具有操纵电极的辐射探测器

    公开(公告)号:CN103097913B

    公开(公告)日:2015-09-09

    申请号:CN201180043788.9

    申请日:2011-09-07

    Abstract: 本发明涉及辐射探测器(100)和用于(例如X或γ)辐射探测的相关联的方法。所述探测器(100)包括转换器元件(110),在所述转换器元件(110)中将入射光子(X)转换为电信号,并且所述探测器包括阳极(130)的阵列,所述阳极(130)的阵列用于在所述转换器元件(110)中生成电场(E)。至少两个阳极与两个操纵电极(140)相关联,能够由控制单元(150)向所述操纵电极施加不同电势。优选地,由一个操纵电极围绕每个单个阳极或每小组阳极。所述操纵电极(140)的电势能够被设定为当在所述阳极和阴极(120)间施加工作电压时在这些电极中感生的电势的函数。此外,可以提供栅格电极(160),所述栅格电极至少部分环绕阳极(130)及他们的操纵电极(140)。

    用于确定计数结果的处理电子器件和方法以及用于X射线成像设备的探测器

    公开(公告)号:CN102124372A

    公开(公告)日:2011-07-13

    申请号:CN200880108832.8

    申请日:2008-09-23

    CPC classification number: G01T1/17

    Abstract: 本发明涉及一种用于X射线成像设备(14)的探测器(12)的处理电子器件(18),所述处理电子器件(18)包括具有至少一个计数输出(30)的脉冲计数器部分(22)以及具有强度输出(32)的积分器部分(24),其中,所述处理电子器件(18)适于以这样的方式连接到传感器(16),使得由所述脉冲计数器部分(22)、由所述积分器部分(24)或者由这两者对到达所述传感器(16)的X射线光子(58)进行处理,并且其中,所述处理电子器件(18)包括处理器(34),所述处理器(34)适于连接到所述计数输出(30)以及连接到所述强度输出(32),并且适于输出考虑了在所述计数输出(30)获取的计数信息(N)和在所述强度输出(32)获取的强度信息(I)的计数结果(K),从而使得所述计数结果(K)包含从所述脉冲计数器部分(22)获取的信息(N)以及从所述积分器部分(24)获取的信息(M)。本发明还涉及用于探测器(12)的对应探测器元件(10)、X射线成像设备(14)、用于确定来自探测器元件(10)的计数结果(K)的方法、计算机程序、数据载体以及用于X射线成像设备(14)的探测器(12)。

    对X射线光子进行计数的装置、成像设备和方法

    公开(公告)号:CN101622551A

    公开(公告)日:2010-01-06

    申请号:CN200880006243.9

    申请日:2008-02-22

    CPC classification number: G01T1/17 G01T1/2985

    Abstract: 本发明涉及对X射线光子(12、14),特别是计算机断层成像中的光子进行计数的装置(10)。将来自第一光子感应元件(20)的事件记录在第一积分器(24)中,并将来自第二光子感应元件(22)的事件记录在第二积分器(26)中。提供第一求和单元(28),用于对来自第一和第二积分器(24、26)的值以及结果信号进行求和,以获得总和,其中从设有总和的反馈设备(30)中获得所述结果信号。有可能降低撞击光子(12、14)生成的总信息密度,使得在输出端(34)呈现具有降低信息密度(或降低数据速率)的数据流。本发明还涉及基于对X射线光子(12、14)进行探测的、特别是用于医疗用途的成像设备(16),以及涉及对X射线光子(12、14),特别是计算机断层成像中的光子进行计数的方法。

    具有测试电路的辐射探测器组件

    公开(公告)号:CN102667526A

    公开(公告)日:2012-09-12

    申请号:CN201080058842.2

    申请日:2010-12-07

    Abstract: 一种辐射探测器组件(20)包括被配置成将辐射粒子转换成电探测脉冲的探测器阵列模块(40)以及与所述探测器阵列操作性连接的专用集成电路(42)。所述ASIC包括被配置成使从探测器阵列模块接收的电探测脉冲数字化的信号处理电路(60)和被配置成向所述信号处理电路注入测试电脉冲的测试电路(80)。所述测试电路包括被配置成测量注入到所述信号处理电路中的测试电脉冲的电流计(84)以及被配置成生成注入到所述信号处理电路中的测试电脉冲的电荷脉冲发生器(82)。通过使所述ASIC(42)与所述探测器阵列模块(40)操作性连接组装所述辐射探测器组件(20),并且在不利用辐射的情况下测试组装后的辐射探测器组件的ASIC的信号处理电路(60)。

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