788.7
申请日:2009-03-12
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01T1/2018 , G01T1/17
Abstract: 本发明涉及一种尤其适用于在CT扫描器中的能量分辨单X射线光子探测的辐射探测器(100)。在优选实施例中,探测器(100)包括闪烁体元件(Sk)的阵列,在闪烁体元件中将入射的X射线光子(X)转换成光学光子的脉冲猝发(hn)。与闪烁体元件(Sk)相关联的像素(Pk)确定在预定采集时段之内像素接收的光学光子数量。然后可以对这些数量进行数字处理以探测单X射线光子(X)并确定它们的能量。尤其可以由连通用于数据处理的关联数字电子电路的雪崩光电二极管来实现像素。
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公开(公告)号:CN101779144A
公开(公告)日:2010-07-14
申请号:CN200880101761.9
申请日:2008-07-24
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明涉及一种用于在成像装置(16)中、尤其是在计算机断层摄影机中从撞击X射线光子(12、14)生成可计数脉冲(30)的设备(10),所述设备(10)包括适于将由撞击光子(12、14)生成的电荷脉冲(20)转换成电信号(22)的前置放大元件(18),和具有反馈回路(28)并适于将所述电信号(22)转换成电脉冲(30)的整形元件(26),其中,延迟电路(38)连接至所述反馈回路(28),从而使得延长了所述反馈回路(28)收集所述电信号(22)的电荷的时间,以便提高在所述整形元件(26)的输出(56)处的所述电脉冲(30)的幅度。本发明还涉及对应的成像装置(16)和对应的方法。
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