荧光测定装置的校正用基准体

    公开(公告)号:CN109154570A

    公开(公告)日:2019-01-04

    申请号:CN201780030146.2

    申请日:2017-02-23

    Abstract: 基准体(1)包括:支撑体(10),其设置有第1光通过部(18)及第2光通过部(19)、以及第1收纳空间(14)及第2收纳空间(15);第1荧光体(20),其收纳于第1收纳空间(14),在第1波长区域的第1激发光经由第1光通过部(18)被照射时发出第2波长区域的第1荧光;第2荧光体(30),其收纳于第2收纳空间(15),在第1波长区域的第2激发光经由第2光通过部(19)被照射时发出第2波长区域的第2荧光;以及遮光部(13),其配置于第1收纳空间(14)与第2收纳空间(15)之间。在入射至第1光通过部(18)的第1激发光的光量与入射至第2光通过部(19)的第2激发光的光量相互相等的情况下,自第1光通过部(18)出射的第1荧光的光量与自第2光通过部(19)出射的第2荧光的光量互不相同。

Patent Agency Ranking